找到 14 条结果 · 功率器件技术

排序:
功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

桥臂电路中同步SiC MOSFET体二极管引起的负偏置阈值电压不稳定性

Body Diode Induced Negative-Bias Vth Instability of Synchronous SiC MOSFET in Bridge-Leg Circuit

Peixuan Wang · Yunhong Lao · Youyi Yin · Meng Zhang 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 预计 2026年6月

本文报道了桥臂电路中同步SiC MOSFET因体二极管引起的负偏置阈值电压(Vth)不稳定性。在反向恢复阶段,体二极管注入的空穴向源极/栅极侧移动,部分空穴轰击栅氧化层,导致栅氧化层缺陷/陷阱产生,进而引起Vth漂移。

解读: 该研究直接关系到阳光电源组串式逆变器、PowerTitan储能系统及电动汽车充电桩中SiC功率模块的长期可靠性。随着公司产品向高功率密度、高开关频率演进,SiC器件的应用日益广泛。该文揭示的体二极管反向恢复导致的Vth漂移机制,对公司在高温、高频工况下的驱动电路设计及栅极保护策略具有重要指导意义。建...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

一种基于内置NTC传感器的SiC功率模块多芯片结温估计AI新方法

A Novel Artificial Intelligence-Enabled Junction Temperature Estimation Method for Multiple Chips in a SiC Power Module Based on an Inherent Built-in NTC Sensor

Zhewei Zhang · Laili Wang · Jin Zhang · Yi Liu 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 预计 2026年5月

结温是SiC功率模块监测的关键参数。针对现有非侵入式结温估计方法在处理多芯片热耦合及复杂工况时精度与分辨率不足的问题,本文提出了一种基于人工智能的创新结温估计方法,有效提升了多芯片模块的温度监测精度。

解读: 该技术对于阳光电源的组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统至关重要。随着SiC器件在高性能逆变器和PCS中的广泛应用,多芯片热耦合导致的结温不均是影响系统可靠性的核心挑战。该AI方法利用内置NTC传感器实现高精度结温估计,可直接集成于iSolarCloud智能运维平台,实现...

功率器件技术 SiC器件 GaN器件 功率模块 ★ 5.0

由单个GaN HEMT控制并联SiC JFET构建的1200V/22mΩ常闭型SiC/GaN共源共栅器件的静态与动态特性

Static and Dynamic Characteristics of a 1200-V/22 -mΩ Normally-Off SiC/GaN Cascode Device Built With Parallel-Connected SiC JFETs Controlled by a Single GaN HEMT

Gang Lyu · Jiahui Sun · Jin Wei · Kevin J. Chen · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年10月

本文提出了一种SiC-JFET/GaN-HEMT混合功率开关。通过单个低压增强型GaN-HEMT控制多个并联的高压1200V SiC-JFET,实现了共源共栅(Cascode)配置下的电流容量扩展,且仅需一套驱动电路,简化了高功率密度变换器的设计。

解读: 该技术对阳光电源的组串式逆变器及PowerTitan储能系统具有重要价值。通过SiC与GaN的混合封装,可有效提升1200V电压等级下的功率密度与开关效率,降低系统损耗。建议研发团队关注该共源共栅结构在多路并联应用中的均流特性与热管理,这有助于进一步缩小逆变器与PCS模块的体积,提升整机效率,特别是...

功率器件技术 功率模块 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

超快dv/dt方波脉冲下功率模块的局部放电行为

Partial Discharge Behaviors in Power Modules Under Square Pulses With Ultrafast dv/dt

Haoyang You · Zhuo Wei · Boxue Hu · Zheng Zhao 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年3月

宽禁带半导体器件的高速开关特性可能改变功率模块、母排及负载的局部放电(PD)特性。本文针对超快dv/dt方波脉冲下的PD行为进行了研究,重点分析了不同沟槽间距的直接键合铜(DBC)样品的放电特性,为高频功率变换系统的绝缘设计提供了理论依据。

解读: 随着阳光电源在组串式逆变器和PowerTitan储能系统中大规模应用SiC等宽禁带半导体器件,高频化带来的超快dv/dt对功率模块绝缘性能提出了严峻挑战。本文研究的局部放电行为直接关系到高压功率模块的长期可靠性与寿命。建议研发团队在设计高功率密度产品时,参考该研究优化DBC布局与绝缘结构,以规避高频...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 5.0

最大化650V p-GaN栅极HEMT性能:动态导通电阻表征与电路设计考量

Maximizing the Performance of 650-V p-GaN Gate HEMTs: Dynamic RON Characterization and Circuit Design Considerations

Hanxing Wang · Jin Wei · Ruiliang Xie · Cheng Liu 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2017年7月

