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一种GaN基高频DC-DC变换器寄生电感最小化的多回路方法
A Multiloop Method for Minimization of Parasitic Inductance in GaN-Based High-Frequency DC–DC Converter
| 作者 | Kangping Wang · Laili Wang · Xu Yang · Xiangjun Zeng · Wenjie Chen · Hongchang Li |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2017年6月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | GaN器件 DC-DC变换器 功率模块 宽禁带半导体 |
| 相关度评分 | ★★★★ 4.0 / 5.0 |
| 关键词 | GaN HEMTs 寄生电感 DC-DC 变换器 高频开关 功率密度 开关速度 电力电子 |
语言:
中文摘要
氮化镓(GaN)HEMT因其高开关速度和低导通电阻,在高效高密度DC-DC变换器中极具潜力。然而,其高开关速度对寄生电感高度敏感,易导致电压尖峰和驱动安全问题。本文提出一种多回路方法,旨在有效最小化GaN器件应用中的寄生电感,提升变换器性能。
English Abstract
Gallium nitride high electron mobility transistors (GaN HEMTs) are promising switching devices in high-efficiency and high-density dc–dc converters due to their fast switching speed and small conduction resistance. However, GaN HEMTs are very sensitive to parasitic inductance because of their high switching speed, low-threshold voltage, and small driving safety margin. Parasitic inductance can cau...
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SunView 深度解读
该技术对阳光电源的高功率密度产品线至关重要。随着户用光伏逆变器及小型储能系统(如PowerStack)向更高频率、更小体积演进,GaN器件的应用成为提升效率的关键。该多回路寄生电感抑制方法可直接应用于阳光电源的功率模块设计与PCB布局优化,有助于解决高频开关下的电压过冲问题,提升系统可靠性。建议研发团队在下一代高频组串式逆变器及微型逆变器开发中,引入该布局优化策略,以实现更优的功率密度与EMI性能。