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电动汽车驱动 SiC器件 多电平 ★ 5.0

一种用于中压电力牵引驱动的100 kHz内并联Si+SiC混合多电平变换器的设计与验证

Design and Validation of a 100 kHz Inner-Paralleled Si+SiC Hybrid Multilevel Converter for Medium-Voltage Electric Traction Drives

Feng Guo · Fei Diao · Zhuxuan Ma · Pengyu Lai 等6人 · IEEE Transactions on Industry Applications · 2025年8月

本文针对 3 kV 直流母线的电力牵引驱动系统,设计并开发了一种新型的带有内部并联(IP)半桥(HB)的中压(MV)混合式多电平逆变器。在该提出的混合式拓扑结构中,每相由一个有源中性点钳位(ANPC)三电平(3 - L)单元和一个 IP 单元组成,其中 ANPC 三电平单元采用工作在基频的 3.3 kV 硅(Si)绝缘栅双极型晶体管(IGBT),而 IP 单元采用定制的 3.3 kV H 桥碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET),工作频率为 50 kHz。通过线...

解读: 该100kHz Si+SiC混合多电平技术对阳光电源多条产品线具有重要应用价值。在新能源汽车业务中,可直接应用于电机驱动系统,高频运行特性能显著提升功率密度,降低车载系统体积重量。对于ST系列储能变流器和SG光伏逆变器,内并联混合拓扑可优化现有三电平方案,通过Si/SiC器件协同工作实现开关损耗与成...

电动汽车驱动 SiC器件 功率模块 ★ 5.0

用于15 kV SiC MOSFET功率模块电场缓解的高介电常数与高介电强度聚合物涂层

High Dielectric Constant and High Dielectric Strength Polymer Coating for Electric Field Mitigation in 15 kV SiC MOSFET Power Modules

Tianshu Yuan · Jia Lixin · Yuan Xi · Dingkun Ma 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年9月

中压(MV)碳化硅(SiC)功率器件正在兴起,有望应用于电网、高压脉冲电源等领域。然而,功率模块的高绝缘电压与高功率密度之间的矛盾需要新型绝缘材料来缓解。与传统使用复合材料提高介电常数的方法不同,本文介绍了一种具有高介电常数和高介电强度的单一均质材料聚合物涂层,并证明该涂层可降低模块内硅胶的最大电场。对该涂层的电气性能进行了测量,结果表明与常见聚合物材料相比,它具有高介电常数和高介电强度。电场模拟显示,该涂层可使硅胶中的最大电场强度降低57%。工艺稳定后,涂层厚度可保证约为80μm,可沿直接键合...

解读: 从阳光电源中压产品线的战略视角来看,这项针对15kV SiC MOSFET功率模块的高介电聚合物涂层技术具有显著的应用价值。当前我们在1500V光伏逆变器和中压储能变流器领域正面临功率密度提升与绝缘可靠性的矛盾,该技术提供了一个切实可行的解决路径。 技术核心价值体现在三个维度:首先,单一均质材料涂...

功率器件技术 SiC器件 ★ 4.0

第三象限工作条件下并联SiC MOSFET的浪涌电流分布

Surge Current Distribution in Paralleled SiC MOSFETs Under Third-Quadrant Operation

作者未知 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年1月

在各种应用中,需要碳化硅(SiC)金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)在第一和第三象限工作时具有并联浪涌电流能力。在第三象限工作期间,并联SiC MOSFET中的浪涌电流分布需要进一步研究。因此,本文建立了浪涌电流范围内不同栅极偏置下SiC MOSFET的源 - 漏电阻模型,揭示了浪涌电流条件下MOS沟道路径和体二极管路径之间的电流“竞争机制”。然后研究了器件参数差异对并联SiC MOSFET中浪涌电流分布的影响。研究发现,体二极管参数的差异在不同栅极偏置下对浪涌电流分布有显著影响,而M...

