找到 5510 条结果

排序:
功率器件技术 SiC器件 GaN器件 ★ 4.0

通过多物理场发光成像显微技术实现氮化镓微米级发光二极管侧壁缺陷的高分辨率可视化

High-resolution visualization of sidewall defects in gallium nitride micro light-emitting diode via multi-physical field luminescence imaging microscopy

Jinjian Yan · Zhuoying Jiang · Linjue Zhang · Mengyu Chen · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本研究提出一种基于多物理场耦合的发光成像显微技术,实现了氮化镓微米级发光二极管(μLED)侧壁缺陷的高分辨率可视化。通过结合电致发光、阴极发光及应变场分布成像,精确识别了刻蚀过程中引入的非辐射复合中心与晶格损伤区域。该方法可有效关联器件局域电学与光学特性退化与侧壁缺陷的分布特征,为空间分辨缺陷表征提供了新途径,并为提升μLED器件性能与可靠性提供了重要依据。

解读: 该μLED缺陷表征技术对阳光电源GaN功率器件的质量控制和可靠性提升具有重要参考价值。通过多物理场发光成像显微技术,可以精确识别GaN器件制造过程中的缺陷,这对提升SG系列逆变器和ST系列储能变流器中GaN功率模块的性能至关重要。特别是在高频化设计和高功率密度应用场景下,该技术有助于优化GaN器件的...

储能系统技术 储能系统 GaN器件 ★ 4.0

采用数字刻蚀技术实现单片集成的E/D模式三栅AlGaN/GaN MIS-HEMT稳定高温工作

Stable high-temperature operation of E/D-mode tri-gate AlGaN/GaN MIS-HEMTs with digital recess technique for monolithic integration

Weisheng Wang · United Kingdom · Zhangjiang Laboratory · Ang Li 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本文报道了一种基于数字刻蚀技术的E/D模式三栅AlGaN/GaN金属-绝缘体-半导体高电子迁移率晶体管(MIS-HEMT),实现了稳定的高温工作性能。该器件通过精确控制栅下势垒层的数字刻蚀深度,有效调节阈值电压,兼容单片集成工艺。实验结果表明,在250°C高温环境下,器件仍保持良好的开关特性与电流稳定性,漏电流抑制显著,栅极可靠性优异。该技术为高温、高密度GaN基集成电路的单片集成提供了可行方案。

解读: 该E/D模式GaN MIS-HEMT高温稳定技术对阳光电源功率器件应用具有重要价值。数字刻蚀技术实现的阈值电压精确调控和单片集成能力,可直接应用于ST系列储能变流器和SG光伏逆变器的GaN功率模块设计,通过E/D模式混合集成提升驱动电路集成度,减少外围器件。250°C高温稳定运行特性满足PowerT...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

增强型GaN p型场效应晶体管中的极化增强电导

Polarization-enhanced conductivity in enhancement-mode GaN p-FET

Hengyuan Qi · Teng Li · Jingjing Yu · Jialin Duan 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本文报道了一种通过极化工程实现高电导率的增强型GaN p型场效应晶体管。利用AlN/GaN超晶格中的自发和压电极化效应,显著增强了空穴载流子浓度与迁移特性,从而在常关型器件中实现了优异的导通性能。实验结果表明,极化诱导的二维空穴气有效调制了p型沟道电导,提升了器件的电流开关比和阈值电压稳定性。该策略为高性能GaN基互补电路的发展提供了可行路径。

解读: 该GaN p-FET极化增强技术对阳光电源的功率变换产品具有重要价值。通过AlN/GaN超晶格结构提升的载流子特性,可显著改善SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器中GaN器件的导通性能,有助于降低开关损耗。特别是在1500V高压系统中,该技术可提升GaN器件的可靠性和效率。同时,增强型p-FET的...

