找到 16 条结果 · 功率器件技术

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功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 5.0

一种基于Qdesat转移检测且具有鲁棒dv/dt抗扰性的高压SiC MOSFET超快短路保护方案

An Ultrafast Short-Circuit Protection for High-Voltage SiC MOSFETs Based on Qdesat-Transfer Detection With Robust dv/dt Noise Immunity

Qiling Chen · Hong Zhang · Dingkun Ma · Tianshu Yuan 等11人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 预计 2026年6月

本文提出了一种针对高压(>3.3 kV)SiC MOSFET的超快短路保护(SCP)方案。通过引入基于Qdesat转移的传感机制,该方案在面对高dv/dt噪声时表现出极强的抗扰性。该方法利用高dv/dt期间转移的Qdesat间接检测漏源电压降幅,从而判断MOSFET是否处于正常导通状态。

解读: 该技术对于阳光电源的高压功率变换产品至关重要。随着公司在大型地面光伏电站及高压储能系统(如PowerTitan系列)中逐步引入更高电压等级的SiC器件,短路保护的响应速度与抗干扰能力直接决定了系统的可靠性。该方案提出的Qdesat转移检测技术能有效解决高压SiC器件在高频开关下的误触发问题,建议研发...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 5.0

平面栅SiC MOSFET MOS沟道与体二极管耦合导通机制对第三象限浪涌电流能力的影响

Influence of Coupling Conduction Mechanism Between MOS-Channel and Body Diode on 3rd Quadrant Surge Current Capability of Planar-Gate SiC MOSFETs

Man Zhang · Helong Li · Qiang Chen · Haoran Wang 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 预计 2026年5月

本文研究了平面栅SiC MOSFET中MOS沟道与体二极管之间的耦合导通机制,及其对第三象限浪涌电流能力的影响。研究发现,当MOS沟道开启时,MOS沟道与体二极管并非独立的电流路径,MOS沟道会抑制体二极管的导通能力,从而影响器件在浪涌工况下的可靠性。

解读: 该研究直接关系到阳光电源核心产品(如组串式光伏逆变器、PowerTitan/PowerStack储能变流器)中SiC功率模块的选型与可靠性设计。在光储系统中,逆变器常处于双向功率流动状态,SiC MOSFET的第三象限导通特性对提升系统效率和应对电网浪涌冲击至关重要。建议研发团队在设计高功率密度模块...

功率器件技术 功率模块 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

高dV/dt方波电压和高温下功率模块封装绝缘的老化与寿命研究

Aging and Lifetime of Power Module Packaging Insulation Due to Partial Discharge Under High dV/dt Square Wave Voltage and High Temperature

Yi Ding · Yalin Wang · Meng Chen · Lu Fan 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年7月

宽禁带半导体应用对功率模块在高温及高dV/dt方波电压下的封装可靠性提出了挑战。封装材料中的局部放电(PD)是导致绝缘老化与失效的主要原因。本文研究了温度及方波参数对局部放电及绝缘寿命的影响,为高功率密度电力电子设备的可靠性设计提供了理论依据。

解读: 该研究直接关联阳光电源的核心竞争力。随着SiC等宽禁带半导体在PowerTitan储能系统及组串式逆变器中的广泛应用,高dV/dt带来的绝缘失效风险显著增加。本文揭示的局部放电机制对优化封装设计、提升产品在极端工况下的长寿命运行至关重要。建议研发团队将此研究成果应用于模块选型及封装可靠性评估标准中,...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

并联SiC MOSFET在第三象限运行下的浪涌电流分布

Surge Current Distribution in Paralleled SiC MOSFETs Under Third-Quadrant Operation

Man Zhang · Helong Li · Zhiqing Yang · Shuang Zhao 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年2月

本文研究了并联SiC MOSFET在第一和第三象限运行时的浪涌电流承受能力。针对第三象限运行模式下浪涌电流分布缺乏深入研究的问题,文章建立了一个SiC MOSFET源漏电阻模型,分析了并联器件间的电流不平衡机制,为提升功率模块的鲁棒性提供了理论依据。

解读: 该研究对阳光电源的SiC应用至关重要。随着PowerTitan系列储能系统及组串式光伏逆变器向高功率密度、高效率演进,SiC MOSFET被广泛采用。第三象限运行常出现在逆变器死区时间或双向DC-DC变换器中,浪涌电流分布不均直接影响功率模块的可靠性与寿命。建议研发团队利用该模型优化并联驱动电路设计...