解读: 从阳光电源光伏逆变器和储能系统的核心应用场景来看,这项关于并联SiC MOSFET第三象限浪涌电流分布的研究具有重要的工程价值。在我们的大功率逆变器和双向储能变流器中,SiC MOSFET并联使用已成为提升功率密度和效率的关键技术路径,而第三象限运行(反向导通)正是这些设备在能量回馈、制动工况和电网...

储能系统技术 储能系统 储能变流器PCS 宽禁带半导体 ★ 5.0

电动汽车充电系统中宽禁带器件维也纳整流器的可靠性测试

Reliability Test on Vienna Rectifier for Wide Bandgap Devices in EV Charging Systems

Bharaneedharan Balasundaram · P. Suresh · Parvathy Rajendran · It Ee Lee 等5人 · IEEE Access · 2025年1月

本研究考察维也纳整流器配置中几种电子元件的可靠性,这是功率转换系统的关键拓扑。由于当今电力电子对效率、功率密度和运行可靠性要求更高,元件选择越来越重要。研究包括极端可靠性测试如温度循环、电气过载和高频长时间运行。GaN MOSFET在多方面优于Si和SiC MOSFET,如降低导通和开关损耗、更好热管理和随时间更一致的性能。虽然GaN MOSFET总体和特别在高频高温下性能更好,SiC MOSFET相比传统Si器件显示一些改进。电容、二极管、MOSFET和电感在不同应力条件下测试可靠性。二极管和...

解读: 该宽禁带器件可靠性研究对阳光电源充电桩产品具有核心价值。阳光在电动汽车充电领域布局快充桩和充电站,GaN和SiC器件是关键技术。该维也纳整流器可靠性测试结果验证了阳光SiC/GaN器件应用策略的正确性。阳光可优化充电模块设计,采用GaN器件提升高频性能和功率密度,降低热应力和提升系统可靠性,支持80...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 多物理场耦合 ★ 4.0

SiC MOSFET中动态开关应力的解耦效应

Decoupling Effects for Dynamic Switching Stress in SiC MOSFETs

Alexis A. Gómez · Juan R. García-Meré · Alberto Rodríguez · Juan Rodríguez 等6人 · IEEE Transactions on Industry Applications · 2025年1月

本研究依据行业准则,对经过各种动态测试的碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)的阈值电压(<italic xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink">V<sub>th</sub></i>)退化情况进行了对比分析。为确保对比的公平性,采用了定制的实验装置。观察到的退化结果显示,其会因是否施加高电压、驱动条件或开关事件的发生情况而有...

解读: 该SiC MOSFET动态应力解耦研究对阳光电源ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器的功率器件设计具有重要指导意义。研究揭示的高频开关下热-电场耦合导致Vth退化机制,可直接应用于PowerTitan大型储能系统中SiC模块的热管理优化和开关频率设计。通过解耦分析电场应力与热应力的独立影响,可改进...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 IGBT ★ 4.0

一种用于硅/碳化硅混合开关的主动串扰抑制门极驱动电路

An Active Crosstalk Suppression Gate Driver Circuit for Si/SiC Hybrid Switch

作者未知 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年1月

由并联的硅(Si)绝缘栅双极型晶体管(IGBT)和碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)组成的混合开关(HyS),近年来因其高效率和低成本而受到越来越多的关注。然而,由于器件特性的独特表现和差异,HyS 在运行过程中产生的串扰会显著降低系统可靠性。为解决串扰问题,本文分析了 HyS 中的串扰效应,并建立了 HyS 的串扰模型。设计了一种栅极驱动电路来抑制 HyS 中的串扰,并详细阐述了其工作原理。该驱动电路简化了硬件设计,同时有效解决了 HyS 中的串扰问题。L...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项Si/SiC混合开关的有源串扰抑制技术具有重要的战略价值。当前光伏逆变器和储能变流器正面临效率提升与成本控制的双重压力,纯SiC方案虽然性能优异但成本居高不下,而Si IGBT与SiC MOSFET并联的混合开关方案恰好提供了一条兼顾性能与经济性的技术路径。 该论文针...

