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基于数据手册的SiC MOSFET开关损耗、开通/关断过电压、di/dt及dv/dt预测方法
Datasheet Driven Switching Loss, Turn-ON/OFF Overvoltage, di/dt, and dv/dt Prediction Method for SiC MOSFET
| 作者 | Cheng Qian · Zhiqiang Wang · Guoqing Xin · Xiaojie Shi |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2022年8月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 可靠性分析 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | SiC MOSFET 开关损耗 过电压 di/dt dv/dt 解析预测 数据手册 |
语言:
中文摘要
本文提出了一种基于器件数据手册的SiC MOSFET开关损耗、开通/关断过电压、di/dt及dv/dt的快速解析预测方法。通过电荷守恒和磁通守恒原理简化开关过程分析,建立了相应的解析方程,为电力电子变换器的设计与优化提供了高效的理论支撑。
English Abstract
This article presents quick analytical prediction methods of switching loss, turn-on/off overvoltage, di/dt, and dv/dt for SiC metal–oxide–semiconductor field-effect transistor based on device datasheet. First, the switching process is analyzed and the simplification principles are discussed based on charge conservation and flux conservation. Second, the analytical equations of switching loss, tur...
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SunView 深度解读
该研究对阳光电源的核心业务至关重要。随着SiC MOSFET在组串式光伏逆变器(如SG系列)和储能变流器(如PowerTitan系列)中的广泛应用,高频化带来的开关损耗和EMI问题日益突出。本文提出的解析预测方法,能够帮助研发团队在产品设计初期快速评估SiC器件的动态性能,无需繁琐的仿真即可优化驱动电路参数,从而有效降低开关损耗、抑制过电压,提升逆变器和PCS的功率密度与可靠性。建议将其应用于下一代高效率、高功率密度电力电子变换器的设计流程中。