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电动汽车驱动 SiC器件 ★ 5.0

栅极开关不稳定性下1700 V平面栅SiC MOSFET的退化依赖性分析与建模

Degradation Dependency Analysis and Modeling of 1700 V Planar-Gate SiC MOSFETs Under Gate Switching Instability

Cen Chen · Zicheng Wang · Xuerong Ye · Yifan Hu 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年11月

碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)在各种电力电子应用中日益普及。然而,与栅极氧化物相关的重大可靠性问题阻碍了它们的广泛应用。交变栅极偏置下的阈值电压漂移,通常称为栅极开关不稳定性(GSI),对可靠性构成了重大挑战。鉴于碳化硅 MOSFET 在功率转换器中广泛使用,与传统的偏置温度不稳定性相比,研究 GSI 具有实际意义。本研究系统地探究了 1700 V 平面栅碳化硅 MOSFET 对栅极偏置、温度和开关时间等因素的依赖性,并基于物理解释给出了加速因子的形式。...

解读: 从阳光电源的业务场景来看,这项关于1700V平面栅SiC MOSFET栅极开关不稳定性(GSI)的研究具有重要的工程应用价值。在我们的大功率光伏逆变器和储能变流器产品中,1700V级SiC MOSFET正逐步替代传统IGBT成为核心功率器件,其高频开关特性和低损耗优势能够显著提升系统效率和功率密度。...

电动汽车驱动 SiC器件 ★ 5.0

用于并联SiC MOSFET精确动态电流测量的增强型di/dt-RC传感结构

Enhanced di/dt-RC Sensing Structure for Accurate Dynamic Current Measurement in Paralleled SiC MOSFETs

Che-Wei Chang · Dong Dong · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年3月

并联碳化硅(SiC)金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)为高功率应用提供了一种经济高效的增加电流能力的方法。然而,并联器件之间动态电流分配不均衡会导致损耗和热分布不均,可能引发器件故障。为了监测或主动平衡电流,需要一种能够跟踪高 $di/dt$ 动态电流的电流传感器。然而,现有的传感方法往往存在集成性差和成本高的问题,同时针对并联器件的 $di/dt$ - $RC$ 传感研究仍不充分。本文对并联碳化硅 MOSFET 的 $di/dt$ - $RC$ 传感进行了全面评估。为了提高传感精度并...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项针对并联SiC MOSFET动态电流测量的增强型di/dt-RC传感技术具有重要的应用价值。在我们的光伏逆变器和储能变流器产品中,为满足大功率应用需求,并联SiC MOSFET已成为提升电流容量的主流方案。然而,并联器件间的动态电流不均衡一直是影响系统可靠性的关键痛点,...

储能系统技术 储能系统 宽禁带半导体 SiC器件 ★ 5.0

一种改进的串扰抑制驱动拓扑用于相腿结构中具有快速开关瞬态的SiC MOSFET

An Improved Crosstalk Suppression Driver Topology for SiC MOSFET With Fast Switching Transient in the Phase-Leg Configuration

Jiaxing Ye · Mingyi Wang · Sihang Cui · Chengming Zhang 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年1月

由具有快速开关瞬态特性的碳化硅(SiC)金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)构成的功率变换器,在高性能、高功率应用中得到了广泛使用。驱动电路中具有高开关频率的宽禁带半导体器件在快速开关瞬态过程中极易受到栅 - 源极串扰电压的影响,这可能会导致互补桥臂出现误导通和直通现象。本文提出了一种基于晶体管和无源元件的改进型串扰抑制栅 - 源极驱动拓扑,以有效抑制电压源逆变器的串扰问题。该拓扑通过在必要时将辅助电路接入或移出栅 - 源极驱动电路,在不影响碳化硅功率器件性能的前提下,确保其正常运行。此...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项针对SiC MOSFET相桥臂配置的改进型串扰抑制驱动拓扑技术具有重要的战略价值。作为全球领先的光伏逆变器和储能系统供应商,我们的产品正面临着功率密度提升和效率优化的双重挑战,而SiC器件的应用是实现这一目标的关键路径。 该技术直击SiC MOSFET在高频开关应用中...

