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栅极回路电感不匹配对并联SiC MOSFET阈值电压离散性演变及电流分配的影响
Influence of Mismatched Gate Loop Inductance on Threshold Dispersity Evolution and Current Sharing of Parallel SiC MOSFETs
| 作者 | Lei Tang · Huaping Jiang · Xiaohan Zhong · Yihan Huang · Nianlei Xiao · Ke Zhao · Ruijin Liao |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2025年5月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | SiC器件 功率模块 可靠性分析 宽禁带半导体 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | SiC MOSFET 并联器件 栅极回路电感 阈值电压 电流均流 电力电子 可靠性 |
语言:
中文摘要
在大功率应用中,SiC MOSFET并联技术至关重要。然而,栅极电路的不对称性会导致栅极电感不匹配,进而引发电流不平衡。本文深入研究了阈值电压离散性的演变规律及其对并联器件电流分配的影响,为提升高功率密度电力电子系统的可靠性提供了理论支撑。
English Abstract
For high-capacity applications, paralleling multiple silicon carbide (SiC) metal oxide semiconductor field effect transistors (mosfets) is essential. However, it is challenging to achieve complete symmetry in the gate circuits of parallel devices, resulting in mismatched gate inductances, which may lead to the current imbalance. This article focuses on investigating the evolution of threshold volt...
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SunView 深度解读
该研究直接关系到阳光电源大功率组串式逆变器(如SG系列)及大型储能系统(如PowerTitan系列)的核心功率模块设计。随着SiC器件在光储产品中的广泛应用,并联均流与长期可靠性是提升系统功率密度和效率的关键。该文献关于栅极回路电感对阈值电压漂移及电流不平衡影响的分析,对优化阳光电源功率模块的PCB布局、驱动电路设计及器件选型具有重要指导意义,有助于降低模块失效风险,提升产品在极端工况下的长期运行稳定性。