找到 33 条结果 · 功率器件技术

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功率器件技术 SiC器件 功率模块 宽禁带半导体 ★ 5.0

电力电子系统的多时间尺度耦合仿真框架及分段解析SiC MOSFET瞬态模型

A Multitimescale Coupled Simulation Framework for Power Electronic Systems and the Piecewise Analytical SiC MOSFET Transient Model

Yikang Xiao · Yong Chen · Xu Cheng · Bochen Shi 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2026年4月

随着碳化硅(SiC)MOSFET等宽禁带器件的广泛应用,开关瞬态对电力电子系统的影响日益显著。本文提出了一种多时间尺度耦合仿真框架,将纳秒至微秒级的器件瞬态行为与毫秒至秒级的系统级运行相结合,通过分段解析模型精确描述SiC MOSFET的开关过程,为电力电子系统的设计与优化提供了高效的仿真工具。

解读: 该研究对阳光电源的核心业务具有极高的应用价值。随着公司组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统向更高功率密度和效率演进,SiC器件的应用已成为提升产品竞争力的关键。该多时间尺度仿真框架能有效解决SiC器件在高频开关下的电磁干扰(EMI)与热应力问题,缩短研发周期。建议研发团队...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

基于场路耦合的SiC MOSFET电热耦合建模及其在浪涌结温计算中的应用

Electrical-Thermal Coupling Modeling of SiC MOSFETs Based on Field-Circuit Coupling and Its Application in Junction Temperature Calculation During Surges

Yao Zhao · Zhiqiang Wang · Jinjun Wang · Yingbo Tang 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年2月

芯片温度对于评估SiC MOSFET的浪涌可靠性至关重要。与常规工况下依赖虚拟结温不同,评估浪涌条件下芯片内部的非均匀温度分布对于提升器件鲁棒性和现场可靠性至关重要。本文提出了一种基于场路耦合的SiC MOSFET电热耦合建模新方法,用于精确计算浪涌过程中的结温分布。

解读: 该研究直接服务于阳光电源核心产品线(如组串式逆变器、PowerTitan储能系统及风电变流器)中SiC器件的选型与可靠性设计。随着公司产品向高功率密度、高效率演进,SiC器件在极端浪涌工况下的热应力分析成为提升系统鲁棒性的关键。该电热耦合建模方法可应用于研发阶段的功率模块仿真,优化散热设计与驱动保护...

功率器件技术 IGBT 可靠性分析 深度学习 ★ 5.0

基于LSTM网络的IGBT结温时间序列特性表征方法

A Time Series Characterization of IGBT Junction Temperature Method Based on LSTM Network

Zheng-Wei Du · Yu Zhang · Yuankui Wang · Zhiyuan Chen 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年1月

准确的结温表征对IGBT模块的性能优化与可靠性设计至关重要。针对现有方法多关注特定时刻温度预测而非时间序列变化的问题,本文提出了一种基于长短期记忆(LSTM)网络的方法,通过捕捉结温的时间演变特征,实现了对IGBT结温的精确追踪与表征。

解读: IGBT是阳光电源光伏逆变器、储能变流器(PCS)及风电变流器的核心功率器件。结温直接决定了器件的寿命与系统的可靠性。该研究利用LSTM网络实现结温的时间序列追踪,可深度集成于iSolarCloud智能运维平台,实现对组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统内部功率模块的实时...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

关于最先进1200V双沟槽SiC MOSFET短路失效机理的深入研究

An In-Depth Investigation Into Short-Circuit Failure Mechanisms of State-of-the-Art 1200 V Double Trench SiC MOSFETs

Xuan Li · Yifan Wu · Zhao Qi · Zhen Fu 等10人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年12月

本文全面研究了1200V增强型双沟槽结构SiC MOSFET(RDT-MOS)的短路能力,分析了在不同直流母线电压和栅极驱动电压下的最大短路时间和能量,并深入探讨了其失效机理。

解读: 随着阳光电源在光伏逆变器(如SG系列组串式逆变器)和储能系统(如PowerTitan系列)中大规模应用SiC功率器件以提升功率密度和转换效率,该研究对提升产品可靠性至关重要。双沟槽SiC MOSFET的短路耐受能力直接影响逆变器在电网故障或负载短路时的保护策略。建议研发团队参考该失效机理,优化驱动电...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