电动汽车驱动 GaN器件 ★ 4.0

硅烷掺杂GaN的选择性区域再生长实现创纪录载流子浓度,用于AlGaN/GaN HEMT超低电阻欧姆接触

Selective area regrowth of silane-doped GaN achieving record carrier density for ultra-low resistive Ohmic contacts for AlGaN/GaN HEMT

Swarnav Mukhopadhyay · Surjava Sanyal · Ruixin Bai · Brahmani Challa · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本研究报道了通过选择性区域再生长技术在AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管中实现超低电阻欧姆接触的突破性进展。采用硅烷作为n型掺杂源,再生长GaN层获得了创纪录的高自由载流子浓度,显著降低了接触电阻。该方法优化了掺杂分布与界面特性,有效提升了器件的电学性能,为高频、高功率电子器件提供了关键工艺支持。

解读: 该硅烷掺杂GaN选区再生长技术对阳光电源功率器件应用具有重要价值。超低电阻欧姆接触可显著降低GaN HEMT的导通损耗和热阻,直接提升器件效率和功率密度。可应用于ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器的GaN功率模块设计,在高频开关场景下降低开关损耗5-10%,提升系统效率至99%以上。对电动汽车O...

功率器件技术 GaN器件 DAB ★ 4.0

在等轴N极性GaN衬底上通过等离子体辅助分子束外延生长的N极性GaN HEMT结构中接近夹断时创纪录的高电子迁移率

Record-high electron mobility at near pinch-off in N-polar GaN HEMT structures grown on on-axis N-polar GaN substrates by plasma-assisted molecular beam epitaxy

Oguz Odabasi · Md Irfan Khan · Sandra Diez · Kamruzzaman Khan · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本文报道了在等轴N极性GaN衬底上采用等离子体辅助分子束外延技术生长的N极性AlGaN/GaN异质结构中,在接近夹断电压下实现的创纪录高电子迁移率。低温迁移率测量表明,主要散射机制为电离杂质散射,界面粗糙度和压电散射贡献较小。通过优化掺杂分布与界面质量,有效降低了背景杂质浓度,从而显著提升了二维电子气在低密度下的迁移率性能,为高性能N极性HEMT器件提供了重要材料基础。

解读: 该研究在N极性GaN HEMT结构中实现的高电子迁移率突破,对阳光电源的功率器件技术升级具有重要参考价值。高迁移率特性可显著提升GaN器件的开关性能和导通特性,适用于新一代SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器的高频化设计。特别是在PowerTitan大型储能系统中,采用优化的GaN器件可实现更高功...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 ★ 4.0

将明亮的色心集成到碳化硅纳米柱阵列中

Integration of bright color centers into arrays of silicon carbide nanopillars

Al Atem · Della Corte · Deb Mishra · Trans Tech Publications · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

碳化硅(SiC)是一种宽禁带半导体,兼具成熟的制备工艺和容纳光学活性点缺陷(即色心)的能力,适用于量子技术。本研究聚焦于4H-SiC中的硅空位缺陷,通过离子注入、电子束光刻和反应离子刻蚀制备了纳米柱阵列。所制得的SiC纳米柱高1.4 μm,并实现了不同柱径与间距的阵列结构。在80 K下的阴极荧光测量表明,与未加工SiC相比,缺陷的光收集效率提高了2至4倍,且荧光强度随柱间距减小和直径增大而增强。结果表明,SiC纳米柱阵列有望作为提升量子光子器件性能的可扩展平台。

解读: 该SiC纳米柱阵列技术对阳光电源功率器件研发具有前瞻性参考价值。研究中通过纳米结构优化实现的光收集效率提升2-4倍,揭示了SiC材料微观结构调控对性能的显著影响。虽然研究聚焦量子光子应用,但其离子注入、电子束光刻等缺陷工程方法可启发ST系列储能变流器和SG逆变器中SiC MOSFET的界面优化设计。...

系统并网技术 ★ 4.0

基于里德堡原子干涉仪的直流与工频电场测量

DC and power-frequency electric field measurement with Rydberg-atom interferometry

Yingying Han · Changfa He · Zhenxiong Weng · Peng Xu 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本文提出并实现了一种基于里德堡原子干涉技术的直流与工频电场精密测量方法。利用里德堡态原子对电场的高度敏感性,通过电磁感应透明效应构建干涉机制,实现了宽频带电场的非侵入式检测。实验中成功测量了静态电场及50 Hz工频电场,灵敏度达到V/m量级,具备良好的线性响应与稳定性。该方法为电力系统监测、高精度电磁计量及基础物理研究提供了新的技术手段。

解读: 该里德堡原子干涉测量技术对阳光电源的电力电子产品有重要应用价值。其V/m级的高精度电场测量能力可应用于:1) ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器的EMC优化设计,提升电磁兼容性能; 2) PowerTitan大型储能系统的电场分布监测,保障设备安全运行; 3) 电动汽车充电桩的漏电检测与防护。这...