本文系统表征了650V/13A增强型p-GaN栅极功率晶体管。重点评估了静态与动态(开关)条件下的导通电阻(RON)和阈值电压(VTH)。研究发现动态RON对栅极驱动电压(VGS)的依赖性与静态RON存在显著差异,为高频高效电力电子变换器的设计提供了关键参考。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能系统(如PowerStack)中对高功率密度和高效率的需求日益增加,GaN器件的应用已成为技术演进的关键。本文对650V p-GaN器件动态RON的深入表征,直接指导了高频开关电路的设计与驱动优化,有助于降低逆变器损耗并缩小体积。建议研发团队在下一代高频组串式...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

增强型GaN p型场效应晶体管中的极化增强电导

Polarization-enhanced conductivity in enhancement-mode GaN p-FET

Hengyuan Qi · Teng Li · Jingjing Yu · Jialin Duan 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年9月 · Vol.127

本文报道了一种通过极化工程实现高电导率的增强型GaN p型场效应晶体管。利用AlN/GaN超晶格中的自发和压电极化效应,显著增强了空穴载流子浓度与迁移特性,从而在常关型器件中实现了优异的导通性能。实验结果表明,极化诱导的二维空穴气有效调制了p型沟道电导,提升了器件的电流开关比和阈值电压稳定性。该策略为高性能GaN基互补电路的发展提供了可行路径。

解读: 该GaN p-FET极化增强技术对阳光电源的功率变换产品具有重要价值。通过AlN/GaN超晶格结构提升的载流子特性,可显著改善SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器中GaN器件的导通性能,有助于降低开关损耗。特别是在1500V高压系统中,该技术可提升GaN器件的可靠性和效率。同时,增强型p-FET的...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 4.0

桥臂电路中肖特基型p-GaN栅HEMT漏极相关阈值电压漂移及误导通分析

Analysis of Drain-Dependent Threshold Voltage and False Turn-On of Schottky-Type p-GaN Gate HEMT in Bridge-Leg Circuit

Zetao Fan · Maojun Wang · Jin Wei · Muqin Nuo 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年2月

本文分析了肖特基型p-GaN栅高电子迁移率晶体管(HEMT)在桥臂电路高压开关过程中的阈值电压(Vth)负向漂移及其引发的误导通问题。通过脉冲IV测量手段,研究了高漏源电压(VDS)对器件阈值特性的影响,为提升GaN功率器件在高压应用下的可靠性提供了理论依据。

解读: 随着阳光电源在户用及工商业光伏逆变器中对高功率密度要求的提升,GaN器件的应用前景广阔。本文研究的p-GaN栅HEMT在桥臂电路中的误导通风险,直接关系到逆变器功率模块的可靠性设计。建议研发团队在开发基于GaN的下一代高频变换器时,重点关注高压开关下的Vth漂移特性,优化驱动电路设计以抑制误导通,从...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 4.0

p-GaN栅极功率HEMT开关运行下动态关断漏电流的物理经验模型

A Physics-Based Empirical Model of Dynamic IOFF Under Switching Operation in p-GaN Gate Power HEMTs

Yuru Wang · Tao Chen · Mengyuan Hua · Jin Wei 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年9月

本文基于物理机制,建立了p-GaN栅极高电子迁移率晶体管(HEMT)在开关运行下动态关断漏电流(IOFF)的经验模型。模型综合考虑了开关频率、占空比、关断延迟时间、栅极驱动电压及温度等关键运行条件对漏电流的影响。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化充电桩产品中对高功率密度要求的提升,GaN器件的应用前景广阔。该模型揭示了p-GaN HEMT在动态开关过程中的漏电流演变规律,对于优化逆变器及充电桩的驱动电路设计、提升系统效率及热管理水平具有重要指导意义。建议研发团队在下一代高频化、小型化功率模块设计中,引入该...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 4.0

将动态阈值电压纳入肖特基型p-GaN栅极功率HEMT的SPICE模型

Incorporating the Dynamic Threshold Voltage Into the SPICE Model of Schottky-Type p-GaN Gate Power HEMTs

Han Xu · Jin Wei · Ruiliang Xie · Zheyang Zheng 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年5月

本文研究了增强型肖特基型p-GaN栅极HEMT的阈值电压(VTH)对漏极偏置的依赖性。研究发现,器件从高漏压关断状态切换至导通状态时,所需的栅极电压高于静态特性预期。文章揭示了这种动态VTH现象的物理机制,并将其纳入SPICE模型以提高仿真精度。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能产品中对高功率密度要求的提升,GaN器件的应用前景广阔。该研究提出的动态阈值电压SPICE模型,能够显著提升电路仿真在宽禁带半导体应用中的准确性,避免因模型偏差导致的驱动电路设计失效。建议研发团队在开发下一代高频、高效率组串式逆变器及微型逆变器时,引入该动态模...