功率器件技术 功率模块 可靠性分析 有限元仿真 ★ 5.0

用于高压功率模块在高速dv/dt方波电压下抑制局部放电的自适应场强涂层

Self-Adaptive Field-Grading Coating for Partial Discharge Mitigation of High Voltage Power Module Under High dv/dt Square Wave Voltage

Meng Chen · Yalin Wang · Yi Ding · Lu Fan 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年8月

高压功率模块封装绝缘中的局部放电(PD)严重威胁其可靠性。电场集中是导致PD的主要原因。本文提出了一种自适应场强涂层技术,旨在缓解高dv/dt方波电压下的电场集中问题,并解决了以往研究中制造工艺复杂及缺乏实验验证的难题。

解读: 该技术对阳光电源的高压功率模块设计具有极高价值。随着公司PowerTitan等大型储能系统及高压组串式逆变器向更高电压等级和更快的开关频率(SiC器件应用)演进,封装绝缘的局部放电问题日益突出。该自适应涂层技术能有效优化模块内部电场分布,提升高压功率器件的长期运行可靠性。建议研发团队关注该材料的工艺...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

碳化硅MOSFET的并联连接——挑战、机制与解决方案

Parallel Connection of Silicon Carbide MOSFETs—Challenges, Mechanism, and Solutions

Helong Li · Shuang Zhao · Xiongfei Wang · Lijian Ding 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年8月

为提升功率变换系统的额定电流,功率半导体器件常采用并联技术。然而,电路参数失配或制造工艺差异会导致并联器件电流不平衡,进而引发加速老化及可靠性问题。本文重点探讨了碳化硅(SiC)MOSFET因其极快的开关速度而在并联应用中面临的特殊挑战、电流不平衡机制及相应的工程解决方案。

解读: 随着阳光电源组串式逆变器及PowerTitan系列储能PCS向更高功率密度演进,SiC器件的应用已成为提升效率的关键。并联技术是实现大功率模块化设计的核心,但SiC的高开关速度对PCB布局及驱动电路提出了严苛要求。该研究对于优化阳光电源大功率逆变器和PCS的功率模块设计、降低并联均流风险、提升长期运...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

直流与PWM波下高压功率模块空间电荷积聚及其对局部放电的影响:测试与建模

Space-Charge Accumulation and Its Impact on High-Voltage Power Module Partial Discharge Under DC and PWM Waves: Testing and Modeling

Yalin Wang · Yi Ding · Zhao Yuan · Hongwu Peng 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年10月

紧凑型高压SiC功率模块的封装绝缘设计面临严峻挑战。该模块在开关过程中承受高压直流与PWM激励,高dV/dt干扰了局部放电(PD)的检测。本文研究了空间电荷积聚对绝缘性能的影响,并提出了相应的测试与建模方法,旨在提升高压功率模块的绝缘可靠性。

解读: 随着阳光电源在PowerTitan液冷储能系统及组串式光伏逆变器中大规模应用高压SiC器件,模块封装的绝缘可靠性成为核心竞争力。高dV/dt带来的局部放电问题直接影响产品在极端环境下的寿命。本文提出的空间电荷积聚建模方法,可指导研发团队优化高压功率模块的封装工艺与绝缘材料选型,特别是在高压直流侧(如...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 5.0

考虑栅漏电容非线性的SiC MOSFET串扰峰值预测算法

A Predictive Algorithm for Crosstalk Peaks of SiC MOSFET by Considering the Nonlinearity of Gate-Drain Capacitance

Hong Li · Yanfeng Jiang · Zhidong Qiu · Yuting Wang 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年3月

本文提出了一种精确预测SiC MOSFET串扰峰值的算法,该算法首次考虑了栅漏电容(Cgd)的非线性特性。通过对Cgd微分表达式的分析,该方法能更准确地指导SiC MOSFET驱动电路与保护电路的设计,有效提升电力电子系统的可靠性。

解读: 随着阳光电源在组串式逆变器、PowerTitan储能系统及电动汽车充电桩中大规模应用SiC MOSFET以提升功率密度和效率,串扰问题成为影响系统可靠性的关键挑战。该算法通过精确建模Cgd非线性,能够优化驱动电路设计,减少误导通风险,从而提升阳光电源核心功率模块的抗干扰能力。建议研发团队将其集成至驱...

