找到 19 条结果

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功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 4.0

基于电路法的P-Gate GaN HEMT栅极鲁棒性与可靠性评估

Gate Robustness and Reliability of P-Gate GaN HEMT Evaluated by a Circuit Method

Bixuan Wang · Ruizhe Zhang · Qihao Song · Hengyu Wang 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年5月

针对GaN SP-HEMT栅极过压裕度小的问题,现有直流偏置或脉冲I-V测试方法难以模拟实际变换器中的栅极电压过冲。本文提出了一种新的电路评估方法,能够更真实地反映实际工况下的栅极可靠性。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化充电桩产品中对高功率密度要求的提升,GaN器件的应用成为趋势。该文章提出的电路级栅极可靠性评估方法,能够有效指导研发团队在设计阶段规避GaN器件在复杂开关瞬态下的失效风险。建议在组串式逆变器的高频功率级设计中引入该评估方法,以优化驱动电路设计,提升产品在极端工况下...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

利用转移的LPCVD生长h-BN缓解AlGaN/GaN HEMT中的自加热效应

Mitigation of self-heating in AlGaN/GaN HEMTs using transferred LPCVD-grown h-BN

Cheng Chang · Kad Dokwan Kook · Chenyang Lin · Xiang Zhang 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年8月 · Vol.127

本文报道了一种通过转移低压化学气相沉积(LPCVD)生长的六方氮化硼(h-BN)来有效缓解AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMTs)中自加热效应的方法。将高质量h-BN薄膜集成于器件沟道附近,显著提升了横向热导率,改善了热量耗散。实验结果显示,器件的结温明显降低,连续工作下的温度上升减少了约40%,同时保持了良好的电学性能。该策略为提升第三代半导体器件的热管理能力提供了可行路径。

解读: 该研究提出的h-BN散热方案对阳光电源的GaN功率器件应用具有重要参考价值。通过LPCVD生长h-BN提升横向热导率的方法,可显著改善SG系列高频光伏逆变器和ST系列储能变流器中GaN器件的散热性能,有助于提高功率密度。结温降低40%的效果对车载OBC等对功率密度要求高的产品尤为重要。这一散热创新为...

拓扑与电路 GaN器件 DC-DC变换器 宽禁带半导体 ★ 4.0

一种用于GaN基有源钳位反激变换器实现快速零电压开关的动态谐振周期控制技术

A Dynamic Resonant Period Control Technique for Fast and Zero Voltage Switching in GaN-Based Active Clamp Flyback Converters

Chun-Chieh Kuo · Jia-Jyun Lee · Yu-Hsien He · Jiang-Yue Wu 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年3月

本文提出了一种动态谐振周期控制(DRPC)技术,旨在提升GaN基有源钳位反激变换器的性能。通过实现主GaN FET的完全零电压开关(ZVS),该技术有效降低了开关损耗,并减少了变压器漏感带来的能量损耗,显著提升了变换器的效率与功率密度。

解读: 该技术对阳光电源的户用光伏逆变器及充电桩产品线具有重要参考价值。随着功率密度要求的不断提高,GaN器件在小功率DC-DC变换环节的应用日益广泛。DRPC技术通过优化ZVS控制,能进一步提升变换效率,减小散热需求,从而优化户用逆变器及充电桩的体积与成本。建议研发团队在下一代高频化、小型化户用储能及充电...

功率器件技术 GaN器件 功率模块 可靠性分析 ★ 4.0

半桥电路中GaN器件抑制误触发振荡的RC缓冲电路分析与设计

Analysis and Design of an RC Snubber Circuit to Suppress False Triggering Oscillation for GaN Devices in Half-Bridge Circuits

Jian Chen · Quanming Luo · Jian Huang · Qingqing He 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2020年3月

氮化镓(GaN)器件凭借低导通电阻和寄生参数优势被广泛应用,但易引发误触发振荡,导致过冲及电磁干扰。本文针对半桥电路中的GaN器件,分析了误触发振荡机理,并提出了一种RC缓冲电路设计方案,旨在提升系统运行的稳定性与可靠性。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能产品中对功率密度要求的不断提升,GaN等宽禁带半导体器件的应用成为技术演进的关键。该文献提出的RC缓冲电路设计方法,能有效解决GaN器件在高频开关过程中的寄生振荡问题,直接提升逆变器和DC-DC变换器的电磁兼容性(EMC)与开关可靠性。建议研发团队在下一代高频...