电动汽车驱动 可靠性分析 ★ 5.0

功率MOSFET器件中传热与热失控的理论与仿真研究

Theoretical and Simulation-Based Investigation of Heat Transfer and Thermal Runaway in Power MOSFET Devices

Arun Narasimhan · Rajesh Rao · Ankur Jain · IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology · 2024年12月

预测功率金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)器件的温度上升对于确保其可靠性和性能以及防止热失控至关重要。虽然通常会为功率MOSFET的运行规定安全工作区(SOA),但通过实验确定安全工作区内防止热失控的漏极电流限制非常繁琐,而且常常会导致多个测试器件在达到极限时损坏。因此,仍然需要强大而准确的理论工具来预测实际功率MOSFET中的最大允许漏极电流。本研究通过解析和数值传热建模来满足这一重要需求。基于沟道区域周围半无限介质中一维热流的简化假设,采用拉普拉斯变换技术推导出器件中瞬...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于功率MOSFET热传导和热失控预测的研究具有重要的工程应用价值。功率MOSFET是光伏逆变器和储能变流器中的核心功率器件,其热管理直接关系到系统的可靠性、效率和寿命。 该研究的核心价值在于提供了两种互补的热分析方法:基于拉普拉斯变换的解析解和数值仿真模型。这使得我...

可靠性与测试 SiC器件 可靠性分析 ★ 4.0

安全工作区外重复过电压硬开关下SiC MOSFET参数退化特性与机理

Parameter Degradation Characteristics and Mechanisms of SiC MOSFETs under Repetitive Overvoltage Hard-Switching Beyond Safe Operating Area

张岩薛少鹏李阳李现亭刘进军 · 电工技术学报 · 2025年1月 · Vol.40

受寄生电感或串联器件分压不均影响,SiC MOSFET可能承受超出安全工作区的短时过电压硬开关应力,导致参数退化或失效。现有可靠性研究多集中于安全工作区内长期静态工况,难以准确评估实际寿命。本文研究两种额定电压SiC MOSFET在过电压硬开关下的退化机制,并与栅极开关应力及静态过电压实验结果对比。结果表明:第一象限工作器件因栅氧化层退化,阈值电压Vth和导通电阻RDS(on)下降,栅极漏电流IGSS与漏极截止电流IDSS上升,动态特性随之改变;第三象限工作器件因堆垛层错扩展导致体二极管正向压降...

解读: 该研究揭示的SiC MOSFET过电压硬开关退化机理对阳光电源功率器件应用具有重要价值。在ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器中,母线电压波动、寄生电感振荡及串联器件分压不均常导致SiC器件承受瞬态过电压应力。研究发现的热载流子注入导致Vth和RDS(on)退化、体二极管压降增加等机制,可指导Po...

功率器件技术 ★ 5.0

先进动态耗尽型SOI MOSFET中洛伦兹噪声现象的表征、理解与建模

Characterization, Understanding, and Modeling of Lorentzian Noise Phenomenon in Advanced Dynamically Depleted SOI MOSFET

Haobo Huang · Tianye Yu · Yudi Zhao · Guangxi Hu 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年8月

本研究对先进动态耗尽(DD)绝缘体上硅(SOI)金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的电流噪声功率谱密度(PSD)进行了表征。通过比较体接触(BC)模式和浮体(FB)模式下的功率谱密度,研究了体接触模式下类似洛伦兹型的过量噪声。通过分析各种洛伦兹噪声的物理机制并采用核密度估计(KDE)方法,发现这一独特的噪声现象主要归因于硅膜中陷阱的物理位置,以及不同器件工作模式下各种偏置电压下能态的填充水平。为对这一观测到的现象进行建模,开发了一个基于物理的解析体电势模型,然后基于该体电势建立了一个新...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于SOI MOSFET器件噪声特性的研究具有重要的应用价值。在光伏逆变器和储能变流器等核心产品中,功率半导体器件的噪声特性直接影响系统的电能质量、电磁兼容性能和控制精度。 该研究针对先进动态耗尽型SOI MOSFET的洛伦兹噪声现象建立了基于物理机制的精确模型,这对...

电动汽车驱动 ★ 4.0

氧化硅与氢终端金刚石p沟道的集成用于常关型高压金刚石功率器件

Integration of Oxidized Silicon- and Hydrogen- Terminated Diamond p-Channels for Normally-Off High-Voltage Diamond Power Devices

作者未知 · IEEE Electron Device Letters · 2025年1月

表面附近具有致密二维空穴气(2DHG)p 型导电层的氢终端(C - H)金刚石金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)呈现出典型的常开工作特性和高击穿电压(<inline - formula xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink"> <tex - math notation="LaTeX">${V}_{\text {BR}}$ </tex -...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项金刚石功率器件技术代表了超宽禁带半导体在高压电力电子领域的重要突破,与公司在光伏逆变器、储能变流器等核心产品的技术演进方向高度契合。 该研究通过创新的C-H/C-Si-O/C-H混合沟道结构,成功解决了金刚石MOSFET常关型器件耐压能力不足的关键瓶颈。实现-8.6V...