考虑阈值电压不稳定性SiC MOSFET动态分析开关损耗模型

Dynamic Analytical Switching Loss Model of SiC MOSFET Considering Threshold Voltage Instability

Yumeng Cai · Peng Sun · Yuankui Zhang · Cong Chen 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年11月

准确的开关损耗建模对SiC MOSFET及功率变换器至关重要。本文针对长期运行中栅氧化层退化对开关性能的影响,提出了一种考虑阈值电压(VTH)不稳定性导致的“动态”时间相关分析模型,填补了传统静态模型在长期可靠性评估方面的空白。

解读: 随着阳光电源在组串式逆变器、PowerTitan储能系统及风电变流器中大规模应用SiC器件以提升功率密度和效率,器件的长期可靠性成为核心竞争力。该研究提出的动态损耗模型能更精准地预测SiC MOSFET在全生命周期内的性能漂移,有助于优化逆变器及PCS的寿命预测算法。建议研发团队将其引入iSolar...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

一种基于残余电阻的SiC MOSFET栅极退化无关在线结温估计方法

A Gate Degradation Independent Online Junction Temperature Estimation Method for SiC MOSFETs Based on Residual Resistance

Zhigang Zhao · Peng Wang · Tianyuan Chen · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年10月

结温估计对提升SiC MOSFET在实际应用中的可靠性至关重要。热敏电参数(TSEP)常被用于结温监测,但栅极退化会改变TSEP与温度的相关性,从而降低估计精度。本文提出了一种基于残余电阻的在线结温估计方法,该方法能够有效消除栅极退化对结温监测的影响,提高功率器件在长期运行中的可靠性。

解读: 随着阳光电源在组串式逆变器、PowerTitan储能系统及风电变流器中大规模应用SiC功率模块,器件的长期可靠性成为核心竞争力。该研究提出的栅极退化无关结温估计方法,能够解决SiC器件在复杂工况下因老化导致的测温漂移问题。建议将该算法集成至iSolarCloud智能运维平台或逆变器底层控制逻辑中,实...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 5.0

SiC MOSFET开关运行中栅极氧化层退化研究

Investigation on Gate Oxide Degradation of SiC MOSFET in Switching Operation

Yumeng Cai · Peng Sun · Cong Chen · Yuankui Zhang 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年8月

本文研究了SiC MOSFET在开关运行过程中的栅极氧化层退化问题。通过搭建Buck变换器,重点分析了动态漏源电压(VDS)和负载电流(IL)对栅极氧化层可靠性的影响,旨在建立有效的SiC器件栅极可靠性评估方法,为高压功率器件的应用提供理论支撑。

解读: SiC MOSFET是阳光电源组串式逆变器、PowerTitan储能系统及电动汽车充电桩提升功率密度与效率的核心器件。栅极氧化层可靠性直接关系到产品在复杂工况下的长期寿命。本文提出的动态应力评估方法对于阳光电源在器件选型、驱动电路优化以及功率模块的寿命预测具有重要指导意义。建议研发团队将此研究成果应...

功率器件技术 功率模块 可靠性分析 热仿真 ★ 5.0

基于POD算法的电力电子器件多时间尺度热网络模型

Multitimescale Thermal Network Model of Power Devices Based on POD Algorithm

Yao Zhao · Zhiqiang Wang · Dan Luo · Cuili Chen 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年4月

针对传统热网络模型难以准确预测电力电子器件多时间尺度温度信息的问题,本文提出了一种基于本征正交分解(POD)算法的热网络模型。以MOSFET为例,该模型通过POD算法有效捕捉了器件在不同时间尺度下的热响应特性,显著提升了温度预测的精度与效率,为电力电子系统的热设计提供了新方法。

解读: 该研究对于阳光电源的核心产品线(如组串式/集中式光伏逆变器、PowerTitan/PowerStack储能系统)具有极高的应用价值。在功率密度不断提升的背景下,精确的热管理是保证IGBT/SiC功率模块可靠性的关键。POD算法能够实现计算效率与精度的平衡,建议将其集成至iSolarCloud智能运维...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

