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一种模块化多电平变换器的模型辅助测试方案
A Model Assisted Testing Scheme for Modular Multilevel Converter
Yuan Tang · Li Ran · Olayiwola Alatise · Philip Mawby · IEEE Transactions on Power Electronics · 2016年1月
模块化多电平变换器(MMC)广泛应用于高压直流输电及柔性交流输电系统。制造商与运营商需深入了解子模块的应力条件。本文提出一种模型辅助测试方案,旨在通过仿真与实验结合,准确评估MMC子模块在复杂工况下的运行可靠性与应力分布。
解读: MMC技术是高压大功率电力电子设备的核心,与阳光电源的集中式逆变器及大型储能系统(如PowerTitan系列)的技术架构高度相关。随着储能系统向更高电压等级和更大容量发展,MMC拓扑在电网侧储能及高压并网应用中具有重要潜力。本文提出的模型辅助测试方案,有助于优化阳光电源在大型储能PCS中的功率模块设...
非均匀电热特性对并联SiC功率器件在无钳位和钳位电感开关下的影响
The Effect of Electrothermal Nonuniformities on Parallel Connected SiC Power Devices Under Unclamped and Clamped Inductive Switching
Ji Hu · Olayiwola Alatise · Jose Angel Ortiz Gonzalez · Roozbeh Bonyadi 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2016年6月
并联功率器件间的电热特性不均匀会导致功率损耗分配不均,降低系统整体可靠性。此外,不均匀的退化速率会加剧电热差异,从而加速失效过程。本文通过仿真与实验,定量及定性地研究了这一现象,为提升功率模块的长期运行稳定性提供了理论依据。
解读: 随着阳光电源PowerTitan液冷储能系统及组串式逆变器向高功率密度、高效率方向发展,SiC器件的并联应用已成为提升系统效率的关键。本文研究的电热非均匀性问题直接影响大功率模块的均流特性与寿命。建议研发团队在设计高压大电流PCS模块时,重点关注并联SiC器件的动态热分布,利用多物理场仿真优化驱动电...
一种用于SiC MOSFET中BTI表征的非侵入式新技术
A Novel Non-Intrusive Technique for BTI Characterization in SiC mosfets
Jose Angel Ortiz Gonzalez · Olayiwola Alatise · IEEE Transactions on Power Electronics · 2019年6月
偏置温度不稳定性(BTI)导致的阈值电压(VTH)漂移是SiC MOSFET面临的关键可靠性问题,主要源于SiC/SiO2界面处的氧化层陷阱。相比硅器件,SiC器件的带隙偏移较小且界面陷阱较多,使得该问题更为突出。本文提出了一种非侵入式表征技术,用于在功率器件资格认证前的栅极偏置应力测试中评估其可靠性。
解读: 随着阳光电源组串式逆变器及PowerTitan系列储能系统向高功率密度、高效率方向演进,SiC MOSFET已成为核心功率器件。BTI效应直接影响器件的长期可靠性与寿命预测。该非侵入式表征技术能够更精准地评估SiC器件在极端工况下的阈值稳定性,有助于阳光电源在研发阶段筛选高可靠性器件,优化逆变器及P...
低结温波动
ΔTj)应力循环对IGBT功率模块芯片连接层寿命建模的影响
Wei Lai · Minyou Chen · Li Ran · Olayiwola Alatise 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2016年9月
本文研究了功率模块老化过程中,低幅值结温波动(ΔTj)对芯片连接层寿命的影响。研究发现,这些频繁发生的微小应力循环对累积损伤有显著贡献,对于提升电力电子变换器的可靠性监测与寿命预测模型精度具有重要意义。
解读: 该研究直接关联阳光电源核心产品(光伏逆变器、储能PCS、风电变流器)中功率模块的可靠性设计。阳光电源的组串式逆变器和PowerTitan储能系统在复杂工况下常面临频繁的负载波动,导致结温微小循环。传统的寿命模型往往忽略低幅值应力,而本研究提出的修正模型能更精准地评估芯片连接层(Die-Attach)...
