找到 11 条结果 · 功率器件技术

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功率器件技术 GaN器件 ★ 5.0

基于3纳米绝缘层的高性能MIM/p-GaN栅极HEMT

High-Performance MIM/p-GaN Gate HEMTs With a 3-nm Insulator for Power Conversion

Zhibo Cheng · Xiangdong Li · Jian Ji · Lu Yu 等6人 · IEEE Electron Device Letters · 2025年3月

正向偏置栅极击穿电压 ${V}_{\text {G- {BD}}}$ 较低的肖特基型 p - GaN 栅极高电子迁移率晶体管(HEMT)在开关过程中容易发生故障。在这项工作中,提出了一种在 p - GaN 层顶部具有 TiN/Al₂O₃/TiN(30/3/40 纳米)金属 - 绝缘体 - 金属(MIM)结构的高性能 MIM/p - GaN 栅极 HEMT。与传统的肖特基型参考器件相比,MIM/p - GaN 栅极结构成功地将 ${V}_{\text {G- {BD}}}$ 从 11.4 V 提高...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项MIM/p-GaN栅极HEMT技术对我们的核心产品线具有重要战略价值。该技术通过在p-GaN层上集成超薄3nm Al2O3绝缘层的金属-绝缘体-金属结构,将栅极击穿电压从11.4V提升至14.1V,最大工作栅压从5.1V提升至7.0V,这直接解决了传统肖特基型p-GaN...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

一种利用源极寄生电阻和电感提取SiC功率MOSFET漏极电流的技术

A Drain Current Extraction Technique Using Source Parasitic Resistance and Inductance in SiC Power MOSFETs

Tiantian Liu · Yuhua Quan · Xuetong Zhou · Yufei Tian 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年4月

为实时监测碳化硅(SiC)功率MOSFET的运行状态,本文提出了一种基于封装寄生参数的在路漏极电流提取技术。通过对开尔文源极与功率源极之间的连接进行建模,将其等效为串联的电阻(RSS)和电感(LSS)。通过对RSS和LSS两端的电压进行积分和采样,可实现对漏极电流的实时重构。

解读: 该技术对阳光电源的核心业务具有极高的应用价值。随着公司在光伏逆变器和PowerTitan/PowerStack储能系统中大规模应用SiC功率模块,实现对器件电流的实时、高精度监测对于提升系统可靠性和故障诊断能力至关重要。该方法无需额外的电流传感器,有助于降低系统成本并减小体积。建议研发团队将其集成至...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

SiC MOSFET并联运行中动态电流平衡的共源电感补偿技术

Common Source Inductance Compensation Technique for Dynamic Current Balancing in SiC MOSFETs Parallel Operations

Boyi Zhang · Ruxi Wang · Peter Barbosa · Qianyi Cheng 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年11月

在牵引逆变器等高电流应用中,SiC MOSFET常通过并联以提升电流等级,但不对称布局引起的寄生电感差异会导致动态电流不平衡,进而引发器件及系统故障。本文提出了一种共源电感补偿技术,旨在解决并联SiC MOSFET的动态电流不平衡问题,提升功率模块的运行可靠性。

解读: 该技术对阳光电源的组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能变流器(PCS)具有重要意义。随着公司产品向更高功率密度演进,SiC器件的大规模并联应用日益增多,动态电流不平衡是制约模块可靠性的关键瓶颈。该补偿技术可直接优化公司功率模块的PCB布局设计与驱动电路,降低开关过程中的电压尖...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 宽禁带半导体 ★ 5.0

一种适用于SiC MOSFET的低成本、高性能且易于设计的电流检测电路分析与设计

Analysis and Design of a Low-Cost Well-Performance and Easy-to-Design Current Sensing Circuit Suitable for SiC mosfets

Chengzi Yang · Yunqing Pei · Laili Wang · Longyang Yu 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2020年12月

电流采样电阻(CSR)因成本和集成优势广泛应用于工业领域。然而,在SiC MOSFET等高开关速度器件中,CSR的寄生电感会导致高di/dt下的瞬态电流采样出现严重偏差。本文提出了一种低成本、高性能且易于设计的电流检测电路,有效解决了SiC高频开关带来的采样干扰问题。

解读: 随着阳光电源在组串式逆变器(如SG系列)和储能系统(如PowerTitan)中全面推广SiC MOSFET以提升功率密度和效率,高频开关带来的电流采样噪声已成为制约系统性能的关键瓶颈。该研究提出的低成本采样方案,能够有效抑制SiC高di/dt引起的寄生电感干扰,提升电流环控制精度。建议研发团队在下一...

