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基于双脉冲和多脉冲的GaN功率器件硬开关与软开关条件下动态导通电阻测试与评估
Dynamic on-State Resistance Test and Evaluation of GaN Power Devices Under Hard- and Soft-Switching Conditions by Double and Multiple Pulses
| 作者 | Rui Li · Xinke Wu · Shu Yang · Kuang Sheng |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2019年2月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | GaN器件 功率模块 可靠性分析 宽禁带半导体 |
| 相关度评分 | ★★★★ 4.0 / 5.0 |
| 关键词 | GaN器件 动态导通电阻 硬开关 软开关 双脉冲测试 功率变换 RDSON 电力电子 |
语言:
中文摘要
本文针对GaN器件在转换器中的动态导通电阻(RDSON)行为进行了研究。鉴于零电压开关(ZVS)技术在高频功率转换中的广泛应用,研究构建了一个集成硬开关与软开关测试电路的动态RDSON测试平台,并对比评估了两种商用GaN器件在不同开关条件下的性能表现。
English Abstract
The dynamic on-state resistance (RDSON) behavior of commercial GaN devices is very important for a GaN-based converter. Since the zero-voltage switching techniques are popular in high-frequency power conversion, a dynamic RDSON test board integrating both hard- and soft-switching test circuits is built in this study. Two types of commercial GaN devices are tested and compared under hard- and soft-...
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SunView 深度解读
随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能PCS中对高功率密度和高效率的需求日益增长,GaN器件的应用成为提升产品竞争力的关键。本文提出的动态RDSON测试方法对于评估GaN器件在实际高频开关工况下的损耗特性具有重要参考价值。建议研发团队在下一代高频化、小型化逆变器及充电桩产品设计中,引入此类动态测试手段,以优化驱动电路设计并提升系统可靠性,从而在保持高效率的同时,进一步缩小产品体积。