找到 149 条结果

排序:
电动汽车驱动 ★ 4.0

氧化硅与氢终端金刚石p沟道的集成用于常关型高压金刚石功率器件

Integration of Oxidized Silicon- and Hydrogen- Terminated Diamond p-Channels for Normally-Off High-Voltage Diamond Power Devices

作者未知 · IEEE Electron Device Letters · 2025年1月

表面附近具有致密二维空穴气(2DHG)p 型导电层的氢终端(C - H)金刚石金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)呈现出典型的常开工作特性和高击穿电压(<inline - formula xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink"> <tex - math notation="LaTeX">${V}_{\text {BR}}$ </tex -...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项金刚石功率器件技术代表了超宽禁带半导体在高压电力电子领域的重要突破,与公司在光伏逆变器、储能变流器等核心产品的技术演进方向高度契合。 该研究通过创新的C-H/C-Si-O/C-H混合沟道结构,成功解决了金刚石MOSFET常关型器件耐压能力不足的关键瓶颈。实现-8.6V...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 ★ 5.0

重离子辐照引起SiC功率MOSFET栅氧损伤的研究

Investigation on Gate-Oxide Damage of SiC Power MOSFETs Induced by Heavy Ion

Ziwen Chen · Yuxiao Yang · Ruize Sun · Yijun Shi 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年6月

近期研究表明,碳化硅(SiC)功率MOSFET在重离子辐照后,在极低的漏极应力水平下就会出现故障,且结构损伤主要集中在氧化层。然而,其损伤机制尚未得到精确分析。本研究考察了器件在不同漏极偏置条件下的栅极损伤机制。在200 V漏极偏置下,1200 V SiC功率MOSFET的栅极结构未出现损伤。漏极偏置高于200 V时,器件的损伤位置集中在沟道区上方的氧化层。在以往的研究中,栅极电介质内皮秒级的瞬态电场被认为是氧化层损伤的主要原因;然而,仅这一机制无法解释本文所报道的现象。因此,本文通过计算重离子...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于SiC功率MOSFET栅氧化层重离子损伤机制的研究具有重要的战略意义。SiC器件已成为我们新一代光伏逆变器和储能变流器的核心功率开关,其可靠性直接影响系统的长期稳定运行。 该研究揭示了一个关键发现:在200V以上漏极偏置条件下,重离子辐照会在沟道区域上方的氧化层造...

功率器件技术 GaN器件 ★ 5.0

1200 V 全垂直式硅基氮化镓功率MOSFET

1200 V Fully-Vertical GaN-on-Si Power MOSFETs

作者未知 · IEEE Electron Device Letters · 2025年1月

我们报道了采用氟离子注入终端(FIT - MOS)的 1200 V 全垂直氮化镓(GaN)基硅沟槽金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)。带有负固定电荷的 FIT 区域具有高电阻特性,可自然隔离分立器件,取代了传统的台面蚀刻终端(MET),消除了台面边缘的电场集中效应,从而使 FIT - MOS 的击穿电压从 MET - MOS 的 567 V 提升至 1277 V。此外,所制备的 FIT - MOS 的阈值电压(<inline - formula xmlns:mml="http://ww...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项1200V全垂直GaN-on-Si功率MOSFET技术具有重要的战略价值。该技术通过氟离子注入终端(FIT)工艺,将击穿电压从传统台面刻蚀方案的567V大幅提升至1277V,这一突破为我们在光伏逆变器和储能系统中采用GaN器件开辟了新路径。 对于阳光电源的核心产品线,...

电动汽车驱动 充电桩 SiC器件 LLC谐振 ★ 4.0

一种基于时域解析模型的数字实时计算算法在6.6-kW 300-kHz SiC便携式电动汽车双向CLLC同步整流器中的应用

A Digital Real-Time Computation Algorithm Utilizing Time-Domain Analytic Model for Bidirectional CLLC Synchronous Rectifier in 6.6-kW 300-kHz SiC Portable EV Chargers

Haoran Li · Tong Lei · Cungang Hu · Xirui Zhu 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年9月