具有反向导通IGBT的SiC MOSFET混合开关:损耗与浪涌电流分析
SiC MOSFET Hybrid Switches With Reverse Conducting IGBTs: Loss and Surge Current Analysis
Arkadeep Deb · Jose Ortiz Gonzalez · Saeed Jahdi · Ruizhu Wu 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年11月
混合开关(HS)通过结合SiC MOSFET的开关性能与Si-IGBT的导通性能,在不牺牲性能的前提下降低了成本。然而,鉴于SiC MOSFET额定电流较小,在省去SiC肖特基二极管(SBD)的情况下,其损耗特性及第三象限浪涌电流的鲁棒性亟需深入研究。
解读: 该技术对阳光电源的核心产品线具有重要价值。在组串式光伏逆变器和PowerTitan/PowerStack储能变流器(PCS)中,通过混合开关技术,可以在保证高频开关效率的同时,利用Si-IGBT降低大电流工况下的导通损耗,从而优化散热设计并降低BOM成本。特别是在高功率密度设计趋势下,该方案为平衡S...
BTI引起的阈值电压漂移对SiC MOSFET串扰直通电流的影响
Impact of BTI-Induced Threshold Voltage Shifts in Shoot-Through Currents From Crosstalk in SiC MOSFETs
Jose Orti Gonzalez · Olayiwola Alatise · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年3月
本文提出了一种评估SiC MOSFET在栅极电压应力下阈值电压(VTH)漂移影响的方法。通过利用同一桥臂内两个器件间的米勒耦合效应,该技术利用寄生导通产生的直通电荷来表征偏置温度不稳定性(BTI)引起的VTH漂移及其对电路可靠性的影响。
解读: 随着阳光电源在组串式逆变器、PowerTitan储能系统及风电变流器中大规模应用SiC MOSFET以提升功率密度和效率,器件的长期可靠性至关重要。本文提出的BTI效应评估方法,能够帮助研发团队在产品设计阶段更精准地预测SiC器件在高温高压环境下的阈值漂移风险,从而优化驱动电路设计,抑制寄生导通引起...
模块化多电平变换器模型辅助测试方案的改进测试能力
Improved Testing Capability of the Model-Assisted Testing Scheme for a Modular Multilevel Converter
Yuan Tang · Li Ran · Olayiwola Alatise · Philip Mawby · IEEE Transactions on Power Electronics · 2016年11月
针对高功率应用中模块化多电平变换器(MMC)子模块数量庞大、全系统测试成本高昂的问题,本文提出了一种新型模型辅助测试方案。该方案允许在不构建完整MMC系统的情况下,对单个子模块进行高效、低成本的性能与可靠性测试。
解读: 该研究对于阳光电源在大功率电力电子变换器(如大型储能PCS及高压光伏并网设备)的研发具有重要参考价值。随着公司PowerTitan等大型储能系统及集中式逆变器向更高电压等级和模块化方向发展,子模块的测试效率直接影响研发周期与成本。该模型辅助测试方案可优化公司实验室的测试流程,降低对全系统硬件平台的依...
SiC功率MOSFET温度敏感电参数研究
An Investigation of Temperature-Sensitive Electrical Parameters for SiC Power MOSFETs
Jose Ortiz Gonzalez · Olayiwola Alatise · Ji Hu · Li Ran 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2017年10月
本文研究了SiC MOSFET的动态温度敏感电参数(TSEP)。研究表明,在特定工况下,开通期间的漏极电流变化率(dID/dt)与栅极电流平台(IGP)的耦合可作为有效的TSEP。由于负温度系数效应,这两个参数均随结温升高而增加。
解读: SiC器件是阳光电源提升光伏逆变器和储能PCS功率密度的核心技术。该研究提出的基于dID/dt和IGP的结温监测方法,可直接应用于阳光电源的组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统。通过在iSolarCloud平台集成此类在线结温监测算法,可实现对功率模块的实时健康状态(SO...
