找到 25 条结果 · 功率器件技术

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功率器件技术 ★ 5.0

先进动态耗尽型SOI MOSFET中洛伦兹噪声现象的表征、理解与建模

Characterization, Understanding, and Modeling of Lorentzian Noise Phenomenon in Advanced Dynamically Depleted SOI MOSFET

Haobo Huang · Tianye Yu · Yudi Zhao · Guangxi Hu 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年8月

本研究对先进动态耗尽(DD)绝缘体上硅(SOI)金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的电流噪声功率谱密度(PSD)进行了表征。通过比较体接触(BC)模式和浮体(FB)模式下的功率谱密度,研究了体接触模式下类似洛伦兹型的过量噪声。通过分析各种洛伦兹噪声的物理机制并采用核密度估计(KDE)方法,发现这一独特的噪声现象主要归因于硅膜中陷阱的物理位置,以及不同器件工作模式下各种偏置电压下能态的填充水平。为对这一观测到的现象进行建模,开发了一个基于物理的解析体电势模型,然后基于该体电势建立了一个新...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于SOI MOSFET器件噪声特性的研究具有重要的应用价值。在光伏逆变器和储能变流器等核心产品中,功率半导体器件的噪声特性直接影响系统的电能质量、电磁兼容性能和控制精度。 该研究针对先进动态耗尽型SOI MOSFET的洛伦兹噪声现象建立了基于物理机制的精确模型,这对...

功率器件技术 宽禁带半导体 ★ 5.0

高整流比、低漏电流的p-Si/n-AlN异质结PN二极管

High Rectification, Low Leakage p-Si/n-AlN Heterojunction PN Diode

Yi Lu · Jie Zhou · Jiarui Gong · Yang Liu 等6人 · IEEE Electron Device Letters · 2025年5月

超宽带隙氮化铝(AlN)是一种极具吸引力的用于功率和射频电子领域的材料。单极n型AlN肖特基势垒二极管已展现出其优势,然而,基于AlN的双极型器件虽有待进一步发展,但相关研究却较为匮乏。在本文中,我们报道了具有优异性能的单晶硅p型/氮化铝n型(p - Si/n - AlN)pn结二极管(PND),该二极管是通过将p型硅纳米膜嫁接到n型AlN薄膜上制成的。通过在1100℃下进行高温退火,在n型AlN上直接实现了改进的欧姆接触,接触电阻率为4.9×10⁻³ Ω·cm²。这些PND在整个晶圆上表现出显...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项p-Si/n-AlN异质结二极管技术展现出显著的战略价值。该技术基于超宽禁带半导体AlN材料,实现了3×10^7的高整流比和6.25×10^-9 A/cm²的超低漏电流,这些性能指标对我们的核心产品线具有重要意义。 在光伏逆变器和储能变流器领域,功率器件的性能直接决定...

功率器件技术 SiC器件 ★ 5.0

基于Koopman算子的物理信息数据驱动可再生能源主导电力系统振荡抑制策略

Physics Informed Data-Driven Oscillation Stabilization Strategy for Renewable-Dominant Power Systems Based on Koopman Operator

Zihan Wang · Gengyin Li · Ziyang Huang · Xiaonan Zhang 等6人 · IEEE Transactions on Industry Applications · 2025年1月

随着波动性可再生能源发电(REGs)的高比例接入,振荡现象在全球范围内频繁出现。与传统电力系统中的低频振荡不同,以可再生能源为主导的电力系统中的振荡频率更高,涉及更多非线性因素,严重威胁着系统的稳定运行。振荡稳定控制设计的主要技术挑战在于以可再生能源为主导的电力系统具有非线性、复杂性,且难以获取其模型。为应对这一范式转变,本文提出了一种基于柯普曼算子(KO)的物理信息驱动的数据驱动振荡稳定控制(PDOS)策略,该策略具有强可解释性和高计算效率的优点。首先,基于柯普曼算子实现了非线性动态的全局线性...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于Koopman算子的物理信息驱动振荡稳定技术具有重要的战略价值。随着全球新能源渗透率持续攀升,我们在实际项目中已观察到高频振荡问题日益突出,这与传统电力系统的低频振荡特性存在本质差异,对我们的光伏逆变器和储能系统控制策略提出了新挑战。 该技术的核心价值在于通过Ko...