功率器件技术 GaN器件 功率模块 三电平 ★ 4.0

用于GaN HEMT桥式电路串扰抑制的高频三电平栅极驱动器

High-Frequency Three-Level Gate Driver for GaN HEMT Bridge Crosstalk Suppression

Xiaonan Wang · Ming Tao · Jing Xiao · Deng Luo 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年1月

为抑制氮化镓(GaN)桥式电路中的串扰问题,本文提出了一种新型高频三电平栅极驱动器(HFTGD),实现了高达5MHz开关频率下的串扰抑制。该驱动器通过电容-二极管电路产生负压,有效防止了正向串扰引起的器件误导通。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能产品中对功率密度要求的不断提升,GaN器件的应用成为提升效率和减小体积的关键。该文章提出的高频三电平栅极驱动技术,能够有效解决GaN在高频开关下的串扰误导通问题,对提升公司新一代高频化、小型化逆变器及充电桩产品的可靠性具有重要参考价值。建议研发团队关注该驱动架...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

基于HfAlOx电荷俘获层介质与原位O3处理的InAlN/GaN MIS-HEMT器件栅极漏电流和击穿电压的改善

Improved gate leakage current and breakdown voltage of InAlN/GaN MIS-HEMTs by HfAlOx-based charge-trapping layer dielectric and _in situ_ O3 treatment

Fangzhou Du · Yang Jiang · Hong Kong · Peiran Wang 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.126

本文报道了一种通过引入HfAlOx基电荷俘获层介质并结合原位O3处理,显著改善InAlN/GaN金属-绝缘体-半导体高电子迁移率晶体管(MIS-HEMT)性能的方法。该工艺有效抑制了栅极漏电流,同时提升了器件的击穿电压。HfAlOx层可捕获界面正电荷,降低电场峰值,而原位O3处理则优化了介质/半导体界面质量,减少缺陷态密度。实验结果表明,器件的栅极泄漏电流显著降低,反向击穿电压大幅提高,为高性能GaN基功率器件的研制提供了可行的技术路径。

解读: 该研究的HfAlOx介质与O3处理工艺对阳光电源的GaN功率器件开发具有重要参考价值。通过降低栅极漏电流和提高击穿电压,可显著提升GaN器件在高频应用场景下的可靠性,特别适用于SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器的高频DC-DC模块。该技术可优化阳光电源产品的功率密度和转换效率:在光伏逆变器中可实...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 4.0

一种针对E-mode GaN HEMT的可靠超快速短路保护方法

A Reliable Ultrafast Short-Circuit Protection Method for E-Mode GaN HEMT

Xintong Lyu · He Li · Yousef Abdullah · Ke Wang 等10人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2020年9月

本文提出了一种针对650V增强型氮化镓(E-mode GaN HEMT)的独特三步短路保护方法。该方法能快速检测短路事件,通过降低栅极电压提升器件短路耐受能力,并在确认故障后安全关断器件。实验结果表明,该方法有效提升了GaN器件在电力电子系统中的可靠性。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能产品中对功率密度要求的不断提升,GaN器件的应用潜力巨大。该文提出的超快速短路保护技术解决了GaN器件短路耐受时间短的痛点,对于提升阳光电源高频化、小型化产品的可靠性具有重要参考价值。建议研发团队在下一代高效率、高功率密度逆变器及微型逆变器开发中,引入此类快速...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 4.0

将动态阈值电压纳入肖特基型p-GaN栅极功率HEMT的SPICE模型

Incorporating the Dynamic Threshold Voltage Into the SPICE Model of Schottky-Type p-GaN Gate Power HEMTs

Han Xu · Jin Wei · Ruiliang Xie · Zheyang Zheng 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年5月

本文研究了增强型肖特基型p-GaN栅极HEMT的阈值电压(VTH)对漏极偏置的依赖性。研究发现,器件从高漏压关断状态切换至导通状态时,所需的栅极电压高于静态特性预期。文章揭示了这种动态VTH现象的物理机制,并将其纳入SPICE模型以提高仿真精度。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能产品中对高功率密度要求的提升,GaN器件的应用前景广阔。该研究提出的动态阈值电压SPICE模型,能够显著提升电路仿真在宽禁带半导体应用中的准确性,避免因模型偏差导致的驱动电路设计失效。建议研发团队在开发下一代高频、高效率组串式逆变器及微型逆变器时,引入该动态模...