重复短路脉冲下平面型、对称及非对称沟槽型SiC MOSFET的退化分析
Degradation Analysis of Planar, Symmetrical and Asymmetrical Trench SiC MOSFETs Under Repetitive Short Circuit Impulses
Renze Yu · Saeed Jahdi · Phil Mellor · Li Liu 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年9月
本文分析了平面型、对称及非对称沟槽型SiC MOSFET在300K和450K温度下,经受重复短路脉冲时的可靠性。通过测量静态和动态参数,表征了三种结构的退化模式,并结合TCAD仿真揭示了其内部电热行为及退化机理。
解读: SiC MOSFET是阳光电源组串式光伏逆变器、PowerTitan/PowerStack储能变流器以及电动汽车充电桩的核心功率器件。随着公司产品向高功率密度、高效率演进,SiC器件的应用日益广泛。本文深入对比了不同沟槽结构在极端短路工况下的退化机理,对阳光电源在功率模块选型、驱动保护电路设计及系统...
碳化硅肖特基二极管开关损耗随dI/dt和温度变化的解析建模
Analytical Modeling of Switching Energy of Silicon Carbide Schottky Diodes as Functions of dI DS/dt and Temperature
Saeed Jahdi · Olayiwola Alatise · Li Ran · Philip Mawby · IEEE Transactions on Power Electronics · 2015年6月
碳化硅(SiC)肖特基二极管在电压源变换器中作为续流二极管时,常因二极管电容、寄生电阻和电路杂散电感产生的RLC谐振而出现振荡。本文开发了一种计算SiC二极管开关损耗的解析模型,该模型将开关损耗表示为开关速率(dI/dt)和温度的函数,为优化电力电子变换器的设计提供了理论依据。
解读: 该研究直接服务于阳光电源的核心功率器件选型与驱动设计。随着公司在组串式光伏逆变器(如SG系列)和储能变流器(如PowerTitan系列)中大规模应用SiC器件以提升功率密度和效率,精准的开关损耗模型对于优化散热设计及提升整机效率至关重要。该模型有助于研发团队在设计阶段更准确地评估SiC二极管在不同工...
窄结温波动对IGBT模块芯片连接焊料层影响的实验研究
Experimental Investigation on the Effects of Narrow Junction Temperature Cycles on Die-Attach Solder Layer in an IGBT Module
Wei Lai · Minyou Chen · Li Ran · Shengyou Xu 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2017年2月
本文研究了功率模块在小幅度结温波动(ΔTj)下的老化效应。通过对未老化和已老化模块进行功率循环测试,揭示了其失效机理,旨在为后续模块可靠性特征捕捉及寿命模型推导提供实验依据。
解读: IGBT模块是阳光电源组串式/集中式光伏逆变器、PowerTitan/PowerStack储能变流器及风电变流器的核心功率器件。该研究聚焦于小幅度结温波动下的焊料层失效机理,对提升阳光电源产品在复杂电网环境下的长寿命设计至关重要。建议研发团队将此实验结论融入iSolarCloud的寿命预测模型中,优...
SiC和CoolMOS功率MOSFET中双极型闩锁效应的紧凑型电热可靠性建模与实验表征
Compact Electrothermal Reliability Modeling and Experimental Characterization of Bipolar Latchup in SiC and CoolMOS Power MOSFETs
Roozbeh Bonyadi · Olayiwola Alatise · Saeed Jahdi · Ji Hu 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2015年12月
本文提出并验证了一种用于寄生BJT闩锁效应的紧凑型动态全耦合电热模型。该模型有助于提升商用功率器件的可靠性。BJT闩锁可由体二极管反向恢复硬换流(高dV/dt)或非钳位电感开关(UIS)下的雪崩导通触发。
解读: 该研究对阳光电源的核心产品线(如组串式逆变器、PowerTitan储能系统及风电变流器)至关重要。随着公司产品向高功率密度和高开关频率演进,SiC器件的应用日益广泛,其在高dV/dt工况下的闩锁风险是影响系统可靠性的关键瓶颈。该电热耦合模型可集成至研发流程中,用于优化逆变器及PCS的驱动电路设计与保...