电动汽车驱动 ★ 4.0

低损耗MOS可控存储载流子二极管

Low-Loss MOS-Controllable Stored-Carrier Diode

Hiroshi Suzuki · Tomoyuki Miyoshi · Takashi Hirao · Yusuke Takada 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年4月

我们先前提出了一种金属氧化物半导体可控存储载流子二极管(MOSD),以突破传统 p - n 二极管在导通损耗和开关损耗之间的折衷问题。这种 MOSD 的结构是在阳极区域添加一个 n 沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET),用于动态控制存储载流子密度。本研究的仿真结果表明,由于深 p⁻ 层完全覆盖 MOS 栅极,与 MOSFET 中的栅控体二极管相比,我们的 MOSD 的开关损耗能够充分降低。窄单元宽度和电子阻挡层(EBL)分别是我们 MOSD 的特性,它们也分别增强了开关损耗和正向电压...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项MOS可控储载二极管(MOSD)技术对我们在光伏逆变器和储能变流器领域具有重要的战略价值。该技术通过在阳极区集成n沟道MOSFET来动态控制载流子密度,成功突破了传统p-n二极管导通损耗与开关损耗之间的固有矛盾,这正是我们高功率密度产品设计中长期面临的核心瓶颈。 从技...

功率器件技术 SiC器件 ★ 4.0

栅极电压凹陷作为碳化硅MOSFET在线健康监测的新指标

Gate Voltage Dip as a New Indicator for Online Health Monitoring of SiC MOSFETs

Mathis Picot-Digoix · Frédéric Richardeau · Jean-Marc Blaquière · Sébastien Vinnac 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年10月

由于碳化硅/二氧化硅界面质量不佳以及其栅氧化层较薄,碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)比硅金属氧化物半导体场效应晶体管(Si MOSFET)更易受电荷俘获机制的影响。随着时间的推移,这些现象会加剧,导致晶体管性能下降和损耗增加。为了监测这种老化机制,本文提出了一种模拟方法,用于从栅极电压($V_{GS}$)波形中提取一个新发现的健康指标。这是通过使用双通道有源栅极驱动器减缓特定的导通过程来实现的。随后,该在线健康监测方法在一台1200 V - 36 A的碳化硅金属氧化物半...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于栅极电压监测的SiC MOSFET在线健康管理技术具有重要的战略价值。作为光伏逆变器和储能系统的核心功率器件,SiC MOSFET的可靠性直接影响系统的整体性能和生命周期成本。 该技术针对SiC器件固有的电荷俘获机制导致的性能退化问题,提出了创新的模拟监测方法。通...

功率器件技术 SiC器件 可靠性分析 ★ 4.0

SiC MOSFET的短路耐受时间分析及其基于di/dt-PMOS的短路保护

Short-Circuit Withstand Time Analysis of SiC MOSFET and Its Short-Circuit Protection Based on di/dt-PMOS

谢佳明 · 魏金萧 · 吴彬兵 · 丰昊 等5人 · 电工技术学报 · 2025年1月 · Vol.40

为提升SiC MOSFET的短路可靠性,本文测量了不同母线电压、驱动电压、驱动电阻、主回路寄生电感及栅极阈值电压下的短路电流特性,定量分析各参数对短路电流的影响,进而提出延长短路耐受时间的优化思路。这些参数直接影响短路保护电路的设计裕度。传统方法利用开尔文源极与功率源极间寄生电感的感应电压结合RC滤波实现保护,但在硬开关与负载短路工况下存在保护阈值不一致问题,易导致保护失效。为此,本文提出基于di/dt-PMOS的短路保护策略,确保了触发阈值的一致性,并通过理论推导与实验验证了该方法的有效性。

解读: 该研究对阳光电源的SiC器件应用具有重要指导意义。通过优化短路保护策略,可显著提升ST系列储能变流器、SG系列光伏逆变器及充电桩产品的可靠性。研究发现的参数影响规律有助于指导功率模块设计,特别是在大功率密度场景下的器件选型与驱动电路优化。基于di/dt-PMOS的保护方案可为阳光电源三电平拓扑中的S...