功率器件技术 SiC器件 ★ 5.0

用于振荡水柱波浪能转换装置的波-电耦合模型

Wave-to-wire model for an oscillating water column wave energy converter

Zhen-yu Ding · De-zhi Ning · Robert Mayon · Applied Energy · 2025年1月 · Vol.377

摘要 波浪能是一种极具前景的可再生能源,有望显著缓解全球能源危机。在各类波浪能转换装置(WECs)中,振荡水柱(OWC)装置因其结构简单、运行可靠以及良好的耐久性而备受关注。本研究基于Simulink系统设计软件平台,建立了将双向透平-发电系统与OWC腔室耦合的数值模型。该集成模型实现了对冲击式透平与三相永磁同步发电机(PMSG)之间的全面耦合,同时保留了多相流体流动的动态特性,并最小化了影响系统性能的未知参数。波-电耦合(Wave-to-Wire, WtW)时域模型由能量捕获腔室、冲击式透平和...

解读: 该波浪能转换系统的Wave-to-Wire全链路建模方法对阳光电源ST系列储能变流器和新能源并网系统具有重要借鉴价值。其永磁同步发电机(PMSG)与双向涡轮耦合控制策略可应用于我司储能PCS的双向功率变换优化,特别是电磁阻尼机制对提升VSG虚拟同步发电机控制算法的暂态响应性能有启发意义。98%的高转...

功率器件技术 SiC器件 ★ 5.0

利用4H-SiC的横向热电效应实现从毫瓦到数百瓦功率范围的红外激光探测

Utilizing the transverse thermoelectric effect of 4H-SiC for infrared laser detectors across a power range spanning from milliwatts to hundreds of watts

Yahui Huang · Jianyu Yang · Kunlun Wang · Yong Wang · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.126

山东大学核科学与能源动力工程学院,威海前沿核技术研究院,山东省核科学与核能技术综合利用重点实验室。本文研究了4H-SiC材料在宽功率范围内(从毫瓦级至数百瓦)作为红外激光探测器的应用,利用其横向热电效应实现高效的热电转换与信号响应。该方法无需外加偏压,具有快速响应、宽动态范围和高稳定性等优势,适用于高功率激光检测与监控系统。实验结果表明,基于4H-SiC横向热电效应的探测器在不同功率密度下均表现出优异的线性响应特性与重复性,展现出在工业与国防领域中的广泛应用前景。

解读: 该研究对阳光电源的SiC功率器件应用具有重要参考价值。4H-SiC横向热电效应探测技术可应用于公司SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器的功率器件温度监测系统,实现毫瓦到百瓦级的精确功率损耗检测。这项技术无需外加偏压、响应快速的特点,有助于提升产品的热管理效率和可靠性。可集成到iSolarCloud...

功率器件技术 SiC器件 ★ 5.0

基于暂态动能方法的弹性网络物理电力保护系统

Resilient Cyber-Physical Power Protection Systems Using Transient Kinetic Energy Method

作者未知 · IEEE Transactions on Industrial Informatics · 2025年1月

智能电力系统中远程控制与数字化的融合带来了重大的网络安全风险,尤其是针对保护系统的恶意攻击,这类攻击可能导致运行中断和线路停电。然而,此类停电也可能由系统故障、保护装置失灵或断路器故障引起。为应对这一挑战,本文提出了一种基于波形分析的新方法。该方法利用暂态动能分析和断路器实时监测来区分网络攻击和其他导致线路停电的原因。通过分析断路器(CB)线圈电流和触头行程的波形数据,该方法提取时间特征以评估断路器的健康状况。为每个特征生成概率分布曲线,从而可以将新的测量值与这些分布进行比较,以评估断路器的状态...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于瞬态动能分析的电力系统网络安全防护技术具有重要的战略价值。随着公司在全球范围内部署大规模光伏电站、储能系统和综合能源解决方案,系统的数字化和远程运维能力已成为核心竞争力,但同时也带来了网络攻击的潜在风险。 该技术通过波形分析区分网络攻击与系统故障的创新方法,对阳光...

功率器件技术 SiC器件 ★ 5.0

主动配电网中逆变器基资源的网络物理攻击鲁棒恢复

Robust Restoration From Cyber-Physical Attacks in Active Distribution Grids With Grid-Edge IBRs

Xue Gao · Wei Sun · IEEE Transactions on Power Systems · 2024年7月

基于逆变器的资源(IBRs)使可再生能源能够在电网边缘实现集成,同时具备增强的控制能力,以支持电网的可靠运行。随着用于实时监测和控制的信息网络的扩展,人们提出了不同的控制框架,如分层或分布式架构。关键基础设施向信息物理系统的这种演变也因攻击面的扩大带来了更多漏洞,并显著增加了由网络攻击导致物理系统故障或停电的可能性。在纵深防御的诸多努力中,及时检测并准确定位攻击入口点或路径仍然具有挑战性。因此,现有的恢复框架可能难以充分考虑信息 - 物理的相互依存关系,难以成功隔离受影响的信息和物理组件,也难以...