功率器件技术 SiC器件 GaN器件 功率模块 ★ 4.0

1200V常闭型SiC-JFET/GaN-HEMT共源共栅器件的Dv/Dt控制

Dv/Dt-Control of 1200-V Normally-off SiC-JFET/GaN-HEMT Cascode Device

Gang Lyu · Yuru Wang · Jin Wei · Zheyang Zheng 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年3月

本文提出了一种1200V常闭型SiC-JFET/GaN-HEMT共源共栅器件。该结构结合了高压SiC JFET与低压GaN HEMT的优势,在热稳定性和开关性能上优于传统SiC MOSFET,但同时也带来了dv/dt控制方面的挑战。

解读: 该技术对阳光电源的组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统具有重要意义。1200V宽禁带器件是实现高功率密度、高效率的关键。SiC-JFET/GaN-HEMT共源共栅结构在提升开关频率、降低开关损耗方面潜力巨大,有助于进一步缩小逆变器和PCS体积。建议研发团队关注该器件在高频...

功率器件技术 GaN器件 SiC器件 功率模块 ★ 4.0

一种用于高压高频应用的新型常关型SiC-JFET/GaN-HEMT共封装级联器件

A Normally-off Copackaged SiC-JFET/GaN-HEMT Cascode Device for High-Voltage and High-Frequency Applications

Gang Lyu · Yuru Wang · Jin Wei · Zheyang Zheng 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2020年9月

本文展示了一种1200V/100mΩ的碳化硅(SiC)JFET与氮化镓(GaN)HEMT混合功率开关。该器件采用倒装芯片共封装级联配置,结合了垂直型SiC JFET的高压阻断能力与横向GaN HEMT的低压驱动优势,实现了高压与高频性能的优化。

解读: 该技术对阳光电源的组串式逆变器及PowerTitan储能变流器具有重要参考价值。通过SiC与GaN的级联封装,可在不牺牲耐压等级的前提下显著提升开关频率,从而进一步缩小磁性元件体积,提升整机功率密度。建议研发团队关注该混合封装技术在下一代高频化、小型化光伏逆变器及储能PCS中的应用潜力,特别是在追求...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 4.0

基于p-GaN栅极的常关型GaN晶体管在桥臂电路中的开关瞬态分析

Switching Transient Analysis for Normally-off GaN Transistor With p-GaN Gate in a Phase-Leg Circuit

Ruiliang Xie · Xu Yang · Guangzhao Xu · Jin Wei 等11人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2019年4月

本文研究了商用常关型p-GaN栅极高电子迁移率晶体管(HEMT)的开关特性。分析了栅极区域肖特基结与p-GaN/AlGaN/GaN异质结的电学特性,探讨了p-GaN层在桥臂电路开关瞬态过程中的电位变化及其对器件动态性能的影响,为高频功率变换器的设计提供了理论支撑。

解读: 随着电力电子技术向高频化、高功率密度发展,GaN器件在阳光电源的户用光伏逆变器及小型化充电桩产品中具有巨大的应用潜力。本文对p-GaN栅极GaN器件开关瞬态的深入分析,有助于研发团队优化驱动电路设计,抑制开关过程中的电压振荡与EMI问题,从而提升逆变器效率。建议在下一代高频化户用逆变器及便携式储能产...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 4.0

氮化镓高电子迁移率晶体管

GaN-based HEMTs)击穿特性表征方法分析

Sheng Lei Zhao · Bin Hou · Wei Wei Chen · Min Han Mi 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2016年2月

本文通过研究关断状态漏电流和击穿曲线,分析了GaN HEMT的击穿特性表征方法。研究发现,在七种常规击穿曲线中,仅有两种能通过传统三端击穿表征方法合理呈现,并针对其余五种击穿类型进行了深入探讨。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化充电桩领域对功率密度要求的不断提升,GaN器件的应用成为关键技术趋势。本文提出的击穿特性表征方法,对于优化阳光电源功率模块的选型、提升高频变换器的可靠性设计具有重要参考价值。建议研发团队将此表征方法引入GaN器件的入库测试与失效分析流程中,以更精准地评估器件在极端...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 3.0

用于飞轮储能系统主动磁轴承的宽带宽氮化镓开关功率放大器

A Wide Bandwidth GaN Switching Power Amplifier of Active Magnetic Bearing for a Flywheel Energy Storage System

Hong-Jin Hu · Kun Liu · Haoze Wang · Jing-Bo Wei · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年2月

开关功率放大器(SPA)为主动磁轴承(AMB)提供驱动电流以实现磁悬浮控制。电流带宽和纹波是SPA设计的关键。提高直流母线电压虽能提升带宽,但会增加电流纹波。本文探讨了利用氮化镓(GaN)器件实现宽带宽SPA的方案,以优化飞轮储能系统中的磁悬浮性能。

解读: 该技术主要涉及高频功率变换与磁悬浮控制,虽非阳光电源核心的光伏或电化学储能产品,但对公司未来探索物理储能(如飞轮储能)及高端工业驱动领域具有参考价值。GaN器件在高频、高带宽应用中的优势,可为阳光电源在提升逆变器功率密度、优化小功率辅助电源或精密控制系统方面提供技术储备。建议关注GaN在高速电机驱动...