功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

一种提高IGBT模块热冲击疲劳失效抗性的方法

A Method for Improving the Thermal Shock Fatigue Failure Resistance of IGBT Modules

Xinyin Zhang · Meiyu Wang · Xin Li · Zikun Ding 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2020年8月

高温应用与长期可靠性是IGBT模块的发展趋势。本文提出了一种采用电流辅助烧结纳米银作为芯片连接、高温焊料作为基板连接的1200V/50A IGBT模块。通过测量并对比其电气与热特性,验证了该封装工艺在提升模块热冲击疲劳抗性及可靠性方面的有效性。

解读: IGBT模块是阳光电源组串式逆变器、集中式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能变流器(PCS)的核心功率器件。随着光储系统向更高功率密度和更严苛环境应用发展,功率模块的热循环失效是影响系统寿命的关键瓶颈。本文提出的纳米银烧结工艺能显著提升模块的导热性能与热机械可靠性,直接有助于优化...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

具有ScAlN势垒的GaN HEMT实现低于100 Ω/□的方块电阻

Sub-100 Ω/□ sheet resistance of GaN HEMT with ScAlN barrier

Jiangnan Liu · Pat Kezer · Md Tanvir Hasan · Ding Wang · Applied Physics Letters · 2025年8月 · Vol.127

本文报道了采用钪铝氮(ScAlN)势垒层的氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT),实现了低于100 Ω/□的极低方块电阻。通过优化ScAlN组分与外延生长工艺,显著提升了二维电子气浓度并降低了接触电阻,从而大幅改善器件的导通特性。透射电子显微镜与X射线衍射分析证实了高质量异质结构的形成。该成果为高性能射频与功率电子器件提供了有前景的技术路径。

解读: 该ScAlN势垒GaN HEMT技术对阳光电源的高频功率变换产品具有重要应用价值。方块电阻低于100Ω/□的特性可显著提升器件开关性能和导通特性,适用于SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器中的高频DC-DC环节,有助于提高功率密度。特别是在1500V系统中,该技术可降低开关损耗,提升系统效率。同时...

功率器件技术 宽禁带半导体 功率模块 可靠性分析 ★ 4.0

高dv/dt方波电压与高温下局部放电导致的功率模块封装绝缘老化与寿命研究

Aging and Lifetime of Power Module Packaging Insulation Due to Partial Discharge Under High dV/dt Square Wave Voltage and High Temperature

Yi Ding · Yalin Wang · Meng Chen · Lu Fan 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年3月

宽带隙半导体的应用给功率模块在高dV/dt方波电压和高温条件下的封装可靠性带来了挑战。灌封材料中发生的局部放电(PD)是导致封装绝缘老化和失效的主要原因之一。然而,有限的研究聚焦于温度和方波参数对封装绝缘老化原理的影响,确切的机制在很大程度上仍不清楚。为解决这一问题,本文聚焦于功率模块封装绝缘在高dV/dt方波和高温耦合应力下因局部放电导致的老化过程。采用专门设计的下混局部放电检测系统在老化过程中提取局部放电信号。实验结果表明,局部放电的幅值在老化过程中呈波动增长趋势,且在击穿前局部放电活动最为...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于宽禁带半导体功率模块封装绝缘老化的研究具有重要的战略价值。随着公司在光伏逆变器和储能系统中大规模采用SiC、GaN等宽禁带器件以提升功率密度和转换效率,高dV/dt应力下的局部放电问题已成为制约产品可靠性的关键瓶颈。 该研究揭示的局部放电演化规律对阳光电源的产品设...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

基于ScAlN/ScN电荷陷阱耦合铁电栅堆叠的增强型AlGaN/GaN HEMT

E-mode AlGaN/GaN HEMT with ScAlN/ScN charge trap-coupled ferroelectric gate stacks

Jiangnan Liu · Ding Wang · Md Tanvir Hasan · Shubham Mondal · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.126

本文报道了一种采用ScAlN/ScN电荷陷阱耦合铁电栅堆叠结构的增强型AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)。该器件通过铁电极化与界面电荷陷阱的协同作用,实现了稳定的增强型操作特性。实验结果表明,该结构有效调控了阈值电压并提升了栅控能力,同时保持了较高的开关比和低关态漏电流。透射电子显微镜分析证实了栅堆叠的高质量界面特性。该方法为实现高性能、高可靠性的GaN基增强型功率器件提供了新途径。

解读: 该ScAlN/ScN栅堆叠GaN HEMT技术对阳光电源功率变换产品具有重要价值。增强型特性和低漏电流的优势可显著提升SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器的效率与可靠性。铁电栅结构创新为开发更高功率密度的三电平拓扑模块提供新思路,特别适用于PowerTitan大型储能系统的高频开关应用。同时,该技...