电动汽车驱动 SiC器件 ★ 5.0

碳化硅功率MOSFET中激光诱导单粒子效应的研究

Study of Laser-Induced Single Event Effects in SiC Power MOSFETs

Haoming Wang · Chao Peng · Zhifeng Lei · Zhangang Zhang 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年4月

本文通过激光辐照研究了碳化硅(SiC)功率金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)的单粒子效应(SEE)。在脉冲激光双光子吸收(TPA)条件下,观察到了单粒子烧毁(SEB)和漏电流增加现象。获得了对应不同偏置电压的单粒子效应能量阈值。提出了一种改进的等效线性能量转移(ELET)模型,用于关联碳化硅MOSFET中激光诱导的单粒子效应和重离子诱导的单粒子效应。实验结果表明,当激光能量超过42纳焦时,改进模型得到的等效线性能量转移值与重离子实验得到的线性能量转移(LET)值之间的误差低...

解读: 作为全球领先的新能源设备供应商,阳光电源在光伏逆变器和储能系统中大量采用SiC功率MOSFET以提升系统效率和功率密度。该论文针对SiC器件单粒子效应的激光测试方法研究,对我们产品的可靠性验证具有重要战略意义。 从业务应用角度看,单粒子效应是影响功率器件长期可靠性的关键因素,尤其在高海拔光伏电站、...

电动汽车驱动 SiC器件 深度学习 ★ 4.0

基于人工神经网络的封装SiC MOSFET短路耐受时间筛选方法

Artificial Neural Network-Based Screening Method for Short-Circuit Withstand Time in Packaged SiC MOSFETs to Enhance Device Consistency

Hengyu Yu · Monikuntala Bhattacharya · Michael Jin · Limeng Shi 等6人 · IEEE Electron Device Letters · 2025年4月

开发一种有效的方法以提高碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)的短路耐受时间(SCWT)均匀性,对于确保电力电子系统中器件的可靠性和一致性至关重要。本文详细分析了由不可避免的工艺偏差导致的短路耐受时间变化,并介绍了一种基于人工神经网络(ANN)技术的新型筛选方法。利用从碳化硅MOSFET中提取的特征参数构建了一个两层隐藏层的人工神经网络模型。训练后的模型能够准确预测通过技术计算机辅助设计(TCAD)模拟的碳化硅MOSFET的短路耐受时间,最大误差小于15%,平均...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于人工神经网络的SiC MOSFET短路耐受时间筛选技术具有重要的工程应用价值。作为全球领先的光伏逆变器和储能系统供应商,我们的产品正加速向SiC功率器件转型,以实现更高的功率密度和系统效率。然而,SiC MOSFET的短路耐受时间(SCWT)一致性问题一直是制约大规...

电动汽车驱动 SiC器件 ★ 5.0

SiC功率MOSFET中单粒子烧毁的热动力学

Thermal Dynamic of Single-Event Burnout in SiC Power MOSFETs

Yiping Xiao · Chaoming Liu · Leshan Qiu · Mingzheng Wang 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年9月

单粒子烧毁(SEB)在碳化硅(SiC)金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)应用于航空航天环境时对其构成了重大威胁,通过离子诱发的热失控效应导致器件永久性功能失效以及系统层面的风险。然而,目前对于详细的热响应过程和触发机制仍缺乏充分的了解。在本研究中,采用了一种新颖的限流方法来研究SiC MOSFET的SEB损伤演化过程和机制。实验结果表明,SEB事件可分为三个不同阶段:首先是p - n结处的初始损伤,随后损伤转移至源极金属/SiC拐角处,在此处晶格共晶引发p - n结退化加剧,最后当n ...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于SiC功率MOSFET单粒子烧毁(SEB)的研究具有重要的技术参考价值。尽管该研究聚焦于航空航天环境下的辐射效应,但其揭示的热失控机理对我们在地面应用中提升SiC器件可靠性同样具有启发意义。 当前,阳光电源在光伏逆变器和储能变流器中已大规模应用SiC功率器件,以实...

