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共源共栅GaN HEMT在非钳位感性开关下的鲁棒性
Robustness of Cascode GaN HEMTs in Unclamped Inductive Switching
| 作者 | Qihao Song · Ruizhe Zhang · Joseph Kozak · Jingcun Liu · Qiang Li · Yuhao Zhang |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2022年4月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | GaN器件 宽禁带半导体 可靠性分析 功率模块 |
| 相关度评分 | ★★★★ 4.0 / 5.0 |
| 关键词 | GaN HEMT 共源共栅结构 非钳位电感开关 浪涌能量鲁棒性 过压能力 功率器件 可靠性 |
语言:
中文摘要
浪涌能量鲁棒性对汽车动力总成和电网等应用至关重要。与Si和SiC MOSFET不同，GaN HEMT缺乏雪崩能力，主要依靠过压能力承受浪涌能量。本文对共源共栅GaN HEMT在非钳位感性开关（UIS）条件下的浪涌能量鲁棒性进行了全面研究。
English Abstract
Surge-energy robustness is essential for power devices in many applications such as automotive powertrains and electricity grids. While Si and SiC mosfets can dissipate surge energy via avalanche, the GaN high-electron-mobility transistor (HEMT) has no avalanche capability and withstands surge energy by its overvoltage capability. However, a comprehensive study into the surge-energy robustness of ...
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SunView 深度解读
随着阳光电源在户用光伏逆变器及电动汽车充电桩领域对高功率密度和高效率的需求日益增长，GaN器件的应用潜力巨大。本文针对GaN HEMT在UIS条件下的鲁棒性研究，为阳光电源在设计高频、紧凑型功率变换模块时提供了关键的可靠性评估依据。建议研发团队在引入GaN器件时，重点关注其过压耐受特性，并优化驱动电路设计以规避UIS风险，从而提升户用逆变器及充电桩在复杂电网环境下的长期运行可靠性。