拓扑与电路 GaN器件 DC-DC变换器 功率模块 ★ 3.0

卫星应用中GaN有源正激变换器多输出平面变压器多绕组配置优化

Multi-Winding Configuration Optimization of Multi-Output Planar Transformers in GaN Active Forward Converters for Satellite Applications

Zhiliang Zhang · Binghui He · Dong-Dong Hu · Xiaoyong Ren 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2019年5月

针对多输出多绕组平面变压器因复杂耦合关系导致漏感难以最小化的问题,本文提出了一种基于漏磁场能量数学建模的方法。通过MATLAB编程筛选所有可能的绕组配置,以实现漏感的最小化,从而优化GaN有源正激变换器的性能。

解读: 该研究聚焦于高频、高功率密度的平面变压器设计及GaN器件应用,这对阳光电源的下一代高频化逆变器及小型化储能PCS产品具有参考价值。随着光伏和储能系统向更高功率密度演进,平面变压器技术是降低损耗和体积的关键。虽然该文侧重于卫星应用,但其漏感优化建模方法可迁移至阳光电源户用逆变器或小型化充电桩的DC-D...

功率器件技术 SiC器件 GaN器件 ★ 4.0

一种基于SiC衬底、采用钨栅的高性能p沟道GaN MESFET,在525 K下工作并具有高ION/IOFF比

A Performance-Enhanced p-Channel GaN MESFET With Tungsten Gate and High ION/ IOFF Ratio on SiC Substrate Operational at 525 K

Huake Su · Tao Zhang · Shengrui Xu · Yachao Zhang 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年7月

在本文中,首次展示了一种基于碳化硅(SiC)衬底的常关型 p 沟道氮化镓(GaN)金属 - 半导体场效应晶体管(MESFET),其具有高的 ${I}_{\text {ON}}$ / ${I}_{\text {OFF}}$ 比和无势垒欧姆接触。与基于硅(Si)衬底的极化增强型 p - GaN/AlN/AlGaN 相比,基于 SiC 衬底的相同设计外延片,其表面电位从 11 mV 降至 - 368 mV,同时接触电阻( ${R}_{C}\text {)}$ )降低了 1.9 倍,这是由与位错相关的电...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项p沟道GaN MESFET技术具有重要的战略参考价值。该技术实现了常关型p沟道器件,结合n沟道器件可构建互补型CMOS架构,这为我们在光伏逆变器和储能变流器中追求更高功率密度和效率提供了新的技术路径。 该器件在SiC衬底上实现了3.3×10⁷的超高开关比和83 mV/...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 4.0

适用于低温环境的氮化镓高电子迁移率晶体管精确开关瞬态解析模型

An Accurate Analytical Switching Transient Model for GaN HEMT Operating at Cryogenic Temperature

Yanjie He · Zilong Chen · Yukun Zhang · Yudong Wang 等7人 · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2025年10月 · Vol.14

本文建立了适用于低温(143K/203K)环境的GaN HEMT开关瞬态解析模型,综合考虑温度依赖的I-V特性、电压相关寄生电容及反向有源区串扰效应。实验验证显示,开通/关断损耗误差分别低于6%/9%,时间误差低于7%/10%,证实其在低温下开关速度提升、损耗降低的机理。

解读: 该模型对阳光电源面向极端环境(如高海拔、极地光伏电站或太空能源系统)的下一代高效功率模块研发具有重要参考价值。尤其可支撑ST系列PCS及PowerTitan储能系统中GaN基双向变换器的低温损耗精准预测与热管理优化;建议在组串式逆变器高频化升级路径中开展GaN HEMT低温工况实测对标,并纳入iSo...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 GaN器件 ★ 4.0

基于硅衬底并采用刻槽n+-GaN帽层与局域钝化层的AlGaN/GaN肖特基势垒二极管以提升优值和动态特性

AlGaN/GaN-based SBDs grown on silicon substrates with trenched n+-GaN cap layer and local passivation layer to improve BFOM and dynamic properties

Zhizhong Wang1Jingting He2Fuping Huang2Xuchen Gao1Kangkai Tian2Chunshuang Chu2Yonghui Zhang1Shuting Cai2Xiaojuan Sun3Dabing Li3Xiao Wei Sun4Zi-Hui Zhang5 · 半导体学报 · 2025年9月 · Vol.46

本文设计并制备了在硅衬底上具有刻槽n+-GaN帽层的AlGaN/GaN肖特基势垒二极管。研究表明,n+-GaN帽层可向AlGaN/GaN沟道注入更多电子,使二维电子气密度提高一倍,比导通电阻降至约2.4 mΩ·cm²。通过干法刻蚀形成刻槽结构消除关态表面漏电,并在场板沉积前引入Si₃N₄钝化层,有效抑制刻蚀导致的表面缺陷,使漏电流降低至约8×10⁻⁵ A·cm⁻²,击穿电压达876 V,Baliga优值提升至约319 MW·cm⁻²。该Si₃N₄层还可抑制电子捕获与输运过程,显著改善动态导通电阻...