功率器件技术 SiC器件 ★ 4.0

一种具有周期性接地沟槽底部屏蔽结构的新型1200 V 4H-SiC沟槽MOSFET的设计与制造

Design and Fabrication of a Novel 1200 V 4H-SiC Trench MOSFET With Periodically Grounded Trench Bottom Shielding

作者未知 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年1月

本文设计并通过实验验证了一种在沟槽底部具有周期性接地 p 型屏蔽区(P⁺SLD)的碳化硅(SiC)沟槽金属氧化物半导体场效应晶体管(PGP - TMOS)。沟槽两侧存在深注入 P⁺(DP)区域,且 P⁺SLD 通过与 DP 区域周期性连接实现接地。因此,PGP - TMOS 有两种不同的示意性横截面视图。P⁺SLD 和 DP 区域共同提高了栅氧化层的鲁棒性。引入了外延电流扩展层(CSL)以改善器件性能。二维数值模拟结果表明,与具有浮动 P⁺SLD 的沟槽 MOSFET(FP - TMOS)相比,...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项1200V 4H-SiC沟槽MOSFET技术具有显著的战略价值。该器件通过周期性接地的沟槽底部屏蔽结构(PGP-TMOS),成功将栅极氧化层峰值电场降低50.77%,同时保持击穿电压和导通电阻基本不变,这直接契合我们在光伏逆变器和储能变流器中对功率器件高可靠性、低损耗的...

电动汽车驱动 SiC器件 IGBT ★ 5.0

采用外部吸收电容与升压电容的SiC JFET/Si IGBT级联器件开关可控性

Switching Controllability for SiC JFET/Si IGBT Cascode With External Absorption and Boost Capacitors

Zhenhui Wu · Rongzhou Zeng · Shengchang Lei · Linyuan Liao 等6人 · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2025年5月

硅绝缘栅双极型晶体管(Si IGBT)在高功率系统中至关重要,但其较大的开关损耗限制了应用。本文受SiC JFET/Si MOSFET级联结构启发,提出并验证了一种SiC JFET与低压Si IGBT级联结构(L.SSIC)。该结构在导通状态下具有更强的电流导通能力,但仍存在严重的关断拖尾电流。为此,引入吸收电容和升压电容以优化开关瞬态并抑制拖尾电流。实验与TCAD仿真表明,在600 V/60 A条件下,L.SSIC的开关损耗较传统Si IGBT降低42.5%;在80 A、200 kHz下,其功...

解读: 该SiC JFET/Si IGBT级联结构技术对阳光电源功率器件应用具有重要参考价值。L.SSIC方案在600V/60A工况下开关损耗降低42.5%,在高频应用中功率损耗优于传统方案,可直接应用于ST系列储能变流器和车载OBC充电机的功率模块设计。外部吸收电容与升压电容抑制拖尾电流的方法,为阳光电源...

功率器件技术 SiC器件 ★ 4.0

基于4H-SiC衬底上异质外延ε-Ga₂O₃的高电流增强型MOSFET演示

Demonstration of High-Current E-Mode MOSFETs Using Heteroepitaxial ε-Ga₂O₃ on 4H-SiC Substrates

Shengheng Zhu · Linxuan Li · Tiecheng Luo · Weiqu Chen 等6人 · IEEE Electron Device Letters · 2025年3月

本文展示了在 4H - SiC 衬底上采用异质外延 ε - Ga₂O₃ 制备的高电流增强型(E 型)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)。这些器件具有非故意掺杂(UID)沟道和超高导电性的引出区,引出区通过选择性区域氟等离子体表面掺杂工艺实现。在引出区,实现了超过 3×10¹⁴ cm⁻² 的高面载流子浓度(ns),且迁移率达到 47.1 cm²/V·s,显著降低了寄生电阻。所制备的沟道长度(LCH)为 2 μm 的 E 型 MOSFET 表现出 209 mA/mm 的高最大漏...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于4H-SiC衬底的ε-Ga₂O₃异质外延MOSFET技术展现出显著的战略价值。该技术通过氟等离子体选区掺杂工艺,实现了超高导电性的接入区,有效降低了寄生电阻,使器件在2μm沟道长度下获得了209 mA/mm的高漏极电流密度和42 mS/mm的峰值跨导,这些参数对我司...