使用同步整流器(SR)极为重要,因为碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)的二极管正向电压可能比硅(Si)MOSFET高至六倍,这会导致高得多的传导损耗。传统的CLLC同步整流通常采用检测电路或构建复杂模型,但它们易受碳化硅器件产生的高dv/dt影响,或者由于复杂的数值计算而难以在线实现同步整流。本文针对双向碳化硅CLLC变换器提出了一种数字实时计算同步整流算法。构建了时域解析模型以在线计算同步整流导通时间。该算法不仅通过优化同步整流MOSFET的导通时间实现了...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,该论文提出的数字实时同步整流算法对我司在电动汽车充电、储能变流器等双向功率变换领域具有重要参考价值。 **技术价值分析:** 该算法针对SiC MOSFET体二极管导通压降高(约为硅器件6倍)的固有缺陷,通过时域解析模型实现同步整流在线优化计算,有效降低导通损耗。相比传统...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 工商业光伏 ★ 5.0

仅采用逆变器电流反馈的电容耦合主动阻尼LCL型高速永磁同步电机驱动控制方法

Inverter-Current Feedback-Only Control Method for LCL-Equipped HSPMSM Drives With Capacitively Coupled Active Damper

Jiaxin Zhou · Yunkai Huang · Fei Peng · Yu Yao · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2024年11月

本文提出一种适用于带电容耦合主动阻尼器的LCL型高速永磁同步电机(HSPMSM)驱动系统的仅逆变器电流反馈控制方法。该方法仅需采样逆变器侧电流,满足现有工业应用中对单一电流反馈的需求。基于LCL型驱动系统的双源模型构建控制策略,并设计具有强参数鲁棒性的系数选取方法。所提方法显著降低了阻尼器的电压应力,从而减少其开关损耗,使其可采用低成本低压MOSFET而非昂贵的SiC-MOSFET实现。3 kW–12 kr/min(1000 Hz)实验平台验证了该方法的有效性。

解读: 该LCL滤波器单电流反馈控制技术对阳光电源储能与电驱产品线具有重要应用价值。在ST系列储能变流器中,LCL滤波器广泛用于并网谐波抑制,该方法仅需逆变器侧电流采样即可实现稳定控制,可简化传感器配置、降低系统成本。电容耦合主动阻尼方案将阻尼器电压应力降低至可用低压MOSFET替代SiC器件,直接降低BO...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 ★ 4.0

1.2 kV 4H-SiC MOSFET在重复短路测试下静态与动态特性的退化机制

Degradation mechanisms for static and dynamic characteristics in 1.2 kV 4H-SiC MOSFETs under repetitive short-circuit tests

Ying Ji · Linna Zhao · Shilong Yang · Cunli Lu 等6人 · Solid-State Electronics · 2025年1月 · Vol.226

本文通过在栅源电压(VGS,OFF/VGS,ON)分别为−4/+15 V、−4/+19 V和0/+19 V条件下进行重复短路(RSC)测试,研究了1.2 kV 4H-SiC MOSFET的退化行为。结合实验与仿真结果发现,在雪崩过程中栅氧化层中捕获的电子或空穴是导致静态参数退化的主要机制。在VGS,OFF/VGS,ON = −4/+19 V条件下,经过240次短路(SC)测试后,阈值电压VTH和导通电阻RDS,ON分别增加了0.4 V和3.0 mΩ;在0/+19 V条件下分别增加了0.45 V和...

解读: 该研究揭示SiC MOSFET短路退化机理对阳光电源ST系列储能变流器和SG光伏逆变器至关重要。栅极氧化层电荷陷阱导致阈值电压漂移和导通电阻增加,直接影响功率器件可靠性。研究发现负偏压门极驱动(-4V)可显著改善短路耐受性,为PowerTitan储能系统和充电桩产品的SiC驱动电路优化提供依据。建议...

电动汽车驱动 可靠性分析 ★ 5.0

功率MOSFET器件中传热与热失控的理论与仿真研究

Theoretical and Simulation-Based Investigation of Heat Transfer and Thermal Runaway in Power MOSFET Devices

Arun Narasimhan · Rajesh Rao · Ankur Jain · IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology · 2024年12月

预测功率金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)器件的温度上升对于确保其可靠性和性能以及防止热失控至关重要。虽然通常会为功率MOSFET的运行规定安全工作区(SOA),但通过实验确定安全工作区内防止热失控的漏极电流限制非常繁琐,而且常常会导致多个测试器件在达到极限时损坏。因此,仍然需要强大而准确的理论工具来预测实际功率MOSFET中的最大允许漏极电流。本研究通过解析和数值传热建模来满足这一重要需求。基于沟道区域周围半无限介质中一维热流的简化假设,采用拉普拉斯变换技术推导出器件中瞬...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于功率MOSFET热传导和热失控预测的研究具有重要的工程应用价值。功率MOSFET是光伏逆变器和储能变流器中的核心功率器件,其热管理直接关系到系统的可靠性、效率和寿命。 该研究的核心价值在于提供了两种互补的热分析方法:基于拉普拉斯变换的解析解和数值仿真模型。这使得我...