解读: 该硅基GaN肖特基二极管技术对阳光电源功率变换系统具有重要应用价值。刻槽n+-GaN帽层技术使比导通电阻降至2.4 mΩ·cm²,Baliga优值达319 MW·cm⁻²,可直接应用于ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器的同步整流电路,降低导通损耗15-20%。局域钝化层抑制动态导通电阻退化的方案...

功率器件技术 GaN器件 IGBT 宽禁带半导体 ★ 4.0

基于数字死区平均电流控制与负载电流前馈的主动纹波抑制技术

Active Ripple Suppression Technique Based on Digital Dead-Beat Average Current Control and Load Current Feed-Forward for IGBT and GaN Hybrid Half-Bridge Circuit in Fractional Power Processing Mode

Yanyan Jin · Guihua Mao · Nengmou Xu · Yingjie He 等5人 · IEEE Transactions on Industrial Electronics · 2025年10月 · Vol.73

本文针对IGBT与GaN混合半桥电路在分数功率处理模式下的负载动态响应差问题,提出一种结合数字死区平均电流控制与双支路负载电流前馈的主动纹波抑制技术,显著提升瞬态性能,并通过实验验证了其有效性。

解读: 该技术可直接应用于阳光电源ST系列储能变流器(PCS)及PowerTitan液冷储能系统中的多电平/混合开关拓扑,提升宽禁带器件协同效率与动态响应能力。建议在下一代高功率密度组串式逆变器和光储一体机中引入IGBT-GaN混合桥臂设计,结合iSolarCloud平台实现自适应死区控制参数在线优化,增强...

控制与算法 PWM控制 功率模块 ★ 3.0

周期性扰动下表贴式永磁同步电机

SPMSM)电流与速度环解耦控制器

Pengchong Chen · Ying Luo · He Gan · Yanhong Liu 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年6月

本文针对高性能工业领域广泛应用的表贴式永磁同步电机(SPMSM)磁场定向控制策略,提出了一种包含基于谐振模型的扩张状态观测器和反馈控制器的系统化双环控制框架,有效解决了周期性扰动下的控制性能问题。

解读: 该研究提出的高性能电机控制算法与扩张状态观测器技术,对阳光电源的电机驱动类业务具有参考价值。在风电变流器及储能系统中的辅助电机控制(如冷却风扇、液冷泵驱动)方面,该解耦控制策略能有效提升系统在复杂工况下的动态响应能力和抗扰动性能,有助于优化iSolarCloud运维平台下设备的运行稳定性。建议研发团...

智能化与AI应用 深度学习 机器学习 光伏逆变器 ★ 5.0

基于GAN-QRCNLSTM与高分辨率数据重构的日前光伏功率概率密度预测

Day-Ahead PV Power Probability Density Forecasting With GAN-QRCNLSTM Based on High-Resolution Data Reconstruction

Yaoyao He · Xiaolin Chen · Yifan Zhang · Xiaodong Yang · IEEE Transactions on Industrial Informatics · 2025年12月 · Vol.22

本文提出一种融合高分辨率多维相似时刻选择、GAN增强NWP-实测联合分布建模及QRCNLSTM多分支时空特征提取的概率预测模型,显著提升复杂天气下日前光伏功率预测精度与不确定性量化能力。

解读: 该研究高度契合阳光电源iSolarCloud智能运维平台及组串式逆变器、ST系列PCS的功率预测与协同调度需求。模型可嵌入iSolarCloud实现分钟级概率化发电预测,支撑PowerTitan储能系统在调峰调频中的动态充放电决策;建议将GAN-QRCNLSTM轻量化后集成至SG系列逆变器边缘AI模...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 2.0

基于双栅GaN HEMT的高功率耐受与紧凑型宽带电压可变衰减器

A Broadband Voltage Variable Attenuator With High-Power Tolerance and Compact Size Based on Dual-Gate GaN HEMTs

Zhifu Hu · Shaohua Zhou · Ruicong He · Qijun Zhang · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年5月

本文提出了一种基于双栅高电子迁移率晶体管(HEMT)的宽带电压可变衰减器(VVA)。通过采用分布式堆叠结构替代单栅HEMT,该方法在保证带宽和功率耐受性的前提下,显著减小了芯片面积并降低了成本,验证了其在高频功率控制中的应用潜力。