功率MOSFET体二极管开关性能与鲁棒性分析:技术评估
An Analysis of the Switching Performance and Robustness of Power MOSFETs Body Diodes: A Technology Evaluation
Saeed Jahdi · Olayiwola Alatise · Roozbeh Bonyadi · Petros Alexakis 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2015年5月
本文探讨了1.2kV SiC MOSFET、硅功率MOSFET及900V CoolMOS体二极管在不同温度下的开关损耗与电热鲁棒性权衡。研究发现,所有器件的动态雪崩击穿最大正向电流均随电源电压和温度升高而降低,其中CoolMOS表现出最高的闩锁电流。
解读: 该研究对阳光电源的核心产品线具有重要指导意义。随着公司在组串式逆变器和PowerTitan系列储能系统中大规模应用SiC MOSFET及高压CoolMOS,体二极管的动态雪崩鲁棒性直接影响系统在极端工况下的可靠性。建议研发团队在功率模块选型及驱动电路设计时,充分考虑温度对雪崩电流的影响,优化死区时间...
一种用于带主动门极驱动器的并联SiC功率模块中电流均流的在线统一延迟与压摆率调节方法
An Online Unified Delay and Slew Rate Regulation for Current Sharing in Paralleled SiC Power Modules With Active Gate Drivers
Yan Li · Xibo Yuan · Yonglei Zhang · Kai Wang 等6人 · IEEE Transactions on Industrial Electronics · 2024年9月
为确保并联功率模块之间的电流均衡分配,可采用有源栅极驱动器(AGD)动态调节电流。然而,在碳化硅(SiC)器件极快的开关速度(例如小于100纳秒)下,AGD要实现有效、灵活且精确的动态电流调节颇具挑战。因此,本文提出了一种用于并联碳化硅金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)功率模块的AGD在线统一开通/关断延时及电流变化率调节方案。该方案的优势在于,它能对延时调节和电流变化率调节实现独立的闭环控制,即电流变化率的调节不会影响已调好的延时补偿。此外,所提出的基于仅含两个推挽驱动通...
解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项针对并联SiC功率模块的主动栅极驱动器(AGD)电流均衡技术具有重要的应用价值。在我们的大功率光伏逆变器和储能变流器产品中,多模块并联已成为提升系统容量和可靠性的核心架构,而SiC器件的广泛应用正在推动产品向更高功率密度和效率演进。 该技术的核心创新在于实现了延迟调节...
重复应力条件下沟槽型碳化硅MOSFET短路安全工作区的确定
Determination of Short-Circuit Safe Operating Area of Trench SiC MOSFETs Under Repetitive Stress Conditions
Renze Yu · Saeed Jahdi · Phil Mellor · Olayiwola Alatise 等5人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年6月
在本研究中,对对称双沟槽和非对称沟槽碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)在不同短路持续时间( ${t} {_{\text {sc}}}$ )和漏源电压( ${V} {_{\text {ds}}}$ )下进行了重复短路测量。对碳化硅MOSFET的短路安全工作区(SCSOA)进行了表征。结果表明,在所有测试条件下失效的器件均出现栅源短路故障。失效循环次数与短路能量( ${E} {_{\text {sc}}}$ )有关,而短路能量受 ${t} {_{\text {s...
解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于沟槽型SiC MOSFET短路安全工作区(SCSOA)的研究具有重要的工程应用价值。作为光伏逆变器和储能变流器的核心功率器件,SiC MOSFET的可靠性直接影响系统的安全性和全生命周期成本。 该研究揭示了重复短路应力下器件失效的关键机理,特别是栅源短路失效模式与...