找到 27 条结果 · IEEE Transactions on Power Electronics

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功率器件技术 功率模块 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

高压电力电子模块DBC在过渡时间尺度下矩形波电压下的局部放电演变机制

Partial Discharge Evolution Mechanism in DBC of High-Voltage Power Electronics Modules Under Rectangular-Wave Voltage in Transitional Time Scale

Zhaocheng Liu · Xiang Cui · Xuebao Li · Weitong Xu 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2026年4月

高压宽禁带模块的绝缘应用面临严峻挑战。本文研究了局部放电(PD)在从初始瞬态向长期稳态演变过程中的特性。该研究对于提升高压电力电子模块的绝缘可靠性具有重要意义。

解读: 该研究直接关联阳光电源的核心功率模块技术。随着公司在组串式逆变器和PowerTitan储能系统中大规模应用SiC等宽禁带器件,高压环境下的绝缘可靠性成为关键。DBC(直接覆铜)基板的局部放电机制研究,能有效指导公司在更高电压等级(如1500V及以上)产品中的封装设计与绝缘选型。建议研发团队参考该演变...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

并联SiC MOSFET动态电流均衡的筛选指标选择与聚类方法

Screening Indicator Selection and Clustering Method for Dynamic Current Balancing of Paralleled SiC MOSFETs

Li Zhang · Zhibin Zhao · Rui Jin · Xiaofeng Yang 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年9月

并联SiC MOSFET可提升载流能力,但参数离散性会导致动态电流不平衡。传统仅筛选阈值电压和跨导的静态方法不足以解决该问题。本文提出了一种新的筛选指标和聚类方法,以有效改善并联SiC MOSFET的动态电流均衡性能,提升功率模块的可靠性。

解读: 该研究对于阳光电源的组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能变流器(PCS)具有重要意义。随着公司产品向高功率密度和高效率演进,SiC器件的应用日益广泛。并联技术是实现大功率模块的关键,但动态电流不平衡直接影响器件寿命与系统可靠性。建议研发团队引入该文提出的动态参数筛选与聚类算法...

可靠性与测试 功率模块 可靠性分析 有限元仿真 ★ 5.0

浪涌条件下键合线FRD芯片的温度评估与失效分析

Temperature Evaluation and Failure Analysis of Wire-Bonded FRD Chips in Surge Conditions

Feilin Zheng · Xiang Cui · Xuebao Li · Zhibin Zhao 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年12月

在浪涌条件下,带键合线的功率二极管芯片失效与自热引起的温升密切相关。然而,现有方法难以准确评估浪涌工况下的芯片温度分布。本文提出了一种基于电热耦合的实验-仿真迭代建模方法,用于精确分析浪涌下的热特性及失效机理。

解读: 该研究对于提升阳光电源核心功率模块的可靠性至关重要。在光伏逆变器和储能变流器(如PowerTitan系列)中,功率器件在电网故障或浪涌冲击下的鲁棒性是系统安全运行的关键。该文提出的电热迭代建模方法,可直接应用于阳光电源功率模块的选型与设计阶段,优化键合线布局与散热设计,从而提升产品在极端工况下的抗浪...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

考虑阈值电压不稳定性SiC MOSFET动态分析开关损耗模型

Dynamic Analytical Switching Loss Model of SiC MOSFET Considering Threshold Voltage Instability

Yumeng Cai · Peng Sun · Yuankui Zhang · Cong Chen 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年11月

准确的开关损耗建模对SiC MOSFET及功率变换器至关重要。本文针对长期运行中栅氧化层退化对开关性能的影响,提出了一种考虑阈值电压(VTH)不稳定性导致的“动态”时间相关分析模型,填补了传统静态模型在长期可靠性评估方面的空白。

解读: 随着阳光电源在组串式逆变器、PowerTitan储能系统及风电变流器中大规模应用SiC器件以提升功率密度和效率,器件的长期可靠性成为核心竞争力。该研究提出的动态损耗模型能更精准地预测SiC MOSFET在全生命周期内的性能漂移,有助于优化逆变器及PCS的寿命预测算法。建议研发团队将其引入iSolar...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 5.0