基于分裂C-V法在偏置温度不稳定性条件下SiC MOSFET栅氧化层退化位置表征

Characterization of Gate-Oxide Degradation Location for SiC MOSFETs Based on the Split C–V Method Under Bias Temperature Instability Conditions

Yumeng Cai · Cong Chen · Zhibin Zhao · Peng Sun 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年5月

栅氧化层退化是SiC MOSFET面临的主要可靠性挑战之一。本文提出了一种基于分裂C-V(CGS和CGD)的方法,用于在偏置温度不稳定性(BTI)条件下精准定位栅氧化层的退化位置,这对提升功率器件的长期可靠性具有重要意义。

解读: SiC MOSFET是阳光电源组串式光伏逆变器、PowerTitan储能系统及电动汽车充电桩的核心功率器件。随着产品向高功率密度和高效率演进,SiC器件的长期可靠性直接决定了系统的全生命周期运维成本。该研究提出的分裂C-V表征方法,能够帮助研发团队在器件选型及失效分析阶段,精准定位栅氧化层退化机理,...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

平面型FS 3.3 kV/50 A IGBT芯片在钳位电感负载下两种关断失效的比较

Comparisons of Two Turn-off Failures Under Clamped Inductive Load in Planar FS 3.3 kV/50 A IGBT Chip

Jiayu Fan · Yaohua Wang · Feng He · Mingchao Gao 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年12月

本文研究了绝缘栅双极型晶体管(IGBT)在钳位电感负载下的关断失效问题,重点分析了动态闩锁效应和二次击穿两种失效机理。通过实验研究,揭示了这两种失效模式的典型特征及差异,为高压IGBT芯片的可靠性评估与设计提供了关键参考。

解读: 高压IGBT是阳光电源集中式逆变器及大型储能系统(如PowerTitan)的核心功率器件。3.3kV等级器件常用于中高压变流器架构,其关断失效机理直接关系到系统的安全运行边界。本文对动态闩锁和二次击穿的深入研究,有助于阳光电源研发团队在设计阶段优化驱动电路参数、改善散热布局,并提升在极端工况下的可靠...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

裸DBA基板上银烧结连接在老化、热冲击及1200 W/cm²功率循环测试下的界面力学与热特性研究

Interface-Mechanical and Thermal Characteristics of Ag Sinter Joining on Bare DBA Substrate During Aging, Thermal Shock and 1200 W/cm2 Power Cycling Tests

Chuantong Chen · Dongjin Kim · Zheng Zhang · Naoki Wakasugi 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年6月

本文研究了在250°C无压条件下,利用微米级银烧结技术将SiC芯片直接连接至裸DBA(Al/AlN/Al)基板的工艺。实验表明,银-铝界面具有33.6 MPa的稳固结合力。通过1000小时250°C高温存储、热冲击及1200 W/cm²功率循环测试,验证了该封装结构在极端工况下的热机械可靠性。

解读: 该研究直接关联阳光电源的核心功率模块封装技术。随着公司在光伏逆变器和PowerTitan系列储能PCS中大规模应用SiC器件,提升功率密度与可靠性至关重要。银烧结技术替代传统焊料是实现高功率密度设计的关键,而裸DBA基板的应用有助于降低成本并优化热传导路径。建议研发团队关注该界面在极端功率循环下的失...

功率器件技术 IGBT 可靠性分析 故障诊断 ★ 5.0

利用PWM开关振荡进行IGBT关断时间的非接触式监测

Noncontact Monitoring of IGBT Turn-OFF Time Using PWM Switching Ringing for Inverter-Fed Machine Systems

Dawei Xiang · Ning Zhao · Hao Li · Xinyu Zhang 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年10月

IGBT关断时间是评估器件结温及健康状态的关键参数。传统直接测量法存在安全与复杂性问题。本文提出一种利用PWM开关振荡进行非接触式监测的新方法,无需直接接触高压侧,即可实现对IGBT运行状态的有效监控。

解读: 该技术对阳光电源的核心产品线(光伏逆变器、储能PCS、风电变流器)具有极高的应用价值。作为全球领先的逆变器供应商,阳光电源的产品广泛应用于严苛环境,IGBT的可靠性直接决定了系统的寿命。该非接触式监测方法可集成至iSolarCloud智能运维平台,实现对组串式及集中式逆变器内部核心功率模块的实时健康...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

