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p-GaN HEMT与反并联横向整流器的单片集成以降低负阻效应
Monolithic Integration of p-GaN HEMT With Antiparallel Lateral Rectifier to Reduce the Negative Resistance Effect
| 作者 | Yufei Tian · Ruiyan Pan · Lingyan Shen · Xuetong Zhou · Wenyu Lu · Yuhua Quan · Junhong Feng · Xinhong Cheng · Li Zheng · Yuehui Yu |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2025年5月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 |
| 相关度评分 | ★★★★ 4.0 / 5.0 |
| 关键词 | p-GaN HEMT 单片集成 横向整流器 负阻效应 电磁干扰 电力电子 桥式拓扑 |
语言:
中文摘要
p-GaN HEMT在桥式拓扑中常作为续流管使用,但在死区时间内易出现漏源电压与栅极电压振荡,引发电磁干扰。本文提出了一种单片集成反并联横向整流器的方法,有效抑制了p-GaN HEMT在死区期间的负阻效应及相关振荡问题。
English Abstract
p-GaN high electron mobility transistors (HEMTs) are favored for bridge topology applications where they act as the freewheeling transistors to commute the current during the dead time. However, the ${{i}_{DS}}$, ${{v}_{DS}},$ and ${{v}_{GS}}$ oscillations at this period are observed and may introduce electromagnetic interference problems. In this article, we have demonstrated the presence of the ...
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SunView 深度解读
该研究针对宽禁带半导体GaN器件在桥式拓扑中的高频振荡问题,提出了单片集成解决方案,对阳光电源的组串式逆变器及户用光伏逆变器的高频化设计具有重要参考价值。随着阳光电源产品向更高功率密度和更高开关频率演进,GaN器件的应用日益广泛。该技术能有效降低电磁干扰(EMI),提升系统可靠性,建议研发团队关注该集成工艺在下一代小型化、高效率逆变器功率模块中的应用潜力,以优化死区控制并简化EMI滤波器设计。