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碳化硅(SiC) MOSFET在极端高温下温度敏感电参数的调查与比较
Investigation and Comparison of Temperature-Sensitive Electrical Parameters of SiC mosfet at Extremely High Temperatures
| 作者 | Xiaohui Lu · Laili Wang · Qingshou Yang · Fengtao Yang · Yongmei Gan · Hong Zhang |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2023年8月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 功率模块 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | SiC MOSFET 极端高温 温度敏感电参数 (TSEPs) 结温监测 可靠性 电力电子 健康监测 |
语言:
中文摘要
得益于碳化硅（SiC）材料的优异特性，SiC MOSFET可在极端高温及恶劣环境下运行。为确保电力电子系统的可靠性，本文研究了利用温度敏感电参数（TSEPs）进行在线结温监测的方法，旨在通过监测器件健康状态提升系统运行的安全性与稳定性。
English Abstract
Due to the excellent silicon carbide (SiC) material characteristics, SiC mosfets can operate at extremely high temperatures and can be used in harsh environment applications. In this case, it is crucial to ensure the reliability of the power electronic systems. The temperature-sensitive electrical parameters (TSEPs) have been used for online junction temperature monitoring to monitor the health co...
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SunView 深度解读
该研究对阳光电源的核心产品线具有极高价值。随着公司组串式逆变器和PowerTitan/PowerStack储能系统向更高功率密度和更小体积演进，SiC器件的应用已成为主流。在高温环境下对SiC MOSFET进行精准的结温监测，是提升系统可靠性、实现预测性维护的关键。建议研发团队将TSEPs监测技术集成至iSolarCloud智能运维平台，通过实时监测功率模块的结温状态，优化散热设计并实现故障预警，从而显著降低极端工况下的失效率，提升产品全生命周期的运行可靠性。