电动汽车驱动 SiC器件 可靠性分析 ★ 4.0

针对具有非致命外延形貌缺陷的4H-SiC MOSFET性能与可靠性的系统性研究

Systematic Investigation on the Performance and Reliability of 4H-SiC MOSFETs With Nonkiller Epitaxial Morphological Defects

Yibo Zhang · Xiaoyan Tang · Hao Yuan · Jingkai Guo 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年4月

碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)中的外延形态缺陷会导致器件失效。虽然芯片探测(CP)方法能够识别并区分许多失效器件,但一些非致命性的外延形态缺陷常常会通过初始筛选,从而导致器件在实际应用中过早失效。本研究探讨了碳化硅形态缺陷对器件性能、短路(SC)可靠性和长期可靠性的影响。通过实验分析与技术计算机辅助设计(TCAD)模拟相结合的方法,为形态缺陷对器件性能的不同影响提供了有力证据。研究结果表明,胡萝卜形缺陷会显著降低栅极氧化物的质量,导致器件在长期可靠性测试...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于4H-SiC MOSFET外延形貌缺陷的系统性研究具有重要的战略价值。SiC功率器件是我们光伏逆变器和储能系统的核心部件,直接影响产品的功率密度、效率和可靠性。 该研究揭示了一个关键问题:传统芯片探测(CP)筛选方法存在局限性,某些"非致命"缺陷可能通过初检但在实...

电动汽车驱动 SiC器件 ★ 4.0

碳化硅MOSFET中由重离子辐照诱发的单粒子漏电流退化的分析

Analysis of Single-Event Leakage Current Degradation Induced by Heavy-Ion Irradiation in SiC MOSFETs

Lei Wu · Fengkai Liu · Shangli Dong · Yadong Wei 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年5月

碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)在空间中的应用受到重离子引发的单粒子烧毁(SEB)和单粒子泄漏电流(SELC)的严重限制,但其损伤机制仍不明确。本研究在不同漏极偏置电压下对SiC MOSFET进行了氪离子辐照。观察到在辐照过程中漏极电流持续增加,表明器件中发生了SELC。通过分析辐照前后SiC MOSFET电气性能的变化,提出SELC的原因可能是器件氧化层受损。利用ERECAD仿真模拟了泄漏路径和损伤机制。通过发射显微镜(EMMI)和透射电子显微镜(TEM)分析对仿真结...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于碳化硅MOSFET单粒子泄漏电流退化机制的研究具有重要的战略参考价值。碳化硅功率器件是我们光伏逆变器和储能系统的核心组件,其可靠性直接影响产品性能和市场竞争力。 该研究揭示了重离子辐照导致的单粒子烧毁(SEB)和单粒子泄漏电流(SELC)机制,虽然聚焦于航天应用场...

电动汽车驱动 SiC器件 可靠性分析 ★ 4.0

温度不均匀性和栅极陷阱电荷对碳化硅MOSFET电流不平衡的影响

Influence of temperature inhomogeneity and trap charge on current imbalance of SiC MOSFETs

Chunsheng Guo · Jiapeng Li · Yamin Zhang · Hui Zhu 等6人 · Solid-State Electronics · 2025年1月 · Vol.226

对于碳化硅(SiCMOSFET,无论是多芯片模块还是多个分立器件,均需并联连接以实现高电流容量。然而,并联应用中出现的电流不平衡会降低器件的可靠性。本文重点研究了温度不均匀性和栅极陷阱电荷对SiC MOSFET电流不平衡行为的影响,并对阈值电压差异对电流不均匀性的影响进行了对比研究。最后,从电压和时间维度上比较了上述三个因素对SiC MOSFET电流不均匀特性的影响。结果表明,在静态过程中,由于温度不均匀性引起的漏源电流不平衡百分比可始终保持在10%以上;在动态过程中,由于温度不均匀性引起的漏...

