找到 4 条结果 · 功率器件技术

排序:
功率器件技术 SiC器件 IGBT ★ 5.0

基于驱动电压主动切换的Si/SiC混合器件结温波动平滑控制

Smooth Control of Junction Temperature Fluctuation in Si/SiC Hybrid Devices Based on Active Switching of Gate Voltage

白丹涂春鸣龙柳肖凡肖标 · 电工技术学报 · 2025年1月 · Vol.40

Si/SiC混合器件兼具低成本与低损耗优势,是实现大容量、高可靠性电力电子装备的关键。然而,负载电流变化导致SiC MOSFET结温剧烈波动,限制了器件整体寿命提升。本文分析驱动电压对开关过程及损耗的影响,提出一种基于驱动电压主动切换的结温波动平滑控制策略。该策略在轻载时采用高损耗驱动模式以补偿温升,在重载时采用低损耗模式以抑制温升,显著平滑SiC MOSFET结温波动,减小其与Si IGBT的温差波动幅值。实验结果表明,所提方法可使SiC MOSFET结温波动降低30%以上,与Si IGBT的...

解读: 该研究对阳光电源的SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器的功率器件应用具有重要价值。Si/SiC混合器件方案可有效平衡成本与效率,特别适合大功率产品如SG350HX和PowerTitan。通过驱动电压主动切换技术,可显著改善SiC MOSFET的温度稳定性,这对提升产品可靠性和使用寿命具有积极意义。...

功率器件技术 GaN器件 ★ 5.0

1200 V 全垂直式硅基氮化镓功率MOSFET

1200 V Fully-Vertical GaN-on-Si Power MOSFETs

作者未知 · IEEE Electron Device Letters · 2025年1月

我们报道了采用氟离子注入终端(FIT - MOS)的 1200 V 全垂直氮化镓(GaN)基硅沟槽金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)。带有负固定电荷的 FIT 区域具有高电阻特性,可自然隔离分立器件,取代了传统的台面蚀刻终端(MET),消除了台面边缘的电场集中效应,从而使 FIT - MOS 的击穿电压从 MET - MOS 的 567 V 提升至 1277 V。此外,所制备的 FIT - MOS 的阈值电压(<inline - formula xmlns:mml="http://ww...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项1200V全垂直GaN-on-Si功率MOSFET技术具有重要的战略价值。该技术通过氟离子注入终端(FIT)工艺,将击穿电压从传统台面刻蚀方案的567V大幅提升至1277V,这一突破为我们在光伏逆变器和储能系统中采用GaN器件开辟了新路径。 对于阳光电源的核心产品线,...

功率器件技术 SiC器件 IGBT 功率模块 ★ 5.0

大功率双面冷却模块中大面积SiC MOSFET的电热分析

Electrothermal Analysis of a Double-Side Cooling Power Module With Large-Area SiC MOSFETs

Yi Jiang · Cancan Li · Liming Che · Yizhuo Dong 等6人 · IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology · 2024年11月

与传统的硅绝缘栅双极型晶体管(IGBT)相比,碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)的芯片面积通常较小。大面积(10×10 毫米)碳化硅 MOSFET 的性能有待研究。本文对大面积碳化硅 MOSFET 与常规尺寸(5×5 毫米)碳化硅 MOSFET 并联时的电热特性进行了分析。结果表明,与常规尺寸芯片相比,大面积芯片优化了封装参数,减轻了电流不平衡问题,并且在双面冷却(DSC)模块中具有更好的热性能。制作了采用大面积芯片的 SOT - 227 模块,并对该模块的...

解读: 从阳光电源的业务角度分析,这项关于大面积SiC MOSFET双面冷却功率模块的研究具有重要的战略价值。SiC功率器件是我们光伏逆变器和储能变流器的核心部件,直接影响系统的功率密度、效率和可靠性。 该研究提出的10×10mm大面积SiC MOSFET相比传统5×5mm芯片并联方案,在多个维度展现出显...

功率器件技术 SiC器件 ★ 4.0

栅极电压凹陷作为碳化硅MOSFET在线健康监测的新指标

Gate Voltage Dip as a New Indicator for Online Health Monitoring of SiC MOSFETs

Mathis Picot-Digoix · Frédéric Richardeau · Jean-Marc Blaquière · Sébastien Vinnac 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年10月

由于碳化硅/二氧化硅界面质量不佳以及其栅氧化层较薄,碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)比硅金属氧化物半导体场效应晶体管(Si MOSFET)更易受电荷俘获机制的影响。随着时间的推移,这些现象会加剧,导致晶体管性能下降和损耗增加。为了监测这种老化机制,本文提出了一种模拟方法,用于从栅极电压($V_{GS}$)波形中提取一个新发现的健康指标。这是通过使用双通道有源栅极驱动器减缓特定的导通过程来实现的。随后,该在线健康监测方法在一台1200 V - 36 A的碳化硅金属氧化物半...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于栅极电压监测的SiC MOSFET在线健康管理技术具有重要的战略价值。作为光伏逆变器和储能系统的核心功率器件,SiC MOSFET的可靠性直接影响系统的整体性能和生命周期成本。 该技术针对SiC器件固有的电荷俘获机制导致的性能退化问题,提出了创新的模拟监测方法。通...