用于精确测量压接式IGBT内部结温分布的顺序Vce(T)法

Sequential Vce(T) Method for the Accurate Measurement of Junction Temperature Distribution Within Press-Pack IGBTs

Yiming Zhang · Erping Deng · Zhibin Zhao · Jie Chen 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年4月

本文提出了一种结合独立栅极控制器的顺序Vce(T)方法,用于测量压接式IGBT(PP IGBT)内部的结温分布。由于压接式封装的封闭结构和外部压力,传统测温方法难以实现,该方法有效解决了这一技术难题。

解读: 压接式IGBT(PP IGBT)是阳光电源大功率集中式光伏逆变器及大型储能系统(如PowerTitan系列)的核心功率模块。该研究提出的结温分布测量技术,能够精准捕捉高功率密度运行下的热点分布,对提升大功率变流器的热设计水平、优化散热结构及提高系统长期运行可靠性具有重要指导意义。建议研发团队将其应用...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

基于LTCC的碳化硅功率模块集成电流传感器

LTCC Based Current Sensor for Silicon Carbide Power Module Integration

Peng Sun · Xiang Cui · Si Huang · Pengyu Lai 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年1月

电流传感器集成可显著提升功率模块的功率密度与可靠性。针对现有传感器难以适配碳化硅(SiC)模块的问题,本文提出了一种基于低温共烧陶瓷(LTCC)的低剖面、可安装电流传感器,并对其电流容量、带宽、电气绝缘及热特性进行了验证。

解读: 该技术对阳光电源的SiC功率模块应用至关重要。随着PowerTitan系列储能系统及组串式逆变器向更高功率密度演进,SiC器件的应用日益广泛,但高频开关带来的电流检测难题限制了系统性能。LTCC集成电流传感器方案能够实现紧凑的电流采样,减少寄生参数,提升系统动态响应与保护精度。建议研发团队关注该传感...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

功率循环过程中铝金属化层微观结构演变对其电气性能影响的研究

A Study on the Effect of Microstructure Evolution of the Aluminum Metallization Layer on Its Electrical Performance During Power Cycling

Jingyi Zhao · Tong An · Chao Fang · Xiaorui Bie 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2019年11月

本文量化了高功率IGBT模块在功率循环过程中,铝金属化层微观结构重构与电阻退化之间的相关性。通过电子和离子显微镜技术,深入研究了铝金属化层在热机械应力下的微观演变机制,为功率器件的寿命预测与可靠性评估提供了理论支撑。

解读: IGBT模块是阳光电源组串式逆变器、集中式逆变器以及PowerTitan/PowerStack储能变流器(PCS)的核心功率器件。功率循环导致的铝层重构是引起器件失效的关键因素。该研究揭示的失效机理有助于研发团队在产品设计阶段优化功率模块的封装工艺,提升在极端工况下的热机械稳定性。建议将此研究成果应...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 4.0

基于拖尾电流动力学物理描述的串联FS-IGBT电压不平衡建模与分析

Modeling and Analysis of Voltage Imbalance in Series-Connected FS-IGBTs Based on Physical Description of Tail-Current Dynamics

Xianzhe Bao · Chushan Li · Yunfei Xu · Guoliang Zhao 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 预计 2026年6月

串联IGBT在关断过程中因拖尾电流差异产生二次电压不平衡。现有模型往往简化了载流子传输与复合等物理过程,导致对拖尾电流描述不准。本文提出了一种基于物理描述的建模方法,旨在更准确地表征电压不平衡现象,为高压功率器件的串联应用提供理论支撑。

解读: 该研究对于阳光电源在高压集中式光伏逆变器及大型储能系统(如PowerTitan系列)中的功率模块设计具有重要参考价值。在超高压应用场景下,IGBT串联技术是提升系统电压等级的关键,而电压不平衡直接影响器件的可靠性与寿命。通过深入理解拖尾电流的物理机制,研发团队可以优化驱动电路设计及均压控制策略,从而...

