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一种基于间接功耗水平的SiC MOSFET快速短路保护方法
A Fast Short-Circuit Protection Method for SiC MOSFET Based on Indirect Power Dissipation Level
| 作者 | Wenyuan Ouyang · Pengju Sun · Minghang Xie · Quanming Luo · Xiong Du |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2022年8月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | SiC器件 功率模块 可靠性分析 故障诊断 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | SiC MOSFET 短路保护 功率损耗 寄生电感 可靠性 电力电子 |
语言:
中文摘要
本文提出了一种针对碳化硅（SiC）MOSFET的间接功耗水平短路保护（IPDL-SCP）方法。该方法利用正常导通与短路状态下源极寄生电感（Lss）两端电压振荡（vss）的差异，结合对漏源电压（vds）的直接监测，实现了对SiC器件的快速短路保护，有效提升了功率器件在极端工况下的可靠性。
English Abstract
This letter proposes an indirect power dissipation level short circuit protection (IPDL-SCP) method for silicon carbide (SiC) metal-oxide semiconductor field-effect transistors (mosfets). Due to differences between normal conducting and short-circuit (SC) conditions, this method is triggered by the voltage oscillation vss at the parasitic inductance (Lss) of the source and directly monitoring vds ...
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SunView 深度解读
随着阳光电源在组串式光伏逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统中大规模应用SiC MOSFET以提升功率密度和效率，器件的短路耐受能力成为可靠性设计的核心挑战。该IPDL-SCP方法无需复杂的电流传感器，通过监测寄生电感电压即可实现快速保护，具有低成本、高响应速度的优势。建议研发团队将其集成至新一代高频逆变器及PCS驱动电路中，以优化SiC器件的保护策略，降低短路故障下的器件损毁风险，进一步提升产品在严苛电网环境下的长期运行可靠性。