电动汽车驱动 SiC器件 ★ 4.0

基于平均栅极驱动电流提取的SiC MOSFET在线栅极漏电流监测

Online Gate Leakage Current Monitoring for SiC MOSFET Based on Average Gate Drive Current Extraction

Wenyuan Ouyang · Tao Fan · Zhijie Qiu · Dan Zheng 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年8月

监测碳化硅金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)的栅极泄漏电流至关重要,因为其栅极结构比硅基器件的更为脆弱。然而,现有的栅极泄漏电流监测方法仍无法同时实现高监测分辨率以及与灵活的栅极驱动结构兼容。本文提出了一种基于提取平均栅极驱动电流的碳化硅 MOSFET 在线栅极泄漏电流监测方法。与现有方法相比,该方法实现了亚微安级的监测分辨率。为进行验证,在高频升压转换器中实现了该监测电路。实验结果表明,在整个估计的栅极泄漏电流范围内,该方法的相对误差可接受,并且该方法不会干扰功率转换器的...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于平均栅极驱动电流提取的SiC MOSFET栅极漏电流在线监测技术具有重要的战略价值。随着公司在光伏逆变器和储能系统中大规模应用SiC功率器件以提升系统效率和功率密度,器件的可靠性监测已成为产品差异化的关键要素。 该技术的核心价值在于解决了SiC MOSFET栅极结...

储能系统技术 ★ 5.0

低成本电感式电压均衡器及其自由轮网络设计

Cost-Reduced Inductor-Based Voltage Equalizers With Design of Free-Wheeling Networks for Li-Ion Battery Pack

Lei Wan · Longyun Kang · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2024年11月

电感式均衡器具有高功率特点,但现有方案常忽略开关驱动隔离电源的成本及电感电流续流网络的设计。本文提出两种新型电感式电压均衡器:一方面,通过二极管与MOSFET构成开关阵列,实现同侧MOSFET共源极连接,减少隔离电源数量与电路成本;另一方面,引入死区期间电感电流下降更小的续流网络,提升均衡速度与效率。文中详细阐述拓扑结构、工作原理与数学建模,基于仿真结果选定电路参数,并在均衡性能、成本与体积方面与现有方法对比。实验平台验证了所提均衡器的可行性与高性能。

解读: 该低成本电感式均衡技术对阳光电源ST系列储能系统和PowerTitan大型储能产品具有直接应用价值。通过共源极MOSFET阵列设计减少隔离电源数量,可显著降低BMS均衡模块成本,这对大规模储能系统的经济性至关重要。优化的续流网络设计提升均衡效率和速度,能够改善电池组一致性维护能力,延长储能系统寿命。...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 可靠性分析 ★ 4.0

碳化硅MOSFET在漏极应力下的动态阈值电压漂移

Dynamic Threshold Voltage Drift of Silicon Carbide MOSFET With Drain Stress

Huapping Jiang · Yao Li · Xinxin Li · Mengya Qiu 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年7月

碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)因其卓越的性能而广受青睐。然而,可靠性问题阻碍了其快速发展,其中阈值电压漂移是关键问题之一。尽管静态和动态栅极应力下的阈值电压漂移已得到广泛研究,但漏极应力引起的阈值电压漂移却很少受到关注。在本研究中,开发了一个专门用于碳化硅 MOSFET 的测试平台,该平台能够独立且解耦地施加栅极和漏极应力。此外,漏极应力可进一步分解为电压和电流分量,以便进行更详细的分析。另外,采用技术计算机辅助设计(TCAD)仿真来研究不同应力模式引起...

解读: 作为全球领先的光伏逆变器和储能系统供应商,阳光电源在产品设计中大量采用碳化硅(SiC)MOSFET以提升系统效率和功率密度。该论文揭示的漏极应力导致的阈值电压漂移现象,对我司产品的长期可靠性具有重要指导意义。 在光伏逆变器和储能变流器应用中,SiC MOSFET不仅承受高频栅极开关应力,更面临复杂...