解读: 该网络安全恢复技术可应用于阳光电源分布式光伏和储能系统的网络安全防护。通过鲁棒恢复策略,提升SG系列逆变器和ST系列储能系统在网络物理攻击下的抗干扰能力,确保系统快速恢复正常运行,为智能配电网提供网络安全保障。...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

衬底偏压对欧姆p型栅GaN高电子迁移率晶体管非钳位感性开关能力的影响

Effect of Substrate Bias in Ohmic p-Gate GaN-HEMTs on Unclamped Inductive Switching Capability

Wataru Saito · Shin-Ichi NIshizawa · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年8月

本文测量了欧姆 p 栅氮化镓(GaN)-高电子迁移率晶体管(HEMT)在不同衬底偏置条件下的非钳位电感开关(UIS)能力。GaN-HEMT 的一个关键缺点是其 UIS 能力极低,因为没有用于消除碰撞电离产生的空穴的结构。因此,过电压应力导致的失效位置在很大程度上取决于碰撞电离产生的空穴的电流路径。本文报道,通过调制空穴电流路径,浮动或正偏置衬底条件可以提高欧姆 p 栅 GaN-HEMT 的 UIS 能力。此外,在浮动衬底条件下增加栅极电阻会减缓电压变化率(dV/dt),导致在半导通状态下消耗更多...

解读: 从阳光电源光伏逆变器和储能系统的核心应用场景来看,这项关于欧姆p栅GaN-HEMT器件非钳位感性开关能力的研究具有重要的技术参考价值。GaN功率器件凭借其高开关频率、低导通损耗等优势,正逐步成为我司下一代高效率逆变器和储能变流器的关键技术路线,但其固有的低UIS能力一直是制约大规模应用的瓶颈。 该...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

关于GaN基HEMT中动态-QOSS与动态-RON相关性的研究

On the Correlation Between Dynamic-QOSS and Dynamic-RON in GaN-Based HEMTs

Marcello Cioni · Alessandro Chini · Giacomo Cappellini · Giovanni Giorgino 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年8月

在本简报中,我们研究了650 V封装的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的动态 $Q_{\text {OSS}}$ 与动态 $R_{\text {ON}}$ 之间的相关性。为此,我们提出了一种新颖的测量装置,用于评估传统开关模式操作期间这两个参数的实时演变。在 $V_{\text {DS}} = 200$ V 下进行的测量表明,动态 $R_{\text {ON}}$ 和动态 $Q_{\text {OSS}}$ 呈现出相似的指数瞬态和时间常数,这可能是由GaN缓冲层中与碳相关的受主电...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于GaN HEMT器件动态特性关联性的研究具有重要的工程应用价值。GaN功率器件凭借其高开关频率、低导通损耗等优势,已成为我司新一代光伏逆变器和储能变流器的核心技术路线。 该研究揭示了动态导通电阻(Dynamic-RON)与动态输出电荷(Dynamic-QOSS)之...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

重离子辐照导致的p型氮化镓栅极HEMTs漏电流增加机制

Mechanism of Heavy Ion-Induced Leakage Current Increase in Normally-OFF p-GaN Gate HEMTs

Chao Peng · Zhifeng Lei · Teng Ma · Hong Zhang 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年8月

本文报道了 650 V p 型氮化镓(GaN)栅高电子迁移率晶体管(HEMT)在重离子辐照下漏电流增大的现象。重离子导致 GaN HEMT 漏电流增大的退化情况与重离子的线性能量转移(LET)值和偏置电压有关。仅在 LET 值为 60.5 MeV·cm²/mg 的钽(Ta)离子辐照下观察到漏电流增大,而在 LET 值为 20.0 MeV·cm²/mg 的氪(Kr)离子辐照下未观察到该现象。此外,较高的偏置电压会导致漏电流增大的退化现象更为明显。当器件偏置电压为 100 V 时,漏极和源极之间存在...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于p-GaN栅极HEMT器件重离子辐照效应的研究具有重要的可靠性参考价值。GaN功率器件凭借其高频、高效、高功率密度等优势,正逐步成为光伏逆变器和储能变流器的核心功率开关器件。然而,该研究揭示的重离子辐照导致的漏电流退化机制,对我们在特殊应用场景下的产品设计提出了新的...