电动汽车驱动 SiC器件 GaN器件 ★ 4.0

全垂直式GaN-on-SiC沟槽MOSFET

Fully-Vertical GaN-on-SiC Trench MOSFETs

Jialun Li · Renqiang Zhu · Ka Ming Wong · Kei May Lau · IEEE Electron Device Letters · 2024年12月

本文首次展示了由导电 AlGaN 缓冲层实现的全垂直型碳化硅基氮化镓沟槽金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)。该器件展现出良好的导通状态性能,包括 2.43 kA/cm² 的最大漏极电流密度和 5 V 的高阈值电压。在低 <inline-formula xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink"> <tex-math notation="LaTeX">$...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项全垂直GaN-on-SiC沟槽MOSFET技术具有重要的战略意义。该器件实现了2.43 kA/cm²的高电流密度和5V的高阈值电压,这对于我们的光伏逆变器和储能变流器产品具有直接价值。高阈值电压意味着更强的抗干扰能力和更高的系统可靠性,这在大功率应用场景中至关重要。 ...

功率器件技术 SiC器件 ★ 4.0

一种基于Vgs与Vds联合检测的SiC MOSFET短路保护方法

A Short-Circuit Protection Method for SiC MOSFET Using Combined Vgs and Vds Detection

Jiaming Xie · Jinxiao Wei · Hao Feng · Binbing Wu 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年4月

本信函提出了一种简单可靠的短路保护(SCP)方法,称为 $v_{gs}$ 和 $v_{ds}$ - SCP,用于碳化硅(SiC)金属 - 氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET),该方法通过同时监测 $v_{gs}$ 和 $v_{ds}$ 来实现。当 $v_{gs}$ 和 $v_{ds}$ 均超过各自的预设阈值时,保护功能启动,从而能够有效抵御硬开关故障(HSF)和负载下故障(FUL)。与现有方法相比,所提出的电路设计结构更简单,且不受封装类型的限制。搭建了一个测试平台来验证所提出的 $v_{g...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项SiC MOSFET短路保护技术具有重要的应用价值。作为全球领先的光伏逆变器和储能系统供应商,我们在大功率电力电子变换器中广泛采用SiC MOSFET器件,以实现更高的效率和功率密度。然而,SiC器件的短路耐受能力较传统IGBT更弱,通常仅为3-5微秒,这对保护电路的响...

功率器件技术 SiC器件 ★ 4.0

通过关断延迟时间灵敏度放大实现SiC MOSFET实时结温监测的新方法

A Novel Method for Real-Time Junction Temperature Monitoring of SiC Mosfet Through Sensitivity Amplification of Turn-Off Delay Time

作者未知 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年1月

结温是碳化硅(SiC)半导体热管理和健康状态监测的关键参数。为了监测结温,基于温度敏感电参数(TSEP)的方法正受到越来越多的关注。在SiC MOSFET的温度敏感电参数中,关断延迟时间在较宽的温度范围内具有良好的线性度。然而,SiC MOSFET关断延迟时间的温度灵敏度较低。在现有关断延迟时间的解决方案中,通常通过增加栅极驱动电阻来延长关断延迟时间并提高温度灵敏度,但这会影响被测器件(DUT)的开关过程并增加开关损耗。为应对这些挑战,本文提出了一种新颖的基于关断延迟时间的实时结温监测方法。该方...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项SiC MOSFET结温实时监测技术具有重要的应用价值。当前,SiC功率器件已成为我司光伏逆变器和储能变流器的核心部件,其可靠性直接影响系统的整体性能和寿命。结温监测是实现热管理优化和故障预警的关键技术基础。 该论文提出的方法巧妙地解决了传统关断延迟时间法温度灵敏度低...

功率器件技术 SiC器件 ★ 5.0

SiC MOSFET结构变异对温度估计中TSEP性能的影响

Impact of Structural Variation in SiC MOSFETs on TSEP Performances for Temperature Estimation

作者未知 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年1月

在电力电子变换器运行过程中,对碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)的温度进行精确监测至关重要。利用温度敏感电参数(TSEPs)实现在线实时温度监测是该领域一种很有前景的技术。然而,以往的研究并未充分考虑器件结构差异如何影响待监测参数的选择以及监测结果的准确性。本文对不同栅极结构的 SiC MOSFET 的温度敏感电参数进行了全面研究。详细分析了温度敏感电参数随器件温度变化的物理机制,并通过双脉冲测试进行了验证。这项对比研究揭示了器件温度对不同栅极结构 SiC ...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于SiC MOSFET温度监测技术的研究具有重要的实用价值。作为全球领先的光伏逆变器和储能系统供应商,我们的产品正加速向高功率密度、高效率方向发展,而SiC器件已成为新一代功率变换器的核心部件。 该研究聚焦于利用温度敏感电参数(TSEP)实现SiC MOSFET的在...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 ★ 5.0