功率器件技术 SiC器件 多物理场耦合 ★ 4.0

4H-SiC MOSFET电子辐照耦合短路特性的研究

A Study on Short Circuit Characteristics of 4H-SiC MOSFET Coupled With Electron Irradiation

Yan Chen · Yun Bai · Antao Wang · Leshan Qiu 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2024年12月

本文研究了4H-碳化硅(SiC)MOSFET的电子辐照耦合短路(SC)特性。提出了电子辐照耦合的短路影响机制,并进一步研究了少数载流子寿命对辐照后器件短路特性的影响。采用2 MeV电子对4H-SiC MOSFET和4H-SiC晶圆进行辐照。分析了4H-SiC MOSFET静态参数的变化,并通过极限短路(LSC)测试方法研究了电子辐照耦合下4H-SiC MOSFET的短路特性。结果表明,辐照后,4H-SiC MOSFET的短路峰值电流增加了9.6%,临界短路失效时间( ${t}_{\text {c...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于4H-SiC MOSFET电子辐照耦合短路特性的研究具有重要的工程应用价值。SiC MOSFET作为我司光伏逆变器和储能变流器的核心功率器件,其可靠性直接影响系统的安全运行和全生命周期成本。 该研究揭示了电子辐照对SiC器件短路承受能力的退化机制:辐照后器件短路峰...

功率器件技术 GaN器件 功率模块 可靠性分析 ★ 4.0

一种用于共源共栅GaN结温分离的多电流方法

A Multi-Currents Method for Junction Temperature Separation of Cascode GaN

Lixin Wu · Erping Deng · Yanhao Wang · Shengqian Xu 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年12月

氮化镓(GaN)功率器件因高电子迁移率在功率转换系统中应用广泛。共源共栅(Cascode)结构因其低成本和优异特性被广泛采用。本文提出了一种多电流方法,用于精确分离Cascode GaN器件的结温,解决了现有技术在复杂结构下结温监测的难题,为提升功率模块的可靠性设计提供了理论支撑。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能产品中对功率密度要求的不断提升,GaN器件的应用前景广阔。Cascode GaN结构是实现高频化、小型化的关键技术路径。该文献提出的结温分离方法,能有效提升阳光电源在功率模块热设计和可靠性评估方面的精度,有助于优化iSolarCloud平台下的设备健康管理算法...

功率器件技术 宽禁带半导体 功率模块 可靠性分析 ★ 4.0

具有超过60A浪涌电流能力的封装型氧化镓肖特基整流器

Packaged Ga2O3 Schottky Rectifiers With Over 60-A Surge Current Capability

Ming Xiao · Boyan Wang · Jingcun Liu · Ruizhe Zhang 等11人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年8月

超宽禁带氧化镓(Ga2O3)器件在电力电子领域展现出巨大潜力,但其低热导率引发了对其电热鲁棒性的担忧。本文首次展示了采用底部冷却和双面冷却封装的大面积Ga2O3肖特基势垒二极管(SBD),并验证了其在浪涌电流条件下的电热性能。

解读: 氧化镓作为下一代超宽禁带半导体,其高击穿电场特性有望进一步提升光伏逆变器和储能变流器(PCS)的功率密度与效率。目前阳光电源在SiC器件应用上已处于行业领先地位,该研究关注的Ga2O3热管理与封装技术,对未来开发更高功率密度的PowerTitan储能系统及组串式逆变器具有前瞻性参考价值。建议研发团队...

功率器件技术 功率模块 可靠性分析 热仿真 ★ 3.0

两相浸没冷却技术在提升高功率高重复频率雪崩晶体管亚纳秒脉冲发生器性能中的应用

Application of Two-Phase Immersion Cooling Technique for Performance Improvement of High Power and High Repetition Avalanche Transistorized Subnanosecond Pulse Generators

Yanan Wang · Linyuan Ren · Zihao Yang · Zichen Deng 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年3月

本文探讨了利用两相浸没冷却技术提升高压、高重复频率雪崩晶体管脉冲发生器性能的可行性。通过对比强制风冷、单相浸没冷却与两相浸没冷却在60级亚纳秒脉冲发生器中的应用,实验结果表明两相浸没冷却能显著优化系统散热性能,提升器件在高频工作下的稳定性和输出功率。

解读: 该研究聚焦于高功率密度下的先进热管理技术。对于阳光电源而言,随着PowerTitan等大功率储能系统及组串式逆变器功率密度的不断提升,传统风冷或单相液冷可能面临散热瓶颈。两相浸没冷却技术虽目前多用于高频脉冲电源,但其高效的相变传热机理对未来高功率密度功率模块的封装散热具有前瞻性参考价值。建议研发团队...