SiC MOSFET开关运行中栅极氧化层退化研究

Investigation on Gate Oxide Degradation of SiC MOSFET in Switching Operation

Yumeng Cai · Peng Sun · Cong Chen · Yuankui Zhang 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年8月

本文研究了SiC MOSFET在开关运行过程中的栅极氧化层退化问题。通过搭建Buck变换器,重点分析了动态漏源电压(VDS)和负载电流(IL)对栅极氧化层可靠性的影响,旨在建立有效的SiC器件栅极可靠性评估方法,为高压功率器件的应用提供理论支撑。

解读: SiC MOSFET是阳光电源组串式逆变器、PowerTitan储能系统及电动汽车充电桩提升功率密度与效率的核心器件。栅极氧化层可靠性直接关系到产品在复杂工况下的长期寿命。本文提出的动态应力评估方法对于阳光电源在器件选型、驱动电路优化以及功率模块的寿命预测具有重要指导意义。建议研发团队将此研究成果应...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

基于分裂C-V法在偏置温度不稳定性条件下SiC MOSFET栅氧化层退化位置表征

Characterization of Gate-Oxide Degradation Location for SiC MOSFETs Based on the Split C–V Method Under Bias Temperature Instability Conditions

Yumeng Cai · Cong Chen · Zhibin Zhao · Peng Sun 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年5月

栅氧化层退化是SiC MOSFET面临的主要可靠性挑战之一。本文提出了一种基于分裂C-V(CGS和CGD)的方法,用于在偏置温度不稳定性(BTI)条件下精准定位栅氧化层的退化位置,这对提升功率器件的长期可靠性具有重要意义。

解读: SiC MOSFET是阳光电源组串式光伏逆变器、PowerTitan储能系统及电动汽车充电桩的核心功率器件。随着产品向高功率密度和高效率演进,SiC器件的长期可靠性直接决定了系统的全生命周期运维成本。该研究提出的分裂C-V表征方法,能够帮助研发团队在器件选型及失效分析阶段,精准定位栅氧化层退化机理,...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

不均匀温度分布对压接式IGBT电极翘曲的影响

Influence of the Uneven Temperature Distribution on the Electrode Warpage of PP IGBTs

Yiming Zhang · Erping Deng · Jiaqi Guo · Zhibin Zhao 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年4月

本文研究了压接式IGBT(PP IGBT)内部压力与结温分布不均匀的问题。通过分析热机械耦合效应,探讨了垂直和水平温度梯度对电极翘曲的诱导机制,旨在揭示电极翘曲的根本原因,为功率模块的结构优化提供理论支撑。

解读: 压接式IGBT(PP IGBT)是阳光电源大型集中式光伏逆变器及高压储能系统(如PowerTitan系列)中功率模块的核心组件。该研究揭示了电极翘曲的机理,对于提升高功率密度模块的散热设计与长期可靠性至关重要。建议研发团队在模块封装设计阶段引入该热机械耦合模型,优化压力分布,以降低极端工况下的失效风...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

正弦方波电压下高压IGBT模块绝缘结构局部放电特性与识别

Characteristics and Identification of Partial Discharge for Insulation Structures in High Voltage IGBT Modules Under Positive Square Wave Voltage

Xiangchen Liu · Xuebao Li · Chao Li · Jinjin Cheng 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年4月

IGBT模块绝缘是制约其发展的关键因素。本文针对正弦方波电压下的局部放电(PD)测量与绝缘缺陷识别进行了研究,搭建了实验平台,分析了三种主要的绝缘缺陷,为高压功率模块的绝缘设计与可靠性评估提供了理论支撑。

解读: 该研究直接关系到阳光电源核心产品(如组串式逆变器、PowerTitan储能系统及风电变流器)中功率模块的长期可靠性。随着阳光电源产品向更高电压等级(如1500V及以上)演进,高频方波电压下的绝缘老化与局部放电问题愈发突出。建议研发团队将该PD检测方法引入功率模块的选型测试与失效分析流程中,优化模块封...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