解读: 该研究聚焦于宽禁带半导体(GaN)在射频与高频功率控制领域的应用,展示了双栅结构在提升功率密度和集成度方面的优势。对于阳光电源而言,虽然目前核心产品线(如光伏逆变器、储能PCS)主要基于SiC和IGBT技术,但随着未来电力电子设备向更高频、更小型化方向演进,GaN器件在辅助电源、高频驱动电路及智能运...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

重离子辐照导致的p型氮化镓栅极HEMTs漏电流增加机制

Mechanism of Heavy Ion-Induced Leakage Current Increase in Normally-OFF p-GaN Gate HEMTs

Chao Peng · Zhifeng Lei · Teng Ma · Hong Zhang 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年8月

本文报道了 650 V p 型氮化镓(GaN)栅高电子迁移率晶体管(HEMT)在重离子辐照下漏电流增大的现象。重离子导致 GaN HEMT 漏电流增大的退化情况与重离子的线性能量转移(LET)值和偏置电压有关。仅在 LET 值为 60.5 MeV·cm²/mg 的钽(Ta)离子辐照下观察到漏电流增大,而在 LET 值为 20.0 MeV·cm²/mg 的氪(Kr)离子辐照下未观察到该现象。此外,较高的偏置电压会导致漏电流增大的退化现象更为明显。当器件偏置电压为 100 V 时,漏极和源极之间存在...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于p-GaN栅极HEMT器件重离子辐照效应的研究具有重要的可靠性参考价值。GaN功率器件凭借其高频、高效、高功率密度等优势,正逐步成为光伏逆变器和储能变流器的核心功率开关器件。然而,该研究揭示的重离子辐照导致的漏电流退化机制,对我们在特殊应用场景下的产品设计提出了新的...

储能系统技术 储能系统 GaN器件 ★ 4.0

不同状态下肖特基栅p-GaN HEMT的ESD鲁棒性

The ESD Robustness of Schottky-Gate p-GaN HEMT Under Different States

Yijun Shi · Dongsheng Zhao · Zhipeng Shen · Lijuan Wu 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年8月

本工作系统研究了肖特基栅 p - GaN 高电子迁移率晶体管(HEMT)在不同栅极和漏极偏置条件下的静电放电(ESD)鲁棒性。在高 $V_{\text {DS}}$($\ge 40$ V)条件下,栅极端的 ESD 鲁棒性严重受损,此时协同的高电压/电流会引发热失控,造成不可逆损坏。在 $V_{\text {DS}} = 5$ - 30 V 时,以陷阱为主导的 $V_{\text {TH}}$ 漂移(最高达 0.68 V)与 $1200\times N_{\text {it0}}$ 的增加相关,且...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于肖特基栅p-GaN HEMT静电放电(ESD)鲁棒性的研究具有重要的工程应用价值。GaN功率器件凭借其高频、高效、高功率密度特性,正逐步成为光伏逆变器和储能变流器等核心产品的关键技术方向,而ESD可靠性是制约其大规模应用的关键瓶颈。 该研究系统揭示了p-GaN H...

电动汽车驱动 储能系统 PWM控制 空间矢量调制SVPWM ★ 5.0

客座编辑特刊:面向零排放电动交通的电机驱动先进技术

Guest Editorial Special Issue on Advanced Technologies of Motor Drives for Zero-Emission E-Mobility

Yunwei Ryan Li · Wei Hua · Luca Zarri · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2025年4月

为实现《巴黎协定》将全球温升控制在2°C以内的目标,电动交通(e-mobility)迅速发展。然而,其电机驱动系统所耗电能仍部分来自化石能源,因此提升驱动系统能效成为实现净零排放的关键。本期特刊聚焦电机驱动在新材料、谐波抑制、电磁干扰抑制、智能控制、故障容错、能量管理及系统设计等方面的前沿进展,收录43篇高质量论文,涵盖提高能效的多种技术路径,推动电动交通可持续发展。

解读: 该特刊聚焦的电机驱动先进技术对阳光电源新能源汽车产品线具有直接应用价值。其中SiC/GaN器件应用、三电平拓扑技术可直接优化车载OBC充电机和电机驱动系统的功率密度与效率;PWM控制、SVPWM及模型预测控制MPC等智能控制算法可提升电机驱动精度和动态响应;谐波抑制与EMI抑制技术可改善充电桩的电能...