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商用1200 V/80 mΩ SiC MOSFET的单脉冲雪崩模式鲁棒性
Single-Pulse Avalanche Mode Robustness of Commercial 1200 V/80 mΩ SiC MOSFETs
| 作者 | Mitchell D. Kelley · Bejoy N. Pushpakaran · Stephen B. Bayne |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2017年8月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | SiC器件 功率模块 可靠性分析 宽禁带半导体 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | SiC MOSFET 雪崩模式 鲁棒性 电力电子 1200 V 寄生电感 功率密度 |
语言:
中文摘要
1200V碳化硅（SiC）MOSFET的商业化显著提升了电力电子系统的效率与功率密度。然而，在电磁阀控制、固态变压器及各类DC-DC变换器应用中，高di/dt与寄生电感耦合产生的高压尖峰可能导致MOSFET进入雪崩模式。本文研究了商用1200V SiC MOSFET在雪崩模式下的鲁棒性，为高可靠性功率变换设计提供理论支撑。
English Abstract
Commercialization of 1200-V silicon carbide (SiC) MOSFET has enabled power electronic design with improved efficiency as well as increased power density. High-voltage spikes induced in applications such as solenoid control, solid-state transformer, boost converter, and flyback converter can drive the MOSFET into avalanche mode operation due to high di/dt coupled with parasitic inductance. Avalanch...
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SunView 深度解读
SiC MOSFET是阳光电源新一代组串式逆变器、PowerTitan储能系统及高压充电桩的核心功率器件。随着系统功率密度不断提升，寄生参数带来的电压尖峰风险增加，研究器件的雪崩鲁棒性对于提升产品在极端工况下的可靠性至关重要。建议研发团队参考该研究，在电路设计中优化PCB布局以降低寄生电感，并结合器件雪崩特性设定合理的驱动保护阈值，从而在保证高效率的同时，确保产品在复杂电网环境下的长期运行稳定性。