功率器件技术 SiC器件 可靠性分析 ★ 4.0

一种基于开通栅极电流变化率的SiC MOSFET在线栅氧退化监测方法

An Online Gate Oxide Degradation Monitoring Method for SiC MOSFETs Based on Turn-ON Gate Current Change Rate

作者未知 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年1月

栅氧化层退化(GOD)是碳化硅金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管面临的一个可靠性问题,尤其是在高温和高电场条件下。本文提出了一种基于开通时栅极电流变化率峰值($di_g/dt_{,max}$)的在线状态监测方法。该技术利用非侵入式印刷电路板(PCB)罗氏线圈来测量$di_g/dt_{,max}$,具有很高的实用性。在正、负高温栅极偏置以及高温栅极开关条件下进行的加速老化试验揭示了$di_g/dt_{,max}$与栅氧化层退化之间的相关性,老化160小时后,其变化率分别为5.61%、5%和8...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于开通栅极电流变化率的SiC MOSFET栅氧化层退化在线监测技术具有重要的战略价值。SiC器件作为公司光伏逆变器和储能系统的核心功率器件,其可靠性直接影响产品全生命周期的性能表现和运维成本。 该技术的核心优势在于其实用性和非侵入性。通过PCB罗氏线圈测量di_g/...

功率器件技术 SiC器件 ★ 4.0

SiC MOSFET结温监测与控制技术综述

A Review of Junction Temperature Monitoring and Control Techniques for SiC MOSFETs

张擎昊 · 郑大勇 · 张品佳 · 中国电机工程学报 · 2025年3月 · Vol.45

碳化硅(SiC)金属-氧化物-半导体场效应管(MOSFET)因其优异性能在工业领域广泛应用,其可靠性与结温密切相关,结温监测与控制成为研究热点。本文将该技术分为经典结温监测、考虑老化影响的监测及结温控制三类。综述了热模型法与热敏电参数法的原理与发展,分析老化对监测精度的影响及补偿必要性,并探讨内部控制与外部控制方法的优劣。最后指出当前关键问题与未来发展方向,为相关研究提供参考。

解读: 该研究对阳光电源SiC器件应用产品线具有重要指导价值。结温监测与控制技术可直接应用于ST系列储能变流器、SG系列光伏逆变器和电动汽车充电桩等高功率密度产品,有助于提升SiC MOSFET的可靠性和使用寿命。特别是考虑器件老化影响的监测方法,可用于iSolarCloud平台的预测性维护,实现产品全生命...

功率器件技术 SiC器件 可靠性分析 ★ 5.0

一种基于等效栅极电阻控制的SiC MOSFET结温波动抑制方法

An Equivalent Gate Resistance Control Method for Junction Temperature Fluctuation Suppression in SiC MOSFETs

王若隐郑宏 · 中国电机工程学报 · 2025年12月 · Vol.45

非平稳工况下的结温波动是影响碳化硅(SiC)MOSFET可靠性的关键因素。本文提出一种等效栅极电阻控制方法,克服了在线连续调节驱动电阻的难题,并在此基础上设计了一种通过调节开关损耗来抑制结温波动的主动热管理策略,推导了结温调节范围。通过搭建逆变器实验平台验证了理论分析的正确性。实验结果表明,该方法可显著降低SiC MOSFET在不同功率波动阶段的结温波动,最大波动由18.83℃降至9.85℃,器件寿命提升约2.18倍。同时,考虑系统效率,引入温控操作区间与结温控制系数概念,并通过实验验证了方法的...

解读: 该等效栅极电阻控制方法对阳光电源SiC器件应用产品线具有重要价值。首先可应用于SG350HX等大功率光伏逆变器,通过主动热管理提升SiC MOSFET可靠性,延长产品寿命。其次可优化ST2752KWH等储能变流器的温度控制策略,在大功率波动工况下保障器件安全。此外,该方法也适用于DC充电桩等快充场景...