再生长层厚度和氮浓度对垂直金刚石MOSFET低漏极电压下电流失效影响

Effects of Regrown Layer Thickness and Nitrogen Concentration on Current Rise at Low Drain Voltage in Vertical Diamond MOSFET

Kosuke Ota · Koji Amazutsumi · Runming Zhang · Yuta Nameki 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年9月

由于具有优异的物理特性,金刚石是一种很有前景的功率器件材料,而垂直 p 沟道场效应晶体管(FET)对于实现下一代互补逆变器至关重要。在本研究中,我们利用氢终端金刚石表面诱导的二维空穴气(2DHG)制造了一个(001)垂直金刚石 MOSFET。该器件采用了一种沟槽结构,其在硼掺杂金刚石(p +)衬底中的过刻蚀深度为 1.5 微米。然而,在低电压区域(−4 V ≤ VDS ≤ 0 V)观察到漏极电流上升受到抑制。为了探究其原因,我们对沟槽型横向器件进行了测量,在这类器件中电流不经过再生长层,且在低电...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项金刚石垂直MOSFET技术研究代表了功率半导体器件领域的前沿探索,对我们的光伏逆变器和储能系统具有长远战略意义。 金刚石作为第四代半导体材料,其优异的物理特性——极高的击穿电场强度、热导率和载流子迁移率——使其在高功率密度应用中具有革命性潜力。该研究通过氢终端表面诱导...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 ★ 5.0

具有短路保护功能的串联中压SiC MOSFET双通道栅极驱动器

Advanced Dual-Channel Gate Driver With Short-Circuit Protection for Series-Connected Medium-Voltage SiC MOSFETs

Rui Wang · Drazen Dujic · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年6月

双通道栅极驱动器(D - GD)在工业中被广泛应用,以支持半桥功率模块的大规模使用。随着碳化硅(SiC)器件在中压(MV)场景中日益普及,与传统硅基器件相比,SiC 器件具有卓越的开关性能。本文提出了一种专门针对中压 SiC MOSFET 半桥功率模块的全面 D - GD 设计方案。在高压应用中,功率器件的额定电压有限,为克服这一限制,与传统互补切换两个器件的 D - GD 不同,所提出的 D - GD 设计为同步切换这两个器件,将半桥模块等效为一个额定电压翻倍的单器件。为此,不仅需要保证两个串...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,该论文提出的中压SiC MOSFET双通道栅极驱动技术具有重要的战略价值。当前我们在大功率光伏逆变器和储能变流器领域正面临从1500V向更高电压等级演进的趋势,该技术通过串联同步开关方式将半桥模块整合为倍压单元,为突破单管电压限制提供了创新路径,这与我们3.3kV以上中压产...

功率器件技术 SiC器件 IGBT 功率模块 ★ 5.0

大功率双面冷却模块中大面积SiC MOSFET的电热分析

Electrothermal Analysis of a Double-Side Cooling Power Module With Large-Area SiC MOSFETs

Yi Jiang · Cancan Li · Liming Che · Yizhuo Dong 等6人 · IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology · 2024年11月

与传统的硅绝缘栅双极型晶体管(IGBT)相比,碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)的芯片面积通常较小。大面积(10×10 毫米)碳化硅 MOSFET 的性能有待研究。本文对大面积碳化硅 MOSFET 与常规尺寸(5×5 毫米)碳化硅 MOSFET 并联时的电热特性进行了分析。结果表明,与常规尺寸芯片相比,大面积芯片优化了封装参数,减轻了电流不平衡问题,并且在双面冷却(DSC)模块中具有更好的热性能。制作了采用大面积芯片的 SOT - 227 模块,并对该模块的...

解读: 从阳光电源的业务角度分析,这项关于大面积SiC MOSFET双面冷却功率模块的研究具有重要的战略价值。SiC功率器件是我们光伏逆变器和储能变流器的核心部件,直接影响系统的功率密度、效率和可靠性。 该研究提出的10×10mm大面积SiC MOSFET相比传统5×5mm芯片并联方案,在多个维度展现出显...

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