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功率循环老化对1.2kV SiC MOSFET短路鲁棒性的影响
Implications of Ageing Through Power Cycling on the Short-Circuit Robustness of 1.2-kV SiC mosfets
| 作者 | Paula Diaz Reigosa · Haoze Luo · Francesco Iannuzzo |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2019年11月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | SiC器件 功率模块 可靠性分析 宽禁带半导体 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | SiC MOSFET 功率循环 短路鲁棒性 可靠性 电力电子 老化 半导体器件 |
语言:
中文摘要
本文通过加速功率循环测试与短路测试相结合的方法，研究了1.2kV碳化硅（SiC）功率MOSFET模块的可靠性。重点分析了在不同程度的老化退化条件下，SiC MOSFET短路耐受能力的演变规律，为宽禁带半导体器件在电力电子系统中的长期可靠性评估提供了重要参考。
English Abstract
In this paper, the reliability performance of 1.2-kV silicon carbide (SiC) power mosfet modules is investigated through the combination of both accelerated power-cycling tests and short-circuit tests. The short-circuit robustness of SiC mosfet is investigated after stressing the dies under power-cycling tests. In this way, the implications of different levels of degradation on the short-circuit ca...
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SunView 深度解读
该研究对阳光电源的核心业务至关重要。随着公司在组串式光伏逆变器（如SG系列）和大型储能系统（如PowerTitan）中大规模应用SiC器件以提升功率密度和转换效率，器件在复杂工况下的可靠性是产品生命周期的关键。研究揭示的功率循环与短路鲁棒性之间的关联，可直接指导研发团队在逆变器及PCS设计中优化驱动保护策略，并完善SiC模块的寿命预测模型。建议将此老化机理研究纳入公司功率模块的选型标准与可靠性验证流程，以进一步提升产品在极端环境下的运行稳定性。