桥式结构中IGBT的短路行为与电压重分布

Short-Circuit Behavior and Voltage Redistribution of IGBTs in Bridge Structures

Yixuan Yang · Yilin Wu · Xuebao Li · Zhibin Zhao 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年3月

本文通过半导体器件理论、实验及物理仿真,深入分析了桥式结构中因栅极信号错误导致的短路行为。研究揭示了电压重分布现象及其引发的动态雪崩失效机制,并设计了实验平台进行验证,为提升功率器件在复杂电路中的可靠性提供了理论支撑。

解读: 该研究对阳光电源的核心产品线(光伏逆变器、储能PCS、风电变流器)至关重要。这些产品普遍采用桥式拓扑结构,IGBT作为核心功率开关,其短路耐受能力直接决定了系统的可靠性。文中揭示的电压重分布机制有助于优化驱动电路设计与保护逻辑,特别是在PowerTitan等大功率储能系统及组串式逆变器中,能有效预防...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

基于非对偶关系的电力电子高压大功率IGBT器件瞬态分析模型

Transient Analytical Model of High-Voltage and High-Power IGBT Device Based on Nondual Relationship for the Switching Process

Bin Hao · Yixuan Yang · Xinling Tang · Zhibin Zhao · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年3月

本文针对高压大功率IGBT器件关断电流的精确仿真,提出了一种基于开关过程非对偶关系的瞬态分析模型(TAM)。结合IGBT芯片结构特征,分析了载流子存储效应,并推导了关断过程中di/dt的解析表达式,为提升功率器件开关过程的建模精度提供了理论支撑。

解读: 该研究直接服务于阳光电源的核心功率变换技术。高压大功率IGBT是公司组串式/集中式光伏逆变器、PowerTitan及PowerStack储能系统中的核心器件。通过该瞬态分析模型,研发团队可更精确地评估IGBT在极端工况下的开关损耗与应力,优化驱动电路设计,从而提升逆变器与PCS的转换效率及热稳定性。...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

平面型FS 3.3 kV/50 A IGBT芯片在钳位电感负载下两种关断失效的比较

Comparisons of Two Turn-off Failures Under Clamped Inductive Load in Planar FS 3.3 kV/50 A IGBT Chip

Jiayu Fan · Yaohua Wang · Feng He · Mingchao Gao 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年12月

本文研究了绝缘栅双极型晶体管(IGBT)在钳位电感负载下的关断失效问题,重点分析了动态闩锁效应和二次击穿两种失效机理。通过实验研究,揭示了这两种失效模式的典型特征及差异,为高压IGBT芯片的可靠性评估与设计提供了关键参考。

解读: 高压IGBT是阳光电源集中式逆变器及大型储能系统(如PowerTitan)的核心功率器件。3.3kV等级器件常用于中高压变流器架构,其关断失效机理直接关系到系统的安全运行边界。本文对动态闩锁和二次击穿的深入研究,有助于阳光电源研发团队在设计阶段优化驱动电路参数、改善散热布局,并提升在极端工况下的可靠...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

压接式IGBT器件内部并联芯片电流均流特性的实验研究

Experimental Investigations on Current Sharing Characteristics of Parallel Chips Inside Press-Pack IGBT Devices

Cheng Peng · Xuebao Li · Jiayu Fan · Zhibin Zhao 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年9月

压接式IGBT通过并联多个芯片提升功率密度,但杂散电感、温度及机械压力等外部因素导致的电流不平衡限制了功率提升。本文针对多因素耦合带来的解耦难题,对压接式IGBT内部芯片的电流均流特性进行了实验研究。

解读: 压接式IGBT是阳光电源大功率集中式光伏逆变器及大型储能系统(如PowerTitan系列)的核心功率器件。电流均流特性直接决定了器件的通流能力、热应力分布及长期运行可靠性。本文的研究方法有助于优化阳光电源在大功率变换器设计中的模块封装布局与驱动电路设计,通过精确控制机械压力与热分布,提升系统功率密度...