功率器件技术 IGBT 多物理场耦合 ★ 4.0

一种利用IGBT器件寄生电感能量的暂态调节方法

A Transient Regulation Method Utilizing Parasitic Inductance Energy in IGBT Devices

童乐天 · 彭晗 · 岳乔治 · 辛晴 等5人 · 中国电机工程学报 · 2025年8月 · Vol.45

功率器件因封装和电路设计存在寄生电感,易引发门极振荡或电气应力增加。本文采用分布式参数耦合提取法建立器件内部与封装的全面寄生电感模型,通过瞬时能量积分分析寄生电感能量交互。提出能量转移支路实现寄生电感能量再利用,并结合dvce/dt产生的位移电流分流,分别调控电压和电流变化率。该技术可同时优化开关损耗与电气应力,无需高成本器件。在IKW75N60T双脉冲测试中(400 V/60 A),电流与电压过冲分别降低12.0%和14.5%,开通与关断损耗减少4.16%和7.6%。

解读: 该IGBT寄生电感能量利用技术对阳光电源的功率变换产品具有重要应用价值。通过寄生电感建模和能量转移支路设计,可有效降低SG系列光伏逆变器、ST系列储能变流器中IGBT的开关损耗和电压应力。特别是在1500V高压系统中,该技术可提升功率器件可靠性,降低散热设计成本。对于车载OBC和充电桩等对功率密度要...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

一种用于极化梯度HEMT的紧凑模型及其线性度增强研究

A Compact Model for Polarization-Graded HEMTs Demonstrating Enhanced Linearity

Mohammad Sajid Nazir · Mir Mohammad Shayoub · Nivedhita Venkatesan · Patrick Fay 等5人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年7月

本文提出了一种对极化渐变氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEMT)进行建模的方法。与传统的GaN HEMT不同,传统GaN HEMT在势垒层 - 沟道层界面形成二维电子气(2DEG),而渐变结构具有三维电子分布。本文使用半导体工艺及器件模拟软件(TCAD)模拟来提取载流子密度和能带图,以此作为模型开发的基础。推导过程采用了对费米 - 狄拉克积分解的精细近似,通过使用电势平衡,在确保可微性的同时,准确地将载流子密度与施加的栅极偏置关联起来。随后,采用基于表面电势的方法对终端电流和电荷进行建模。...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项极化梯度GaN HEMT紧凑模型技术具有重要的战略价值。该技术通过创新的三维电子分布结构显著提升了器件线性度,这直接对应我们在高功率光伏逆变器和储能变流器中面临的核心技术挑战。 在光伏逆变器领域,传统GaN HEMT器件虽然具备高开关频率和低损耗优势,但线性度不足常导...

功率器件技术 宽禁带半导体 SiC器件 多物理场耦合 ★ 4.0

基于4H-SiC的低噪声前端电荷耦合晶体管,用于0.9%辐射能量分辨率

4H-SiC-Based Low-Noise Front-End Charge Coupling Transistor for 0.9% Radiation Energy Resolution

Jiuzhou Zhao · Weizong Xu · Hao Qu · Dong Zhou 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年5月

本简报提出了一种基于宽带隙碳化硅(SiC)的方法,用于前端电子应用中的低噪声电荷耦合晶体管,可对α粒子进行精确检测并实现良好的能量分辨率。通过采用双栅外延结构设计的联合构建技术,减轻了沟道与底栅之间的电容耦合和电荷泄漏,同时结合蚀刻损伤修复以及干 - 湿 - 干氧化钝化制造工艺,制备出了 4H - SiC 结型场效应晶体管(JFET)。该晶体管室温泄漏电流约为 0.1 pA,输入电容密度低至 0.285 fF/μm²,输出电导低至 10⁻⁶ S,在 1 kHz 时实现了 1.1×10⁻¹⁹ A²...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于4H-SiC的低噪声前端电荷耦合晶体管技术虽然聚焦于辐射探测领域,但其底层技术突破对我们的核心业务具有重要的延伸价值。 **技术关联性分析**:该研究在SiC JFET器件上实现的突破——极低漏电流(~0.1 pA)、超低输入电容密度(0.285 fF/μm²)和...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

总电离剂量辐射引起的p-GaN栅极HEMTs漏电流退化

Total-Ionizing-Dose Radiation-Induced Leakage Current Degradation in p-GaN Gate HEMTs

