← 返回
使用倒装芯片键合碳化硅功率器件的3D无键合线开关单元
3-D Wire Bondless Switching Cell Using Flip-Chip-Bonded Silicon Carbide Power Devices
| 作者 | Sayan Seal · Michael D. Glover · H. Alan Mantooth |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2018年10月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | SiC器件 功率模块 宽禁带半导体 可靠性分析 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | 3D 功率模块 无键合线 碳化硅 SiC 功率器件 寄生电感 高频开关 倒装芯片键合 |
语言:
中文摘要
本文提出了一种基于碳化硅(SiC)功率器件的3D无键合线功率模块。传统键合线存在寄生电感,限制了高频开关性能,导致SiC器件潜力无法完全发挥。该设计通过倒装芯片技术消除了键合线,旨在降低寄生参数,提升高频开关效率。
English Abstract
This paper presents a three-dimensional (3-D) wire bondless power module using silicon carbide (SiC) power devices. Commercially available SiC power devices are designed for wire bonding. Wire bonds have an inherent parasitic inductance that limits high-frequency switching. This results in an underutilization of the full potential of SiC power devices, which have very low switching losses at high ...
S
SunView 深度解读
该技术对阳光电源的核心产品线具有极高的战略价值。随着光伏逆变器和储能PCS(如PowerTitan、ST系列)向高功率密度和高频化演进,降低功率模块的寄生电感是提升系统效率和减小体积的关键。无键合线封装技术能显著改善SiC器件的散热性能与开关特性,有助于阳光电源在下一代组串式逆变器及储能变流器中实现更优的电磁兼容性(EMC)设计。建议研发团队关注该封装工艺在高温、高压工况下的长期可靠性,并探索其在兆瓦级储能系统功率模块中的应用潜力。