功率器件技术 IGBT 故障诊断 可靠性分析 ★ 5.0

基于栅极电压监测与分析的IGBT间接过流检测技术

Indirect IGBT Over-Current Detection Technique Via Gate Voltage Monitoring and Analysis

Xinchang Li · Dawei Xu · Hongyue Zhu · Xinhong Cheng 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2019年4月

本文提出了一种基于栅极电压波形分析的IGBT过流检测新方法。通过分析IGBT开通瞬态模式检测硬开关故障(HSF),并监测导通状态下的栅极电压以识别负载下的故障(FUL)。该方法通过提取关断期间的米勒平台电压,实现了对IGBT故障的有效监测。

解读: 该技术对阳光电源的核心产品线(如组串式/集中式光伏逆变器、PowerTitan/PowerStack储能系统)具有极高的应用价值。IGBT作为功率变换的核心器件,其可靠性直接决定了产品的寿命与安全性。传统的过流检测通常依赖电流传感器,响应速度受限且成本较高。该技术通过栅极电压实现间接检测,能够显著提...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

首次实验证明采用TiNxOy电阻场板的p-GaN HEMT器件实现BV与Ron的同时提升

First Experimental Demonstration of TiNxOy Resistive Field Plate on p-GaN HEMTs With Simultaneously Enhanced BV and Ron

Zhuocheng Wang · Wanjun Chen · Fangzhou Wang · Cheng Yu 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年6月

本研究展示了采用电阻场板(RFP)的 p - GaN 高电子迁移率晶体管(HEMT),该晶体管可同时改善导通态和关断态性能。RFP - HEMT 的特点是具有高电阻率的氮氧化钛(TiNₓOᵧ)电阻钝化层,该层从源极向漏极延伸。由于表面电场(E 场)调制效应和二维电子气(2 - DEG)增强效应,所设计的 RFP - HEMT 不仅在阻断状态下实现了更高的击穿电压(BV),而且在导通状态下实现了更低的导通电阻($R_{\text {on}}$)。与传统的绝缘钝化器件相比,栅极 - 漏极间距为 20...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于TiNxOy电阻场板的p-GaN HEMT技术具有重要的战略价值。该技术通过创新的电阻钝化层设计,突破了传统功率器件击穿电压与导通电阻之间的权衡限制,实现了1860V击穿电压提升111%的同时,导通电阻降低25%,功率优值(BFOM)提升近5倍,这对我们的光伏逆变器...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 4.0

p-GaN HEMT与反并联横向整流器的单片集成以降低负阻效应

Monolithic Integration of p-GaN HEMT With Antiparallel Lateral Rectifier to Reduce the Negative Resistance Effect

Yufei Tian · Ruiyan Pan · Lingyan Shen · Xuetong Zhou 等10人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年5月

p-GaN HEMT在桥式拓扑中常作为续流管使用,但在死区时间内易出现漏源电压与栅极电压振荡,引发电磁干扰。本文提出了一种单片集成反并联横向整流器的方法,有效抑制了p-GaN HEMT在死区期间的负阻效应及相关振荡问题。

解读: 该研究针对宽禁带半导体GaN器件在桥式拓扑中的高频振荡问题,提出了单片集成解决方案,对阳光电源的组串式逆变器及户用光伏逆变器的高频化设计具有重要参考价值。随着阳光电源产品向更高功率密度和更高开关频率演进,GaN器件的应用日益广泛。该技术能有效降低电磁干扰(EMI),提升系统可靠性,建议研发团队关注该...