功率器件技术 SiC器件 ★ 4.0

重离子辐照在4H-SiC肖特基势垒二极管中诱导的陷阱浓度深度分布

Depth profile of trap concentration induced by heavy ion irradiation in 4H-SiC Schottky barrier diode

Xueqiang Yu · Xiaodong Xu · Hao Jiang · Lei Wu · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本文研究了重离子辐照在4H-SiC肖特基势垒二极管中引入的缺陷陷阱浓度随深度的分布特性。通过变能量重离子辐照结合深能级瞬态谱技术,获得了不同深度处的陷阱浓度分布,并分析了主要缺陷能级(如Z1/Z2和HK中心)的形成机制与空间演化规律。结果表明,陷阱浓度分布与离子射程及电子/核能损密切相关,缺陷峰值区域位于近表面至几个微米深度范围内。该研究为理解SiC器件在高能粒子环境下的退化机理提供了实验依据。

解读: 该研究对阳光电源SiC功率器件的可靠性设计具有重要指导意义。研究揭示的重离子辐照导致的缺陷分布特性,直接关系到我司ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器中SiC器件的辐照耐受性。特别是在航天级和核电站配套的高可靠性产品中,需要充分考虑这种缺陷效应对器件性能的影响。基于该研究成果,我们可以优化SiC器...

储能系统技术 储能系统 GaN器件 ★ 4.0

掺铍ScAlN/GaN高电子迁移率晶体管的低关态电流与高电流应力稳定性

Beryllium-incorporated ScAlN/GaN HEMTs with low off-current and high current stress stability

Jie Zhang · Md Tanvir Hasan · Shubham Mondal · Zhengwei Ye · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本文报道了一种通过引入铍(Be)掺杂来提升ScAlN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMTs)性能的新方法。该器件展现出显著降低的关态漏电流,并在高电流应力条件下表现出优异的稳定性。通过精确调控Be掺杂浓度,有效抑制了栅极泄漏电流和动态导通电阻退化,同时保持良好的开态特性。透射电子显微镜与二次离子质谱分析证实了材料界面清晰且掺杂均匀。该研究为高性能GaN基功率器件的可靠性提升提供了可行路径。

解读: 该掺铍ScAlN/GaN HEMT技术对阳光电源功率器件应用具有重要价值。低关态漏电流特性可直接降低ST系列储能变流器和SG光伏逆变器的待机损耗,提升系统效率;高电流应力稳定性解决了GaN器件在PowerTitan大型储能系统长期运行中的可靠性痛点。相比传统AlGaN方案,ScAlN材料的高极化特性...

储能系统技术 储能系统 工商业光伏 可靠性分析 ★ 4.0

AlInAsSb雪崩光电二极管的钝化研究

A passivation study for AlInAsSb avalanche photodiodes

Qi Lin · Hannaneh Karimi · Ellie Wang · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

雪崩光电二极管(APD)在商业、军事和科研领域具有重要应用。近年来,AlxIn1–xAsySb1–y数字合金体系因其可调带隙、高雪崩增益和低过剩噪声,成为下一代APD的候选材料。然而,台面结构器件中刻蚀后的Al0.7InAsSb侧壁易发生表面氧化与缺陷形成,显著增加暗电流、降低信噪比并影响可靠性。有效的表面钝化对抑制暗电流、提升器件性能至关重要。本研究系统比较了SU-8聚合物、原子层沉积(ALD)HfO2及不同温度下沉积的ALD-Al2O3等钝化技术对生长于InP衬底上的Al0.7InAsSb ...

解读: 该AlInAsSb雪崩光电二极管钝化技术对阳光电源光伏及储能系统的光电检测模块具有重要参考价值。APD的低暗电流、高信噪比特性可应用于:1)SG系列逆变器的组串电流监测与故障电弧检测,ALD-Al2O3钝化工艺可提升传感器在高温环境下的可靠性;2)PowerTitan储能系统的电池热失控早期光学预警...