Zhao Wang · Xin Zhou · Qingchen Jiang · Zhengyuan Peng 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年1月

本研究对 p - GaN 栅高电子迁移率晶体管(HEMT)中总电离剂量(TID)辐射诱发的漏极泄漏电流(<inline-formula xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink"> <tex-math notation="LaTeX">${I} _{\text {off}}$ </tex-math></inline-formula>)退化现象进行了研究。辐射诱发...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于p-GaN栅极HEMT器件抗总电离剂量辐射性能的研究具有重要的战略参考价值。GaN基HEMT器件因其高频、高效、耐高温特性,正逐步成为光伏逆变器和储能变流器中功率转换模块的核心器件,直接影响系统的转换效率和可靠性。 该研究揭示的辐射损伤机制对我司产品在特殊应用场景...

功率器件技术 GaN器件 多物理场耦合 ★ 4.0

基于体接地耦合效应的GaN基MIS-HEMT绝缘层击穿分析

Analysis of Insulator Breakdown Induced by Body-Grounded-Coupling Effect in GaN-Based MIS-HEMT

Cheng-Hsien Lin · Chien-Hung Yeh · Po-Hsun Chen · Ting-Chang Chang 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年1月

本研究聚焦于D模式氮化镓基金属-绝缘体-半导体高电子迁移率晶体管(MIS - HEMT)实际运行过程中出现的异常击穿问题。测量统计结果显示,体浮空器件的击穿电压(<inline - formula xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink"> <tex - math notation="LaTeX">${V}_{\text {BD}}\text {)}$ </t...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于GaN基MIS-HEMT器件绝缘层击穿机理的研究具有重要的工程应用价值。GaN功率器件凭借其高频、高效、高功率密度特性,正成为我们新一代光伏逆变器和储能变流器的核心技术方向,直接影响系统的功率密度提升和成本优化。 该研究揭示的体接地耦合效应对我们的产品设计具有关键...

功率器件技术 SiC器件 GaN器件 ★ 4.0

基于碳化硅、硅和蓝宝石衬底的氮化镓高电子迁移率晶体管的最大、有效和平均热阻

Maximum, effective, and average thermal resistance for GaN-based HEMTs on SiC, Si and sapphire substrates

Kaushik Shivanand Powar · Venkata Komalesh Tadepalli · Vaidehi Vijay Painter · Raphael Sommet 等6人 · Solid-State Electronics · 2025年1月 · Vol.227

摘要 本文采用TCAD仿真方法,报道了在碳化硅(SiC)、硅(Si)和蓝宝石衬底上的AlGaN/GaN和InAlN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMTs)的最大、有效和平均热阻(RTH)。在验证了仿真的I-V特性之后,通过自加热(SH)引起的沟道温度升高(ΔT)随耗散功率(PD)变化的关系曲线提取热阻RTH。最大热阻(RTHmax)决定了HEMT在较高功耗下的可靠性,因此提取了沟道峰值温度(Tmax)。将仿真的ΔTmax-PD曲线与文献中每种HEMT结构的结果进行了比较。所估算的RTHmax与已...

解读: 该GaN HEMT热阻分析技术对阳光电源功率器件应用具有重要价值。研究揭示SiC基底GaN器件具有最优热管理性能,可指导SG系列光伏逆变器和ST储能PCS的功率模块设计优化。通过精确区分最大、有效和平均热阻,能提升三电平拓扑中GaN/SiC器件的可靠性评估精度,优化散热设计裕量。该TCAD仿真方法可...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

基于帽层设计的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管电学性能研究

Study on electrical performance of AlGaN/GaN high electron mobility transistor based on cap layer design

Tieying Zhang · Peng Cui · Xin Luo · Siheng Chen 等11人 · Solid-State Electronics · 2025年1月 · Vol.224

摘要 本研究探讨了不同帽层对AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMTs)电学特性的影响。通过对比制备的具有GaN和AlN帽层的AlGaN/GaN HEMTs,发现AlN帽层由于其优异的钝化效果和极化效应,能够提高二维电子气(2DEG)密度,从而获得更高的饱和电流,并使击穿电压从615 V(GaN帽层)提升至895 V(AlN帽层)。Sentaurus TCAD仿真结果验证了上述实验发现,表明AlN帽层器件中形成了更深的三角形量子势阱,导致2DEG电子密度达到1.19 × 10^13 cm^...