功率器件技术 GaN器件 多物理场耦合 ★ 4.0

基于体接地耦合效应的GaN基MIS-HEMT绝缘层击穿分析

Analysis of Insulator Breakdown Induced by Body-Grounded-Coupling Effect in GaN-Based MIS-HEMT

Cheng-Hsien Lin · Chien-Hung Yeh · Po-Hsun Chen · Ting-Chang Chang 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年1月

本研究聚焦于D模式氮化镓基金属-绝缘体-半导体高电子迁移率晶体管(MIS - HEMT)实际运行过程中出现的异常击穿问题。测量统计结果显示,体浮空器件的击穿电压( ${V}_{\text {BD}}\text {)}$ 达到1653 V;然而,体接地器件在1161 V时就发生了早期击穿。通过高温反向偏置(HTRB)退化机制,发现由于体接触导致沟道层能带存在差异。实验结果表明,该现象与漏致势垒降低(DIBL)相对应,导致沟道提前开启。技术计算机辅助设计(TCAD)仿真表明,与体浮空状态相比,体接地...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于GaN基MIS-HEMT器件绝缘层击穿机理的研究具有重要的工程应用价值。GaN功率器件凭借其高频、高效、高功率密度特性,正成为我们新一代光伏逆变器和储能变流器的核心技术方向,直接影响系统的功率密度提升和成本优化。 该研究揭示的体接地耦合效应对我们的产品设计具有关键...

功率器件技术 GaN器件 DC-DC变换器 宽禁带半导体 ★ 4.0

一种具有Bang-Bang死区控制和电荷共享自举电路的GaN同步Buck变换器集成驱动器

An Integrated Driver With Bang-Bang Dead-Time Control and Charge Sharing Bootstrap Circuit for GaN Synchronous Buck Converter

Ching-Jan Chen · Pin-Ying Wang · Sheng-Teng Li · Yen-Ming Chen 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年8月

本文提出了一种用于氮化镓(GaN)同步Buck变换器的高频集成栅极驱动器。通过自适应Bang-Bang死区控制,该方案可在任意负载条件下最小化死区时间,从而降低GaN器件在反向导通期间的高频功率损耗。此外,提出的电荷共享自举电路确保了栅极驱动电压的充足性。

解读: 该技术对阳光电源的高频功率变换产品具有重要参考价值。随着光伏逆变器和储能PCS向高功率密度、高开关频率演进,GaN器件的应用日益广泛。该驱动器提出的自适应死区控制能有效解决GaN器件在高频工作下的反向导通损耗问题,提升整机效率。建议研发团队关注该集成驱动技术,将其应用于户用光伏逆变器或小型化储能变换...

功率器件技术 功率模块 可靠性分析 热仿真 ★ 3.0

一种通过门极阴极电压提取大功率压接式晶闸管准确结温的在线监测方法

An Online Monitoring Method to Extract the Accurate Junction Temperature of High Power Press-Pack Thyristor via Gate Cathode Voltage

Yadong Yu · Xian Cheng · Guowei Ge · Wen Chen 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2026年1月

本文提出了一种在线监测大功率压接式晶闸管结温的新方法。通过实时采集门极阴极电压(VGK),系统能够更准确地获取晶闸管的结温。文章通过数值模型理论推导了VGK作为结温敏感参数的可行性。

解读: 该技术主要针对大功率压接式晶闸管(Thyristor),虽然阳光电源目前的主流光伏逆变器和储能PCS多采用IGBT或SiC MOSFET,但在超大功率集中式逆变器或特定高压直流输电/电网侧应用中,晶闸管类器件仍有应用场景。该研究提出的基于门极电压的结温监测方法,对于提升电力电子设备在极端工况下的可靠...

功率器件技术 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 3.0

不同储能模式下高功率砷化镓光导半导体开关

PCSS)寿命研究

Cheng Ma · Lei Yang · Shaoqiang Wang · Yu Ji 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2017年6月

本文通过实验研究了不同储能模式下高功率砷化镓(GaAs)光导半导体开关(PCSS)的寿命。研究发现,在电容储能模式下,通过减小电容容量以缩短载流子雪崩倍增的维持时间,可将PCSS的寿命延长10倍。

解读: 该研究聚焦于宽禁带半导体材料(GaAs)在高功率开关应用中的可靠性与寿命优化,对阳光电源的功率器件选型与前沿技术储备具有参考价值。虽然GaAs目前主要应用于脉冲功率领域,但其提升开关寿命的机理(如通过优化储能参数减少载流子雪崩应力)对于公司在研的下一代高功率密度逆变器及储能变流器(PCS)中的SiC...