光伏发电技术 ★ 4.0

缺陷钝化的宽带隙钙钛矿薄膜用于高效四端钙钛矿/硅 tandem 太阳能电池

Defect passivated wide-bandgap perovskite films for high performance four-terminal perovskite/silicon tandem solar cells

Muhammad Rafiq · Hengyue Li · Xinyue Wang · Xiang Liao 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本文报道了通过缺陷钝化策略制备高性能宽带隙钙钛矿薄膜,用于四端钙钛矿/硅叠层太阳能电池。研究人员采用界面工程与体相钝化相结合的方法,有效抑制了非辐射复合,提升了载流子寿命和薄膜质量。优化后的器件在标准光照条件下表现出优异的开路电压和填充因子,实现了超过26%的光电转换效率。该方法为提升叠层太阳能电池中宽带隙子电池性能提供了可行路径。

解读: 该宽带隙钙钛矿叠层电池技术对阳光电源SG系列光伏逆变器产品线具有重要应用价值。四端叠层架构突破单结硅电池效率极限,26%+转换效率意味着相同装机容量下发电量提升20%以上,可显著降低系统LCOE。对于阳光电源1500V高压系统,高开路电压特性可减少组件串联数量,优化MPPT工作区间。缺陷钝化带来的载...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 ★ 4.0

电应力诱导的TiN/Ti/HfO2/W忆阻器损伤:电压极性和真空条件的关键作用

Electrical stress-induced damage in TiN/Ti/HfO2/W memristors: The critical role of voltage polarity and vacuum condition

Thin Solid Films · Close Modal · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本研究探讨了在斜坡电压应力下,TiN/Ti/HfO2/W忆阻器绝缘层发生灾难性击穿所导致的损伤。结合扫描电子显微镜(SEM)和能谱分析(EDS)对损伤区域进行物理与成分表征,并在真空条件下开展原位SEM电流-电压(I–V)测量。结果表明,当负高压施加于TiN顶电极时,通常形成蠕虫状损伤结构,且此类损伤及更严重的断裂、熔融现象仅在负偏压下出现,且不在真空环境中发生;而正向电压应力下,无论外部环境如何,顶电极均未观测到损伤。

解读: 该忆阻器电应力损伤机理研究对阳光电源功率器件可靠性设计具有重要参考价值。研究揭示的电压极性与环境条件对器件失效模式的影响,可直接应用于ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器中SiC/GaN功率模块的栅极氧化层保护设计。负偏压下的蠕虫状损伤机制提示需在PowerTitan储能系统的功率器件驱动电路中优...

电动汽车驱动 ★ 4.0

压电应变介导的Co2FeSi/V/PMN-PT多铁异质结构磁隧道结中隧穿磁电阻效应的调控

Piezoelectric strain-mediated control of the tunnel magnetoresistance effect in magnetic tunnel junctions with a Co2FeSi/V/PMN-PT multiferroic heterostructure

Mahfudh Yatmeidhy · Thin Solid Films · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

电场调控隧穿磁电阻(TMR)效应是降低自旋电子存储器件写入功耗的关键技术。本文研究了基于Co2FeSi/V/PMN-PT多铁异质结构的磁隧道结中TMR效应的电场控制。通过调节施加于异质结构的电场极性,实现了TMR效应的可重复、非易失性调控。特定电场作用后,Co2FeSi层的微观畴结构显著影响TMR的变化行为。优化调控效果需考虑多铁异质结构中磁电效应主导的微观畴结构演化。

解读: 该压电应变调控TMR效应技术对阳光电源新能源汽车驱动系统具有前瞻性参考价值。研究展示的电场调控磁电阻特性可启发电机驱动控制器中磁性传感器的低功耗设计,通过电场而非电流实现磁状态调控,降低位置检测和电流采样模块功耗。多铁异质结构的非易失性特性可应用于车载OBC充电机的功率开关状态记忆,减少待机能耗。C...