功率器件技术 功率模块 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

用于降低电磁干扰的开关器件频谱特性参数计算与分析

Calculation and Analysis for Spectrum Characteristics Parameters of Switching Device for Reduced EMI Generation

Bin Hao · Cheng Peng · Xinling Tang · Zhibin Zhao · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年5月

准确获取开关器件的频谱特性参数对于降低开关过程中的电磁干扰(EMI)至关重要。本文提出了通用分析波形(UAW)来等效器件开关过程中的干扰源,并分析了其时域和频域的特性参数,为优化电力电子系统的电磁兼容性设计提供了理论依据。

解读: 电磁兼容性(EMC)是阳光电源组串式逆变器、PowerTitan储能系统及充电桩等高功率密度产品设计的核心挑战。该文章提出的UAW方法能有效量化开关过程中的EMI源,有助于研发团队在设计阶段通过优化驱动电路和拓扑参数,降低滤波器体积与成本。对于SiC/GaN等宽禁带半导体在光伏及储能产品中的大规模应...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

用于精确测量压接式IGBT内部结温分布的顺序Vce(T)法

Sequential Vce(T) Method for the Accurate Measurement of Junction Temperature Distribution Within Press-Pack IGBTs

Yiming Zhang · Erping Deng · Zhibin Zhao · Jie Chen 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年4月

本文提出了一种结合独立栅极控制器的顺序Vce(T)方法,用于测量压接式IGBT(PP IGBT)内部的结温分布。由于压接式封装的封闭结构和外部压力,传统测温方法难以实现,该方法有效解决了这一技术难题。

解读: 压接式IGBT(PP IGBT)是阳光电源大功率集中式光伏逆变器及大型储能系统(如PowerTitan系列)的核心功率模块。该研究提出的结温分布测量技术,能够精准捕捉高功率密度运行下的热点分布,对提升大功率变流器的热设计水平、优化散热结构及提高系统长期运行可靠性具有重要指导意义。建议研发团队将其应用...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

高压IGBT器件中PETT振荡的电磁干扰特性及影响因素研究

Electromagnetic Disturbance Characteristics and Influence Factors of PETT Oscillation in High-Voltage IGBT Devices

Jiayu Fan · Zhibin Zhao · Jinqiang Zhang · Cheng Peng 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年4月

本文研究了绝缘栅双极型晶体管(IGBT)关断过程中产生的等离子体抽取渡越时间(PETT)振荡。该振荡频率可达数百MHz,不仅会引发严重的电磁干扰(EMI)问题,还可能导致器件电磁发射超过IEC相关标准限值。作为IGBT内部主要的电磁骚扰源,PETT振荡的机理与影响因素对电力电子系统的电磁兼容性设计至关重要。

解读: PETT振荡是高压IGBT在快速开关过程中常见的寄生现象,直接影响阳光电源组串式逆变器、PowerTitan及PowerStack等大功率储能变流器(PCS)的电磁兼容性(EMC)表现。随着产品功率密度提升和开关频率优化,该研究有助于研发团队在功率模块选型与驱动电路设计阶段,通过优化栅极驱动参数或布...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

基于LTCC的碳化硅功率模块集成电流传感器

LTCC Based Current Sensor for Silicon Carbide Power Module Integration

Peng Sun · Xiang Cui · Si Huang · Pengyu Lai 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年1月

电流传感器集成可显著提升功率模块的功率密度与可靠性。针对现有传感器难以适配碳化硅(SiC)模块的问题,本文提出了一种基于低温共烧陶瓷(LTCC)的低剖面、可安装电流传感器,并对其电流容量、带宽、电气绝缘及热特性进行了验证。

解读: 该技术对阳光电源的SiC功率模块应用至关重要。随着PowerTitan系列储能系统及组串式逆变器向更高功率密度演进,SiC器件的应用日益广泛,但高频开关带来的电流检测难题限制了系统性能。LTCC集成电流传感器方案能够实现紧凑的电流采样,减少寄生参数,提升系统动态响应与保护精度。建议研发团队关注该传感...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

用于抑制并联碳化硅MOSFET瞬态电流不平衡的芯片分类方法

Chips Classification for Suppressing Transient Current Imbalance of Parallel-Connected Silicon Carbide MOSFETs

Junji Ke · Zhibin Zhao · Peng Sun · Huazhen Huang 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2020年4月

