多芯片SiC MOSFET功率模块键合线脱落不均匀性的在线监测方法

An Online Monitoring Method of Bond Wire Lift-off Unevenness in Multichip SiC MOSFET Power Modules

作者	Ziyang Zhang · Lin Liang · Haoyang Fei
期刊	IEEE Transactions on Power Electronics
出版日期	2025年4月
技术分类	功率器件技术
技术标签	SiC器件功率模块可靠性分析故障诊断
相关度评分	★★★★★ 5.0 / 5.0
关键词	SiC MOSFET 功率模块键合线脱落在线监测可靠性多芯片健康管理

语言:

中文摘要

监测键合线脱落的不均匀性是多芯片SiC MOSFET功率模块高可靠运行的基础。传统方法仅能监测模块整体的键合线脱落数量。本文提出了一种监测多芯片模块中键合线脱落分布的新方法，实现了对功率模块健康状态的精细化评估。

English Abstract

Monitoring bond wire lift-off unevenness is the basis for high-reliability operation of multichip silicon carbide (SiC) metal oxide semiconductor field effect transistor (mosfet) power modules. The traditional methods of monitoring bond wire lift-off can only monitor the overall number of the bond wire lift-off for one module. In this article, a new method is proposed to monitor the number of the ...

SunView 深度解读

该技术对阳光电源的核心业务至关重要。随着公司在组串式逆变器和PowerTitan系列储能系统中大规模应用SiC MOSFET功率模块，提升模块的可靠性与寿命预测能力是关键竞争力。该在线监测方法可集成至iSolarCloud平台，通过实时感知功率模块的键合线老化状态，实现从‘事后维修’向‘预防性维护’的转变，显著降低运维成本。建议研发团队将其纳入下一代高功率密度逆变器及储能变流器（PCS）的健康管理系统（PHM），以提升产品在严苛环境下的长期运行可靠性。