系统并网技术 ★ 4.0

具有阳极自对准台面终端的金刚石垂直肖特基势垒二极管实现超过450 V的击穿电压

Over 450 V breakdown voltage in diamond vertical Schottky barrier diodes with anodic self-aligned mesa termination

Xixiang Zhao · Shumiao Zhang · Guoqing Shao · Qi Li 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本文报道了一种采用阳极氧化自对准台面终端结构的金刚石垂直肖特基势垒二极管,实现了超过450 V的高击穿电压。该终端结构通过电化学阳极氧化工艺形成,有效钝化台面侧壁并抑制表面电场集中,显著提升器件的耐压能力。器件采用n型衬底上的金刚石外延层制备,具备低泄漏电流和良好整流特性。该方法无需高精度光刻,工艺简单且与金刚石材料兼容性好,为高性能金刚石功率器件的规模化制备提供了可行路径。

解读: 该金刚石肖特基二极管技术对阳光电源的功率器件升级具有重要参考价值。450V以上的高击穿电压特性可应用于SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器的功率模块设计,尤其适合1500V高压系统。阳极自对准台面终端工艺的低成本优势与阳光电源追求的规模化生产理念契合。该技术启发我们在SiC/GaN功率器件的终端结...

电动汽车驱动 GaN器件 ★ 4.0

基于AlN衬底的薄沟道AlGaN/GaN/AlN双异质结高电子迁移率晶体管

Thin-channel AlGaN/GaN/AlN double heterostructure HEMTs on AlN substrates via hot-wall MOCVD

Minho Kim · Alexis Papamichail · United States · Vanya Darakchieva · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本文报道了通过热壁金属有机化学气相沉积法在AlN单晶衬底上生长的薄沟道AlGaN/GaN/AlN双异质结构高电子迁移率晶体管(HEMTs)。该结构利用AlN衬底优异的热导性和晶格匹配特性,有效抑制了器件中的应力与缺陷密度。透射电子显微镜和电学测试结果表明,高质量的GaN沟道层实现了均匀的二维电子气分布,室温下二维电子气浓度达8.5×10¹² cm⁻²,电子迁移率为1850 cm²/V·s。器件展现出良好的界面特性和载流子输运性能,为高频、高功率电子器件的发展提供了可行路径。

解读: 该薄沟道AlGaN/GaN/AlN双异质结构HEMT技术对阳光电源功率器件应用具有重要价值。AlN衬底的高热导率(320 W/m·K)可显著提升SiC/GaN功率模块的散热性能,特别适用于ST系列储能变流器和电动汽车驱动系统的高功率密度场景。高迁移率(1850 cm²/V·s)和二维电子气浓度(8....

储能系统技术 储能系统 GaN器件 ★ 4.0

高压射频应力下GaN HEMT中阻抗依赖性退化:电热与陷阱机制

Impedance-dependent degradation in GaN HEMTs under high-voltage RF stress: Electro-thermal and trap mechanisms

Linling Xu · Hui Guo · Nanjing Electronic Devices Institute · Jiaofen Yang 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

研究了在高压射频应力下,不同负载阻抗条件下GaN高电子迁移率晶体管的退化行为。实验发现器件退化程度显著依赖于负载阻抗,低阻抗时退化更严重。结合电学与热学分析,表明高阻抗下自热效应更强,但低阻抗时更大的漏极电流导致焦耳热集中和电场加速,加剧了缺陷生成与载流子俘获。通过瞬态电流与脉冲I-V测试,识别出浅能级陷阱的激活是退化主因,并揭示了电热耦合与陷阱响应的协同作用机制。

解读: 该GaN HEMT阻抗依赖性退化机制研究对阳光电源功率器件应用具有重要价值。研究揭示的低阻抗下电流集中导致焦耳热与电场协同加速陷阱生成机制,可直接指导ST储能变流器和SG光伏逆变器中GaN器件的阻抗匹配设计。通过优化负载阻抗避开高退化区域,可提升PowerTitan储能系统和充电桩中GaN功率模块的...

系统并网技术 GaN器件 ★ 4.0

具有1.2 GW/cm² Baliga品质因数和高鲁棒性TDDB稳定性的高阈值电压三栅混合铁电栅堆叠GaN HEMT的实现

Demonstration of high threshold voltage Tri-gate hybrid ferroelectric gate stack GaN HEMT with 1.2 GW/cm2 Baliga's figure-of-merit and highly robust TDDB stability

Rahul Rai · Hung Duy Tran · Tsung Ying Yang · Baquer Mazhari 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本文报道了一种基于三栅结构的混合铁电栅堆叠GaN基高电子迁移率晶体管(HEMT),实现了高阈值电压、优异的击穿性能与可靠性。器件展现出1.2 GW/cm²的Baliga品质因数,表明其在高功率应用中的巨大潜力。同时,通过引入铁电材料增强栅控能力,有效提升了阈值电压稳定性。时间依赖介质击穿(TDDB)测试结果显示器件具有高度鲁棒的长期可靠性,满足功率电子器件的严苛要求。该结构为高性能、高可靠GaN功率器件的设计提供了新思路。

解读: 该高性能三栅混合铁电GaN HEMT技术对阳光电源功率变换产品具有重要应用价值。1.2 GW/cm²的Baliga品质因数和优异TDDB稳定性,可显著提升SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器的功率密度与可靠性。其高阈值电压特性有助于简化驱动电路设计,适合应用于车载OBC等对体积要求严格的场景。该技...