功率器件技术 功率模块 储能变流器PCS ★ 4.0

一种新型集成门极换流晶闸管多级门极驱动单元

A Novel Multistage Gate Unit of Integrated Gate Commutated Thyristor

Jie Shang · Jinpeng Wu · Biao Zhao · Zhengyu Chen 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年11月

随着集成门极换流晶闸管(IGCT)向大尺寸、高关断电流方向发展,其门极驱动单元需具备更强的关断能力和更高的换流速度。受限于寄生阻抗和20V恒定门极电压,传统驱动单元已接近其换流容量极限。本文提出了一种新型多级门极驱动单元概念及其控制方案,旨在突破现有IGCT驱动技术的性能瓶颈。

解读: IGCT作为高压大功率电力电子器件,在阳光电源的大型集中式光伏逆变器及高压储能变流器(如PowerTitan系列)中具有潜在应用价值。该研究提出的多级门极驱动技术能够显著提升IGCT的关断速度与电流处理能力,有助于进一步优化大功率变流器的功率密度和效率。建议研发团队关注该驱动架构在降低开关损耗及提升...

功率器件技术 多电平 功率模块 可靠性分析 ★ 4.0

一种用于模块化多电平变换器且具有过压旁路功能的新型穿通型IGCT

A Novel Controlled Punch-Through IGCT for Modular Multilevel Converter With Overvoltage Bypass Function

Jiapeng Liu · Biao Zhao · Yongmin Chen · Wenpeng Zhou 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年7月

传统功率器件在过压击穿及随后的高浪涌能量冲击下,难以保证封装完整性和短路特性。目前,模块化多电平变换器(MMC)的子模块通常需要额外的旁路晶闸管来实现稳定的过压旁路保护。本文提出了一种新型受控穿通型IGCT(CP-IGCT),旨在提升器件在极端工况下的可靠性与保护能力。

解读: 该技术对于阳光电源的大功率电力电子变换设备具有重要参考价值。在大型储能系统(如PowerTitan系列)及高压大功率集中式光伏逆变器中,MMC拓扑的应用日益广泛。CP-IGCT通过集成过压旁路功能,有望简化子模块电路设计,减少外部旁路晶闸管的使用,从而提升系统功率密度并降低故障率。建议研发团队关注该...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 4.0

一种基于多级阳极电压检测的4500V压接式器件单管关断能力无损测试方案

A Robust Nondestructive Test Scheme Based on Multistage Anode Voltage Detection for 4500 V Single-Cell Turn-Off Capability of Press-Packed Devices

Jiapeng Liu · Zhanqing Yu · Xiaorui Wang · Chunpin Ren 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年5月

针对功率器件单管关断能力测试中,一旦发生关断故障即导致器件损毁的问题,本文提出了一种基于多级阳极电压检测的鲁棒性无损测试方案。该方案能够有效评估4500V压接式器件的关断能力,在保证测试安全的同时,为器件失效机理研究提供了非破坏性的实验手段。

解读: 该研究针对高压压接式器件(如高压IGBT)的关断能力测试,对阳光电源的集中式逆变器及大型储能系统(如PowerTitan系列)中使用的核心功率模块具有重要参考价值。高压压接器件是大型电力电子设备可靠性的基石,该无损测试方案能显著降低研发阶段的器件损耗成本,并提升对器件失效机理的深度理解。建议研发团队...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 4.0

IGBT器件PETT振荡频率的修正公式

The Modified Formula for PETT Oscillation Frequency in IGBT Devices

Jiayu Fan · Xiang Cui · Yue He · Zhibin Zhao 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年5月

等离子体提取渡越时间(PETT)振荡会引发电磁干扰,影响器件运行稳定性。本文针对现有PETT振荡频率计算公式存在的发散问题,提出了一种修正公式,能够更准确地估算振荡频率,从而为抑制该振荡提供理论支撑。

解读: 该研究对阳光电源的核心产品线(如组串式/集中式光伏逆变器、PowerTitan储能变流器及风电变流器)具有重要意义。这些产品广泛使用高功率IGBT模块,PETT振荡引起的电磁干扰(EMI)是导致系统电磁兼容性(EMC)不达标及器件失效的潜在因素。通过应用该修正公式,研发团队可在设计阶段更精确地预测并...

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