功率器件技术 ★ 5.0

总电离剂量辐射电荷对沟槽型功率MOSFET电容的调制

Capacitance Modulation in Trench MOSFETs Induced by TID Radiation Charge

Shenghuai Liu · Xin Zhou · Zhao Wang · Huan Gao 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年9月

本文研究了总电离剂量(TID)辐射电荷对沟槽功率MOSFET电容的调制作用。提出了一种辐射电荷调制电容模型,以有效表征TID辐射下输入电容($C_{iss}$)和输出电容($C_{oss}$)的退化情况。揭示了TID引起电容退化的机制。在低漏极电压($V_{D}$)下,辐照后栅 - 漏电容($C_{gd}$)和漏 - 源电容($C_{ds}$)增大,而栅 - 源电容($C_{gs}$)减小。在高漏极电压下,$C_{gd}$和$C_{ds}$几乎不变,而$C_{gs}$继续减小。辐射电荷等效地调制...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于沟槽型MOSFET总电离剂量(TID)辐射效应的研究具有重要的战略参考价值。作为光伏逆变器和储能系统的核心功率器件,MOSFET的可靠性直接影响产品在特殊应用场景下的性能表现。 该研究揭示了辐射环境下功率器件电容特性的退化机理,这对阳光电源拓展航空航天、高海拔、极...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 热仿真 ★ 4.0

芯片参数分散性对多芯片并联SiC MOSFET热安全工作区的影响

Impact of Chip Parameter Mismatch on Thermal Safe Operating Area of Parallel-Connected SiC MOSFETs

蒋馨玉 · 孙鹏 · 唐新灵 · 金锐 等5人 · 电工技术学报 · 2025年1月 · Vol.40

为评估多芯片并联SiC MOSFET在最高结温限制下的热安全工作区(TSOA),提出一种基于芯片-模块-系统级联合电热仿真与输出电流预测模型的评估方法,有效减少仿真次数并经实验验证。采用蒙特卡罗模拟分析芯片参数分散性对TSOA的影响,发现高开关频率下主导因素为阈值电压与栅源电压极差,低频下则为导通电阻与跨导均值。进一步通过TSOA灵敏度进行多目标优化分组,实现TSOA延拓。

解读: 该研究对阳光电源的高功率密度产品设计具有重要指导意义。SiC MOSFET多芯片并联是SG350HX等大功率光伏逆变器和PowerTitan储能系统的关键技术,研究成果可直接指导功率模块选型与分组优化。通过TSOA评估方法可提升产品可靠性设计水平,尤其适用于高开关频率、大电流的应用场景。对于储能双向...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 ★ 4.0

单极正负偏压应力下Ga₂O₃-on-SiC MOSFET阈值电压独特的单调正向漂移

Unique Monotonic Positive Shifts in Threshold Voltages of Ga₂O₃-on-SiC MOSFETs Under Both Unipolar Positive and Negative Bias Stresses

Chenyu Liu · Bochang Li · Yibo Wang · Wenhui Xu 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年2月

本研究系统地研究了异质碳化硅基氧化镓(GaOSiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)在单极正/负偏置应力(UPBS/UNBS)下的不稳定性。通过调整应力电压波形的关键参数,包括频率(f)、保持时间($t_{\text {h}}$)、上升时间($t_{\text {r}}$)和下降时间($t_{\text {f}}$),在 UPBS 测量中观察到阈值电压($V_{\text {T}}$)随循环次数($C_{n}$)呈现两阶段偏移。UPBS 引起的正 $V_{\text {T...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于Ga₂O₃-on-SiC MOSFET器件可靠性的研究具有重要的前瞻性价值。该研究系统揭示了异质结构功率器件在单极性偏置应力下的阈值电压漂移机制,这对我们开发下一代高效光伏逆变器和储能变流器至关重要。 Ga₂O₃/SiC异质结构结合了氧化镓的超宽禁带特性(约4.8...

储能系统技术 储能系统 DC-DC变换器 SiC器件 ★ 5.0

用于储能式有轨电车的具有中点电压自恢复功能的三级SiC DC–DC变换器

Three-Level SiC DC–DC Converter With Midpoint Voltage Self-Recovery for Energy-Storage Trams

Wei Li · Wenlu Zhang · Chunyang Chen · Xinxin Tang 等6人 · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2025年4月

储能式有轨电车对其储能装置供电系统提出了高要求,充电系统需具备高电压、大功率输出以实现快速充电。采用三级DC–DC拓扑与碳化硅(SiC)MOSFET等宽禁带半导体器件可提升耐压等级与开关频率,适用于高压大功率场景。本文提出一种三级不对称混合钳位DC–DC变换器,通过“串联充电、并联放电”电路结构,在特定条件下实现输入侧中点电压自平衡。设计了满足储能电车充电需求的控制算法,并研制基于SiC器件的样机模块。相比前代系统,体积减小32.85%,质量降低30.70%。仿真与实验验证了中点电压自恢复能力及...

