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一种基于开通漏源电流过冲的SiC MOSFET高灵敏度在线结温监测方法

A High-Sensitivity Online Junction Temperature Monitoring Method for SiC mosfets Based on the Turn-on Drain–Source Current Overshoot

作者 Qinghao Zhang · Geye Lu · Pinjia Zhang
期刊 IEEE Transactions on Power Electronics
出版日期 2022年12月
技术分类 功率器件技术
技术标签 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 功率模块
相关度评分 ★★★★★ 5.0 / 5.0
关键词 SiC MOSFET 结温监测 热敏电参数 开通电流过冲 可靠性 电力电子
语言:

中文摘要

结温监测是SiC器件高可靠运行的基础,因为热应力是导致器件老化的主要因素。传统的温度敏感电参数方法在SiC MOSFET应用中灵敏度较低。本文提出了一种基于开通漏源电流过冲的高灵敏度在线结温监测方法,有效提升了监测性能。

English Abstract

Junction temperature monitoring is the basis of high reliability operation for silicon carbide (SiC) devices, since thermal stress is the dominating aging factor. Conventional thermal sensitive electrical parameter methods have a poor monitoring performance for SiC Mosfets with low sensitivity. Thus, a high-sensitivity online junction temperature monitoring method is proposed based on the turn-on ...
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SunView 深度解读

随着阳光电源在组串式逆变器及PowerTitan储能系统中大规模应用SiC MOSFET,器件的可靠性与热管理成为提升产品竞争力的关键。该方法通过监测开通电流过冲实现高灵敏度结温感知,无需额外传感器,极具工程应用价值。建议研发团队将其集成至iSolarCloud智能运维平台或逆变器控制算法中,实现对SiC功率模块的实时健康状态评估(PHM),从而优化功率器件的过温保护策略,延长设备全生命周期寿命,并为高功率密度设计提供更精准的热设计依据。