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1.2-kV, 400-A SiC MOSFET模块短路与过载栅极驱动双重保护方案的设计、分析与讨论
Design, Analysis, and Discussion of Short Circuit and Overload Gate-Driver Dual-Protection Scheme for 1.2-kV, 400-A SiC MOSFET Modules
| 作者 | Keyao Sun · Jun Wang · Rolando Burgos · Dushan Boroyevich |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2020年3月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | SiC器件 功率模块 可靠性分析 宽禁带半导体 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | SiC MOSFET 栅极驱动器 短路保护 过载保护 寄生电感 功率模块 可靠性 |
语言:
中文摘要
本文提出了一种基于高电流SiC MOSFET模块Kelvin源极与功率源极之间寄生电感的短路与过载栅极驱动双重保护方案。文章对该方案进行了全面分析,包括评估制造公差和温度变化对参数依赖性的最坏情况分析。
English Abstract
This paper proposes short circuit and overload gate-driver dual-protection scheme based on the parasitic inductance between the Kelvin- and power-source terminals of high-current SiC mosfet modules. The paper presents a comprehensive analysis of the two schemes in question, including worst-case analysis used to assess their parametric dependence due to manufacturing tolerances and temperature vari...
S
SunView 深度解读
该技术对阳光电源的核心业务至关重要。随着公司在PowerTitan等大型储能系统及组串式光伏逆变器中大规模应用高功率密度SiC模块,栅极驱动的可靠性直接决定了系统的故障耐受能力。本文提出的基于寄生电感的双重保护方案,能够有效提升SiC器件在极端工况下的生存能力,降低过流保护的响应延迟。建议研发团队在下一代高压大功率逆变器及PCS产品设计中,引入该方案以优化驱动电路的保护逻辑,从而提升产品在复杂电网环境下的长期运行可靠性。