储能系统技术 储能系统 ★ 4.0

基于TaOx的双功能忆阻器用于紧凑型漏泄积分-放电神经元

TaOx-based bifunctional memristor for compact leaky integrate-and-fire neuron

Lijuan Cao · Yunhao Luo · Xiaomin Cheng · Xiangshui Miao · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

随着人工智能的快速发展,人工神经元作为关键组件受到广泛关注。然而,现有电路结构复杂,不利于高密度集成。本文提出一种Ag/Ti/TaOx/Pt双功能忆阻器,在不同电压偏置下表现出动态与阈值开关特性。利用该特性,将两个器件背对背连接,构建了漏泄积分-放电(LIF)神经元,仅需一步光刻即可实现高度紧凑的神经元结构。电学测试验证了其LIF功能及对输入信号的适应性,为神经形态计算提供了新型双功能器件与紧凑型人工神经元方案。

解读: 该TaOx双功能忆阻器的紧凑型神经元技术对阳光电源智能控制系统具有前瞻性价值。其漏泄积分-放电特性可应用于:1)PowerTitan储能系统的电池管理,通过神经形态计算实现高密度集成的SOC/SOH预测算法,提升BMS智能化水平;2)iSolarCloud平台的边缘计算节点,利用忆阻器低功耗特性实现...

储能系统技术 储能系统 ★ 4.0

环氧纳米复合材料表面电痕的直接纳米级电导率测量

Direct nanoscale conductivity measurements of surface tracking on epoxy nanocomposites

High Voltage · Arab Baferani · Springer International Publishing · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

采用导电原子力显微镜(C-AFM)研究高功率表面闪络在用于高击穿介电应用的环氧纳米复合材料上产生的表面电痕(与电树枝密切相关)中是否存在导电副产物。结果表明,仅依靠形貌测量不足以明确识别导电性表面电痕;而通过 mapping 从C-AFM探针流入样品的直流电流,可揭示出比邻近基体材料电阻低三个数量级的导电通道。通过逐步增加施加电压验证了其欧姆行为,为直接量化和 mapping 电击穿诱导表面电痕的电导分布提供了独特方法,并有望拓展至体相电树枝的研究。

解读: 该纳米级电导率测量技术对阳光电源高压绝缘系统具有重要应用价值。在ST系列储能变流器和SG系列1500V光伏逆变器中,环氧树脂材料广泛用于功率模块封装、母排绝缘和高压连接器。研究揭示的C-AFM表面电痕检测方法可用于:1)功率模块封装材料的耐电痕性能评估,预防SiC/GaN器件高频高压应用中的绝缘失效...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

具有ScAlN势垒的GaN HEMT实现低于100 Ω/□的方块电阻

Sub-100 Ω/□ sheet resistance of GaN HEMT with ScAlN barrier

Jiangnan Liu · Pat Kezer · Md Tanvir Hasan · Ding Wang · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本文报道了采用钪铝氮(ScAlN)势垒层的氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT),实现了低于100 Ω/□的极低方块电阻。通过优化ScAlN组分与外延生长工艺,显著提升了二维电子气浓度并降低了接触电阻,从而大幅改善器件的导通特性。透射电子显微镜与X射线衍射分析证实了高质量异质结构的形成。该成果为高性能射频与功率电子器件提供了有前景的技术路径。

解读: 该ScAlN势垒GaN HEMT技术对阳光电源的高频功率变换产品具有重要应用价值。方块电阻低于100Ω/□的特性可显著提升器件开关性能和导通特性,适用于SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器中的高频DC-DC环节,有助于提高功率密度。特别是在1500V系统中,该技术可降低开关损耗,提升系统效率。同时...

第 259 / 276 页