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基于p-GaN栅极的常关型GaN晶体管在桥臂电路中的开关瞬态分析
Switching Transient Analysis for Normally-off GaN Transistor With p-GaN Gate in a Phase-Leg Circuit
| 作者 | Ruiliang Xie · Xu Yang · Guangzhao Xu · Jin Wei · Yuru Wang · Hanxing Wang · Mofan Tian · Feng Zhang · Wenjie Chen · Laili Wang · Kevin J. Chen |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2019年4月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 拓扑与电路 |
| 相关度评分 | ★★★★ 4.0 / 5.0 |
| 关键词 | GaN HEMT p-GaN 栅极 开关瞬态 桥臂电路 电力电子 肖特基结 异质结 |
语言:
中文摘要
本文研究了商用常关型p-GaN栅极高电子迁移率晶体管(HEMT)的开关特性。分析了栅极区域肖特基结与p-GaN/AlGaN/GaN异质结的电学特性,探讨了p-GaN层在桥臂电路开关瞬态过程中的电位变化及其对器件动态性能的影响,为高频功率变换器的设计提供了理论支撑。
English Abstract
Commercially available normally-off GaN power high-electron-mobility transistor (HEMT) devices have typically adopted a p-GaN gate structure. In the gate region, there exist a Schottky junction (between gate electrode and the p-GaN layer) and a p-GaN/AlGaN/GaN heterojunction. As the p-GaN layer is not directly shorted to the gate electrode and conducting channel, it can be considered as electrical...
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SunView 深度解读
随着电力电子技术向高频化、高功率密度发展,GaN器件在阳光电源的户用光伏逆变器及小型化充电桩产品中具有巨大的应用潜力。本文对p-GaN栅极GaN器件开关瞬态的深入分析,有助于研发团队优化驱动电路设计,抑制开关过程中的电压振荡与EMI问题,从而提升逆变器效率。建议在下一代高频化户用逆变器及便携式储能产品的研发中,重点评估该类器件在桥臂电路中的可靠性,并结合iSolarCloud数据反馈,优化高频开关下的热管理与保护策略。