解读: 该三电平SiC DC-DC变换器技术对阳光电源储能与充电业务具有重要应用价值。中点电压自恢复功能可直接应用于ST系列储能变流器的DC-DC级联架构,解决三电平拓扑中点电位漂移难题,提升系统可靠性。SiC器件应用与高频化设计实现32.85%体积缩减,契合PowerTitan储能系统的高功率密度需求。非...

可靠性与测试 SiC器件 可靠性分析 ★ 4.0

安全工作区外重复过电压硬开关下SiC MOSFET参数退化特性与机理

Parameter Degradation Characteristics and Mechanisms of SiC MOSFETs under Repetitive Overvoltage Hard-Switching Beyond Safe Operating Area

张岩薛少鹏李阳李现亭刘进军 · 电工技术学报 · 2025年1月 · Vol.40

受寄生电感或串联器件分压不均影响,SiC MOSFET可能承受超出安全工作区的短时过电压硬开关应力,导致参数退化或失效。现有可靠性研究多集中于安全工作区内长期静态工况,难以准确评估实际寿命。本文研究两种额定电压SiC MOSFET在过电压硬开关下的退化机制,并与栅极开关应力及静态过电压实验结果对比。结果表明:第一象限工作器件因栅氧化层退化,阈值电压Vth和导通电阻RDS(on)下降,栅极漏电流IGSS与漏极截止电流IDSS上升,动态特性随之改变;第三象限工作器件因堆垛层错扩展导致体二极管正向压降...

解读: 该研究揭示的SiC MOSFET过电压硬开关退化机理对阳光电源功率器件应用具有重要价值。在ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器中,母线电压波动、寄生电感振荡及串联器件分压不均常导致SiC器件承受瞬态过电压应力。研究发现的热载流子注入导致Vth和RDS(on)退化、体二极管压降增加等机制,可指导Po...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 ★ 5.0

一种用于EMI分析的半桥封装SiC功率MOSFET动态电容一步提取方法

One-Step Method of Dynamic Capacitances Extraction From a SiC Power MOSFET in a Half-Bridge Package for EMI Analysis

Jaewon Rhee · Sanguk Lee · Changmin Lee · Seongho Woo 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年10月

金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的电磁干扰(EMI)和动态电容特性是电路设计和电磁兼容性方面的重要考量因素。MOSFET是一种广泛应用于开关领域的半导体器件。MOSFET的动态电容特性与电路的开关行为以及电磁干扰的产生密切相关。因此,为了进行电磁干扰分析和控制功率转换系统,必须准确了解MOSFET的电容。MOSFET的电容会随直流偏置电压而变化。换句话说,这意味着电磁干扰特性可能会因工作条件而异,因此必须基于直流电压来获取电容值。目前已有大量关于单个MOSFET电容提取的研究。然而,...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项针对半桥封装SiC功率MOSFET动态电容提取的研究具有重要的工程应用价值。在光伏逆变器和储能变流器等核心产品中,SiC MOSFET已成为提升功率密度和效率的关键器件,而精确掌握其动态电容特性是优化EMI性能和满足电磁兼容标准的前提。 该论文提出的一步法提取技术突破...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

考虑互感耦合的Cu-Clip互连并联SiC MOSFET动态电流均衡解析与优化策略

Analytical and Optimal Strategy of Dynamic Current Balancing for Paralleled SiC MOSFETs With Cu-Clip Interconnection Considering Mutual Coupled Inductances

Xun Liu · Kun Ma · Yameng Sun · Yifan Song 等6人 · IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology · 2025年4月

为提升碳化硅(SiC)功率模块的电气性能与可靠性,本文研究采用Cu-Clip替代传统Al引线的技术方案。针对Cu-Clip互连结构中并联SiC MOSFET因布局不对称引入的互感耦合效应,建立了精确的电磁耦合模型,提出一种动态电流均衡的解析分析方法,并进一步设计最优布局优化策略,有效抑制并联支路间的电流不均,提高模块整体性能与热稳定性。

解读: 该研究对阳光电源高功率密度产品的设计具有重要指导意义。Cu-Clip互连技术可显著提升SiC MOSFET模块的电流均衡性和散热性能,适用于ST系列储能变流器、SG系列光伏逆变器等大功率产品。特别是在PowerTitan等MW级储能系统中,优化后的SiC模块布局可有效降低开关损耗、提高功率密度,并通...

第 5 / 8 页