解读: 该研究揭示SiC MOSFET并联应用中温度不均匀性和陷阱电荷导致的电流不平衡机理,对阳光电源ST系列储能变流器、电动汽车驱动系统及充电桩产品具有重要指导意义。研究表明静态和动态过程中温度不均匀性引起的电流失配均超过10%,这为我们优化多芯片并联SiC模块的热管理设计、改进栅极驱动均流策略提供理论依...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 ★ 5.0

有源栅极驱动应用中SiC MOSFET阈值迟滞的评估

Evaluation of Threshold Hysteresis for SiC MOSFETs in Active Gate Drive Application

Binbing Wu · Li Ran · Hao Feng · Hongyu Lin · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2025年8月

碳化硅(SiC)功率MOSFET的阈值迟滞现象备受关注,但在有源栅极驱动(AGD)应用中的研究仍有限。本文通过界面电场分析不同开关速率与栅极电压下阈值迟滞的开关特性,发现负栅压和开通速度提升会增加界面态空穴陷阱的初始值与迟滞程度,从而增大驱动回路中的界面陷阱电流,加快SiC MOSFET开通。实验采用电流源AGD评估不同栅结构1200 V SiC MOSFET,结果表明关断性能不受正栅压影响,但负栅压和开通速度提高会增加阈值迟滞对开通速度的贡献比例。高速工作模式下,开通损耗中阈值迟滞占比达36....

解读: 该SiC MOSFET阈值迟滞研究对阳光电源功率器件应用具有重要价值。在ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器中,SiC器件高频开关特性直接影响系统效率与可靠性。研究揭示的负栅压与开通速度对阈值迟滞的影响机制,可优化有源栅极驱动(AGD)设计:通过精确控制栅极电压范围和开关速率,在高频工作模式下平衡...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 功率模块 ★ 5.0

一种基于低温无压纳米铜烧结的高性能大功率双面冷却碳化硅功率模块

A Novel High-Performance, High-Power Double-Sided Cooling SiC Power Module Based on Low-Temperature Pressureless Nano-Cu Sintering

Haobin Chen · Haidong Yan · Chaohui Liu · Shuai Shi 等5人 · IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology · 2025年9月

由于纳米铜烧结膏成本低、具有优异的电学和热学性能、高可靠性以及抗电迁移能力,它被视为用于宽带隙半导体应用的下一代芯片互连材料。然而,目前尚无关于纳米铜烧结在高功率双面冷却(DSC)碳化硅(SiC)功率模块中应用的实验报告。本研究通过展示一种基于纳米铜烧结的新型高功率DSC碳化硅金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)模块的设计、制造和性能,填补了这一空白。利用自制的铜膏和甲酸辅助低温无压铜烧结工艺,制造出了一款1200 V/600 A的DSC功率模块。在250°C的甲酸气氛中烧结...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,该纳米铜烧结技术在高功率双面冷却SiC功率模块上的应用具有重要战略价值。当前光伏逆变器和储能变流器正朝着高功率密度、高效率、高可靠性方向发展,SiC器件已成为我们新一代产品的核心器件,而封装技术的突破将直接影响系统级性能提升。 该技术的核心价值体现在三个维度:首先,功率密...

