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用于精确测量压接式IGBT内部结温分布的顺序Vce(T)法
Sequential Vce(T) Method for the Accurate Measurement of Junction Temperature Distribution Within Press-Pack IGBTs
| 作者 | Yiming Zhang · Erping Deng · Zhibin Zhao · Jie Chen · Yushan Zhao · Jiaqi Guo · Xiang Cui |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2021年4月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | IGBT 功率模块 可靠性分析 热仿真 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | 压接式IGBT 结温 Vce(T)法 热分布 电力电子 可靠性 温度测量 |
语言:
中文摘要
本文提出了一种结合独立栅极控制器的顺序Vce(T)方法，用于测量压接式IGBT（PP IGBT）内部的结温分布。由于压接式封装的封闭结构和外部压力，传统测温方法难以实现，该方法有效解决了这一技术难题。
English Abstract
In this article, a sequential Vce(T) method with separated gate controller is proposed to measure the junction temperature distribution within press-pack insulated gate bipolar transistors (PP IGBTs), which is not possible for traditional temperature measurement methods due to the enclosed structure and external clamping force of the pressure-type package. This proposed method is integrated into a...
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SunView 深度解读
压接式IGBT（PP IGBT）是阳光电源大功率集中式光伏逆变器及大型储能系统（如PowerTitan系列）的核心功率模块。该研究提出的结温分布测量技术，能够精准捕捉高功率密度运行下的热点分布，对提升大功率变流器的热设计水平、优化散热结构及提高系统长期运行可靠性具有重要指导意义。建议研发团队将其应用于大功率模块的寿命预测模型及热管理系统优化中，以进一步提升产品在极端工况下的可靠性。