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基于非线性谐振的晶体管大信号COSS及损耗测量
Measurement of Large-Signal COSS and COSS Losses of Transistors Based on Nonlinear Resonance
| 作者 | Mohammad Samizadeh Nikoo · Armin Jafari · Nirmana Perera · Elison Matioli |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2020年3月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | 宽禁带半导体 功率模块 可靠性分析 SiC器件 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | 大信号 COSS COSS 损耗 EDISS 晶体管测量 非线性谐振 电力电子 宽禁带器件 |
语言:
中文摘要
本文提出了一种基于待测器件输出电容与已知电感之间非线性谐振的新型测量技术，用于评估晶体管的大信号输出电容（COSS）及能量损耗（EDISS）。该方法简单稳健，仅需单次电压测量即可提取大信号COSS特性。
English Abstract
In this letter, we present a new measurement technique to evaluate the large-signal output capacitance (COSS) of transistors as well as the COSS energy dissipation (EDISS), based on the nonlinear resonance between a known inductor and the output capacitance of the device under test. The method is simple and robust, and only requires a single voltage measurement to extract the large-signal COSS bot...
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SunView 深度解读
随着阳光电源在组串式逆变器和PowerTitan储能系统中大规模应用SiC和GaN等宽禁带半导体器件，准确评估器件在大信号下的开关损耗和电容特性对提升整机效率至关重要。该测量方法能够更精确地表征功率器件的动态特性，有助于优化逆变器及PCS的软开关设计，减少开关损耗，从而提升系统整体转换效率。建议研发团队将其引入功率模块选型测试流程，以优化驱动电路设计，进一步提升产品在高频化趋势下的热管理水平和可靠性。