储能系统技术 储能系统 储能变流器PCS SiC器件 ★ 5.0

基于外壳温度波形相似性的SiC MOSFET加速功率循环试验在线老化监测

Case Temperature Waveform Similarity-Based Online Aging Monitoring for SiC MOSFETs of Accelerated Power Cycling Tests for DC-SSPCs

Bin Yu · Xingjian Shi · Ze Zhou · Enyao Xiang 等6人 · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2024年12月

针对直流固态功率控制器(dc-SSPC)中SiC MOSFET的在线状态监测对提升系统可靠性至关重要。传统电参数监测方法需高精度电路与复杂控制系统,易干扰正常运行。本文提出一种基于绝缘温度传感器测量的非电参量——外壳温度,用于在线监测SiC MOSFET老化状态。通过改进的余弦相似性分析温度波形,定义了meacosk与stdcosk两个老化特征参数,可有效追踪器件整体老化趋势,并灵敏反映键合线与焊料层严重老化,无需依赖电参数。实验验证了该方法的有效性,提升了无损、在线监测的实用性,为故障诊断与预...

解读: 该基于外壳温度波形相似性的SiC MOSFET在线老化监测技术对阳光电源ST系列储能变流器及SG系列光伏逆变器具有重要应用价值。相比传统电参数监测,该方法采用非侵入式温度传感器,无需高精度电路改造,可直接集成至PowerTitan储能系统的功率模块中,实现SiC器件键合线与焊料层老化的早期预警。me...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 深度学习 ★ 4.0

基于4H-SiC MOSFET的ANN建模用于极端温度应用的SiC放大器设计与验证

Design and Verification of SiC Amplifiers for Extreme Temperature Applications Based on ANN Modeling of 4H-SiC MOSFETs

Wenhao Yang · Yuyin Sun · Mengnan Qi · Shikai Sun 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年8月

本研究提出了一种基于高精度人工神经网络(ANN)的碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)建模框架,该框架在较宽的温度范围(27 °C - 500 °C)内实现了误差小于1.2%的高精度建模。所开发的模型可对碳化硅集成电路进行可靠的SPICE仿真,有助于高温模拟电路的设计和实验验证。采用pMOS电流源负载的单级共源(CS)放大器在500 °C时的最大低频增益达到25.5 dB,而两级放大器在500 °C时可实现52.5 dB的增益,单位增益带宽(UGBW)为220...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于人工神经网络的SiC MOSFET建模技术具有重要的战略价值。该研究实现了27°C至500°C宽温度范围内误差小于1.2%的高精度器件模型,为极端环境下的功率电子应用提供了可靠的设计工具。 对于光伏逆变器和储能系统而言,该技术的核心价值体现在三个层面:首先,高温工...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 可靠性分析 ★ 4.0

平面型与沟槽型SiC MOSFET偏置温度不稳定性恢复特性的综合研究

Comprehensive Investigations on Recovery Characteristics of Bias Temperature Instability in Planar and Trench SiC MOSFETs

Kaiwei Li · Pengju Sun · Xinghao Zhou · Lan Chen 等5人 · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2024年10月

栅氧退化引起的偏置温度不稳定性(BTI)是碳化硅(SiC)金属-氧化物-半导体场效应晶体管(MOSFET)最关键的可靠性问题之一。现有BTI恢复研究尚不够全面。本文系统研究了平面型与沟槽型SiC MOSFET中直流与交流BTI的恢复特性。结果表明,无论器件栅结构如何,短路应力均可实现BTI的有效恢复,且短路能量越大,恢复能力越强。但过强的短路应力更易在平面栅器件中引发额外阈值电压漂移。进一步比较短路应力与负栅压加高温两种恢复方式后的阈值电压再漂移,发现短路应力具有更优的恢复效果。该结果对抑制阈值...

解读: 该研究揭示的SiC MOSFET偏置温度不稳定性恢复机制对阳光电源功率器件应用具有重要价值。研究发现短路应力可有效恢复BTI引起的阈值电压漂移,且恢复效果优于负栅压加高温方式,这为ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器中SiC器件的可靠性设计提供了新思路。针对平面栅器件在强短路应力下易产生额外漂移的...

