找到 1 条结果 · IEEE Transactions on Power Electronics

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电动汽车驱动 SiC器件 可靠性分析 ★ 4.0

碳化硅功率器件结温提取:全面综述

Junction Temperature Extraction for Silicon Carbide Power Devices: A Comprehensive Review

Huiqing Wen · Xiaoyu Li · Fei Zhang · Zifeng Qu 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年10月

考虑到成本较高、结温较高以及结温变化范围更广等因素,用碳化硅(SiC)器件完全取代硅器件仍面临诸多可靠性挑战。因此,近年来,SiC 器件的结温提取显得尤为重要。此外,鉴于最新出现的 SiC 器件结温提取方法,对这些方法进行全面综述,包括对其进行科学分类和系统评估至关重要。本文旨在填补这一空白。首先,将对 SiC 器件的结温提取方法进行分类,包括物理接触法、光学方法、电阻 - 电容热网络法和温度敏感电参数(TSEP)法。然后,从测量精度、适用性、成本、在线实现以及功率集成发展等不同角度,对 SiC...

解读: 碳化硅(SiC)功率器件的结温提取技术对阳光电源的核心业务具有重要战略意义。在光伏逆变器和储能变流器产品中,SiC器件凭借其高效率、高功率密度的优势正逐步替代传统硅基器件,但其更高的结温工作环境和成本压力也带来了可靠性管理的挑战。精准的结温监测技术是保障产品长期稳定运行、延长使用寿命的关键。 该综...