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碳化硅肖特基二极管开关损耗随dI/dt和温度变化的解析建模
Analytical Modeling of Switching Energy of Silicon Carbide Schottky Diodes as Functions of dI DS/dt and Temperature
| 作者 | Saeed Jahdi · Olayiwola Alatise · Li Ran · Philip Mawby |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2015年6月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 可靠性分析 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | SiC肖特基势垒二极管 开关能量 dI/dt 温度 RLC谐振 寄生电阻 杂散电感 电力电子 |
语言:
中文摘要
碳化硅（SiC）肖特基二极管在电压源变换器中作为续流二极管时，常因二极管电容、寄生电阻和电路杂散电感产生的RLC谐振而出现振荡。本文开发了一种计算SiC二极管开关损耗的解析模型，该模型将开关损耗表示为开关速率（dI/dt）和温度的函数，为优化电力电子变换器的设计提供了理论依据。
English Abstract
SiC Schottky Barrier diodes (SiC SBD) are known to oscillate/ring in the output terminal when used as free-wheeling diodes in voltage-source converters. This ringing is due to RLC resonance among the diode capacitance, parasitic resistance, and circuit stray inductance. In this paper, a model has been developed for calculating the switching energy of SiC diodes as a function of the switching rate ...
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SunView 深度解读
该研究直接服务于阳光电源的核心功率器件选型与驱动设计。随着公司在组串式光伏逆变器（如SG系列）和储能变流器（如PowerTitan系列）中大规模应用SiC器件以提升功率密度和效率，精准的开关损耗模型对于优化散热设计及提升整机效率至关重要。该模型有助于研发团队在设计阶段更准确地评估SiC二极管在不同工况下的损耗，从而优化驱动电路参数，抑制高频振荡，提升产品在高压、高温环境下的可靠性与电磁兼容性（EMC）表现。