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功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

一种基于残余电阻的SiC MOSFET栅极退化无关在线结温估计方法

A Gate Degradation Independent Online Junction Temperature Estimation Method for SiC MOSFETs Based on Residual Resistance

Zhigang Zhao · Peng Wang · Tianyuan Chen · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年10月

结温估计对提升SiC MOSFET在实际应用中的可靠性至关重要。热敏电参数(TSEP)常被用于结温监测,但栅极退化会改变TSEP与温度的相关性,从而降低估计精度。本文提出了一种基于残余电阻的在线结温估计方法,该方法能够有效消除栅极退化对结温监测的影响,提高功率器件在长期运行中的可靠性。

解读: 随着阳光电源在组串式逆变器、PowerTitan储能系统及风电变流器中大规模应用SiC功率模块,器件的长期可靠性成为核心竞争力。该研究提出的栅极退化无关结温估计方法,能够解决SiC器件在复杂工况下因老化导致的测温漂移问题。建议将该算法集成至iSolarCloud智能运维平台或逆变器底层控制逻辑中,实...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

一种基于开通漏源电流过冲的SiC MOSFET高灵敏度在线结温监测方法

A High-Sensitivity Online Junction Temperature Monitoring Method for SiC mosfets Based on the Turn-on Drain–Source Current Overshoot

Qinghao Zhang · Geye Lu · Pinjia Zhang · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年12月

结温监测是SiC器件高可靠运行的基础,因为热应力是导致器件老化的主要因素。传统的温度敏感电参数方法在SiC MOSFET应用中灵敏度较低。本文提出了一种基于开通漏源电流过冲的高灵敏度在线结温监测方法,有效提升了监测性能。

解读: 随着阳光电源在组串式逆变器及PowerTitan储能系统中大规模应用SiC MOSFET,器件的可靠性与热管理成为提升产品竞争力的关键。该方法通过监测开通电流过冲实现高灵敏度结温感知,无需额外传感器,极具工程应用价值。建议研发团队将其集成至iSolarCloud智能运维平台或逆变器控制算法中,实现对...