← 返回
基于N端口测量的SiC功率模块寄生参数提取方法
Methodology for Parasitic Elements Extraction of SiC Power Module Based on N-Port Measurement
| 作者 | Gregory Almeida · Sebastien Serpaud · Victor Dos Santos · Bernardo Cougo · Fabio Coccetti |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2025年10月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | SiC器件 功率模块 宽禁带半导体 可靠性分析 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | SiC功率模块 寄生参数提取 N端口测量 S参数 功率回路 换流 电力电子 |
语言:
中文摘要
本文提出了一种基于测量的SiC功率模块换流回路RL寄生参数提取方法。该方法采用闭环/半闭环模型,通过对功率模块外部N个端口进行S参数测量,实现对模块内部寄生参数的精确提取,为SiC模块的高频建模与优化设计提供了有效手段。
English Abstract
This article presents a measurement-based methodology focused on the parasitic extraction of RL elements involved in the commutation power loop of silicon carbide (SiC)-based power modules. It can be seen as a closed/semi-closed-box model that considers a set of scattering-parameters (S-Parameters) measurements for a given number of ports (N) externally available in a power module under test. The ...
S
SunView 深度解读
该技术对阳光电源的组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统至关重要。随着SiC器件在高性能逆变器和PCS中的广泛应用,高频寄生参数直接影响开关损耗、电压尖峰及EMI性能。通过此方法,研发团队可更精准地进行功率模块建模与PCB布局优化,提升产品功率密度与可靠性。建议在下一代高频化、小型化产品开发中引入该测量流程,以缩短SiC模块的选型与验证周期,确保系统在极端工况下的电磁兼容性与运行稳定性。