电动汽车驱动 SiC器件 功率模块 ★ 5.0

采用芯片-陶瓷散热封装的SiC功率模块EMI抑制方法

EMI Mitigation for SiC Power Module With Chip-on-Ceramic Heatsink Packaging

Zhaobo Zhang · Wenzhi Zhou · Xibo Yuan · Elaheh Arjmand 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年10月

本信函提出采用陶瓷散热片上芯片封装方式,以在封装层面降低共模(CM)噪声,同时改善碳化硅(SiC)功率模块的热性能。该封装方式将碳化硅金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)直接连接到金属化氮化铝(AlN)陶瓷散热片上,减少了开关节点与地之间的共模电容耦合,从而降低了共模噪声。搭建了一个400至200V的直流 - 直流降压转换器,以验证该封装方式在抑制共模噪声方面的有效性。实验结果表明,共模电流有所降低,与传统无基板模块相比,陶瓷散热片上芯片功率模块在5至20MHz频谱范围内的共...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项芯片直接封装于陶瓷散热器的SiC功率模块技术具有重要的战略价值。该技术通过减少开关节点与地之间的共模电容耦合,在5-20 MHz频段实现了超过5 dB的共模噪声抑制,这对我们的光伏逆变器和储能变流器产品具有直接应用意义。 在光伏逆变器领域,随着SiC器件的广泛应用,高...

电动汽车驱动 SiC器件 ★ 5.0

碳化硅中自旋中心的多射频光子光谱相位控制

Phase control of multi-RF photon spectroscopy of spin centers in SiC

Kingshuk Mallick · United Kingdom · Cristian Bonato · Alton Horsfall · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

通过射频(RF)激发实现对碳化硅中硅空位中心(⁠VSi⁻⁠)的自旋操控,为室温量子传感提供了可行途径。传统单RF天线方案对入射RF辐射的极化控制有限。本文展示了一种基于连续波光学系统的改进方法,实现了RF极化调控,并用于探测4H-SiC中VSi⁻缺陷的多射频光子磁共振。ODMR谱中多光子峰与零场分裂峰的RF功率依赖性差异表明其不同物理起源。在外加静态磁场下仍可检测到这些共振。通过引入额外RF源以调控极化,有助于揭示其机制。

解读: 该SiC自旋中心量子传感技术对阳光电源功率器件应用具有前瞻价值。研究揭示的VSi⁻缺陷多光子磁共振特性,可用于SiC MOSFET/二极管的非破坏性缺陷检测与可靠性评估。通过RF相位控制的ODMR光谱技术,能够精准表征SiC器件内部晶格缺陷分布,这对ST储能变流器、SG光伏逆变器中大量应用的SiC功...

电动汽车驱动 SiC器件 ★ 5.0

4H-碳化硅漂移阶跃恢复二极管脉冲发生器的设计与优化

Design and Optimization of a 4H-Silicon Carbide Drift Step Recovery Diode Pulse Generator with 7.91-kV Output and 1.41-ns Rise Time

Tong Liu · Lin Liang · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2025年6月

为提升4H-SiC DSRD的反向电流能力,进而提高脉冲输出峰值电压并缩短上升时间,本文提出一种新型双电源4H-SiC DSRD脉冲发生器。采用Sentaurus TCAD软件仿真分析影响脉冲输出特性的电路参数,确定最佳正向泵浦时间为110 ns,直流输入电压V<sub>CC</sub>和V<sub>1</sub>分别为700 V和200 V,DSRD支路输出级电容和电感分别为20 nF和100 nH。实验观测到输出电压存在两个预脉冲,并分别解释其成因。通过合理控制泵浦时间可有效抑制预脉冲。实验...

解读: 该4H-SiC DSRD脉冲发生器技术对阳光电源的SiC功率器件应用具有重要参考价值。其7.91kV高压输出和1.41ns超快上升时间特性,可为ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器中的SiC MOSFET/IGBT驱动电路设计提供借鉴,特别是在1500V高压系统中实现更快的开关速度和更低的开关损耗...

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