解读: 该AlN帽层GaN HEMT技术对阳光电源功率器件应用具有重要价值。研究显示AlN帽层可将击穿电压提升至895V,梯度帽层结构更达1308V,2DEG密度提升28%。这为我司SG系列光伏逆变器、ST储能PCS及充电桩的GaN功率模块设计提供优化方向:通过改进帽层结构可提升器件耐压等级和导通性能,支持...

功率器件技术 宽禁带半导体 GaN器件 ★ 4.0

利用多波长光源对p型Cu2O薄膜晶体管宽禁带能量范围内的态密度进行先进表征

Advanced characterization of density-of-states over wide bandgap-energy in p-type Cu2O TFTs by multiple-wavelength light source

Soyeon Kim · Jaewook Yoo · Seongbin Lim · Hyeonjun Song 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

本文采用多波长光源对p型氧化亚铜(Cu2O)薄膜晶体管(TFTs)在宽禁带能量范围内缺陷态密度(DOS)进行了高精度表征。通过变波长光电导测试结合温度依赖性测量,实现了对深能级与浅能级陷阱态的分辨提取,精确重构了跨费米能级的DOS分布。该方法有效克服了传统电学测试在宽禁带半导体中灵敏度不足的问题,揭示了Cu2O TFT中氧空位与铜间隙等主要缺陷的能级特征及其对载流子输运的影响机制。

解读: 该研究对阳光电源的宽禁带半导体器件开发具有重要参考价值。通过多波长光源表征DOS的方法可应用于SiC/GaN功率器件的缺陷分析与筛选,有助于提升SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器的功率器件可靠性。特别是对于高压大功率应用场景,精确掌握深能级缺陷特征有利于优化器件设计参数,提高转换效率和可靠性。这...

功率器件技术 SiC器件 ★ 4.0

空间电荷效应对经典真空二极管中短脉冲电子束动力学的影响

Space Charge Effects on Short-Pulse Electron Beam Dynamics in a Classical Vacuum Diode

作者未知 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年1月

空间电荷效应给基于电子束的技术发展带来了重大挑战。在本研究中,我们使用一维多片层模型和二维粒子模拟(PIC)方法,研究了空间电荷效应对真空二极管中短脉冲束流轮廓演化的影响。分析了不同初始轮廓(方顶、梯形或高斯型)、电荷密度和脉冲宽度的影响。我们考察了随着脉冲长度减小的电流密度极限,以及束流穿越间隙时产生的畸变。研究发现,对于相同的总电荷量,方顶、梯形和高斯型脉冲经历的畸变程度相近,其中高斯型脉冲由于其形状分布更宽,表现出稍大的畸变(尤其是在较长脉冲长度和较小电荷密度的情况下)。脉冲长度越短,畸变...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这篇关于真空二极管中短脉冲电子束动力学的研究虽然属于基础物理范畴,但其对空间电荷效应的深入分析对我司高功率电力电子器件的研发具有一定的参考价值。 在光伏逆变器和储能变流器的核心功率模块中,高频开关过程中会产生瞬态电荷积累现象,虽然工作机理与真空二极管不同,但空间电荷效应导...

功率器件技术 SiC器件 GaN器件 ★ 4.0

缓冲层自由AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管中陷阱的自感应光电离

Self-Induced Photoionization of Traps in Buffer-Free AlGaN/GaN HEMTs

Francesco De Pieri · Mirko Fornasier · Veronica Gao Zhan · Manuel Fregolent 等6人 · IEEE Electron Device Letters · 2024年12月

本文研究了碳化硅衬底上无缓冲层的 AlGaN/GaN 高电子迁移率晶体管(HEMT)中的去俘获机制及其与外加偏压的关系。研究表明,当器件处于半导通状态偏置,或者在源极和漏极接地的情况下对栅肖特基结施加正向偏压时,去俘获时间常数会减小几个数量级。尽管在电荷输运和发光方面涉及完全不同的机制,但这两种偏置条件都会引发高能光子(能量 E > 2 电子伏特)的发射,这些光子可以使陷阱发生光电离,从而加速恢复过程。本文所展示的数据表明,只有在器件建模中考虑光学效应,才能对氮化镓器件的行为进行真实的描述。

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于无缓冲层AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)陷阱自致光电离机制的研究具有重要的技术价值。GaN器件凭借其高频、高效、高功率密度特性,已成为我司新一代光伏逆变器和储能变流器的核心功率器件,直接影响系统效率和可靠性。 该研究揭示的陷阱去捕获机制对我司产品优...

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