本文研究了参数离散性对并联碳化硅(SiC)MOSFET瞬态电流分布的影响,并提出了一种芯片分类方法以抑制电流不平衡。文章首先对比了硅(Si)与SiC MOSFET的参数差异,随后提出了一种新的分类准则,旨在优化并联应用中的电流分配,提升功率模块的性能与可靠性。

解读: 该研究直接服务于阳光电源的高功率密度产品线,特别是组串式逆变器和PowerTitan/PowerStack储能系统。随着SiC器件在高性能PCS及逆变器中的广泛应用,并联均流问题是提升功率模块可靠性的核心挑战。通过引入芯片分类方法,阳光电源可在生产端优化SiC模块的筛选流程,有效降低并联带来的瞬态电...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 4.0

一种基于关断电压vCE的压接式IGBT芯片表面压力分布均匀性无损监测方法

A Noninvasive Monitoring Method for Uniformity of Pressure Distribution on the Chip Surface in Single-Chip Press-Pack IGBTs With Turn-Off vCE

Tianchen Li · Feng He · Yiming Zhang · Xuebao Li 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 预计 2026年5月

压接式IGBT(PPI)芯片表面的压力分布均匀性直接影响其可靠性。目前主流的压力膜测试法具有侵入性且局限性大。本文提出了一种基于电气参数的无损监测方法,通过监测关断过程中的集电极-发射极电压(vCE)特征,实现对单芯片PPI压力分布均匀性的实时评估。

解读: 该研究对于阳光电源的高功率密度产品线(如集中式光伏逆变器和大型储能系统PowerTitan系列)具有重要参考价值。压接式IGBT在兆瓦级功率变换器中应用广泛,其压力分布直接决定了模块的散热性能与寿命。通过引入该无损监测技术,阳光电源可在iSolarCloud智能运维平台中集成功率模块健康状态评估功能...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 4.0

用于SiC MOSFET功率模块芯片电流测量的紧凑型交错式PCB罗氏线圈阵列

Compact Interleaved PCB Rogowski Coil Array for Chip Current Measuring in SiC MOSFET Power Modules

Yongfan Zhan · Xuebao Li · Xiaofeng Yang · Hao Li 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2026年2月

本文提出了一种用于功率模块芯片电流测量的紧凑型PCB罗氏线圈阵列。针对SiC MOSFET模块芯片尺寸小、布局紧凑的特点,该方案有效解决了电流不平衡导致的降额或过流失效问题,为高功率密度SiC模块的电流监测提供了高精度的测量手段。

解读: 随着阳光电源在光伏逆变器和储能系统(如PowerTitan系列)中大规模应用SiC MOSFET,模块内部的电流均衡与热管理成为提升功率密度和可靠性的关键。该PCB罗氏线圈阵列技术可直接应用于SiC功率模块的研发测试阶段,帮助工程师精准捕捉芯片级电流分布,优化驱动电路设计,从而降低SiC器件的失效风...

功率器件技术 功率模块 可靠性分析 故障诊断 ★ 4.0

用于功率器件并联芯片电流测量的离散静电屏蔽PCB罗氏线圈阵列

PCB Rogowski Coil Array With Discrete Electrostatic Shielding for Current Measurement of Paralleled Chips in Power Devices

Yongfan Zhan · Ganyu Feng · Jia Wan · Xuebao Li 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年8月

本文提出了一种PCB罗氏线圈阵列,用于测量功率器件内部并联芯片的电流,从而实现对功率器件运行状态和失效行为的监测。针对传统连续静电屏蔽无法抑制电感耦合干扰的问题,本文设计了离散静电屏蔽结构,有效提升了测量精度,为功率模块的内部电流分布研究提供了技术手段。

解读: 该技术对阳光电源的组串式逆变器及PowerTitan储能系统中的功率模块设计具有重要参考价值。随着SiC和IGBT模块并联应用日益广泛,芯片间的电流均衡直接影响模块寿命与可靠性。通过集成该罗氏线圈阵列,研发团队可精确获取模块内部电流分布,优化驱动电路与布局,从而提升iSolarCloud平台的故障诊...

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