← 返回
单门极驱动SiC MOSFET串联堆叠的短路特性及其强抗短路能力改进研究
Short-Circuit Characteristic of Single Gate Driven SiC MOSFET Stack and Its Improvement With Strong Antishort Circuit Fault Capabilities
| 作者 | Rui Wang · Asger Bjorn Jorgensen · Hongbo Zhao · Stig Munk-Nielsen |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2022年11月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | SiC器件 功率模块 可靠性分析 宽禁带半导体 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | SiC MOSFET 短路特性 串联堆叠 单门极驱动器 过流限制 电力电子 宽禁带半导体 |
语言:
中文摘要
本文研究了单门极驱动串联功率器件堆叠的短路特性，指出其具备过流限制潜力。在此基础上，提出了一种改进的单门极驱动SiC MOSFET方案，显著增强了系统的抗短路故障能力，为高压功率变换应用提供了紧凑且低成本的解决方案。
English Abstract
The single gate driven series connected power device stack possesses the advantages of high compactness and low cost. However, research of its short circuit (SC) characteristic remains uncovered. This article fills this gap and points out that, with the single gate driver it has the potential of over-current limitation. Furthermore, based on it, an improved single gate driven silicon carbide (SiC)...
S
SunView 深度解读
该技术对阳光电源的高压组串式逆变器及PowerTitan系列储能系统具有重要价值。随着光伏系统电压等级向1500V甚至更高迈进，SiC器件的应用日益广泛。该研究提出的单门极驱动串联堆叠技术，不仅能降低高压变换器的成本和体积，还能通过改进的短路保护策略提升系统可靠性。建议研发团队关注该拓扑在大型地面电站逆变器及高压储能PCS中的应用潜力，特别是在提升功率密度和简化驱动电路设计方面，可作为下一代高压功率模块设计的技术储备。