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具备高共模抑制比和强dv/dt抗扰性的灵活1.5GHz探头隔离扩展技术，赋能下一代宽禁带
WBG）测量
| 作者 | Yulei Wang · Jiakun Gong · Zheng Zeng · Liang Wang · Mingrui Zou · Yiming Gong · Yuxi Liang |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2025年1月 |
| 技术分类 | 可靠性与测试 |
| 技术标签 | 宽禁带半导体 功率模块 可靠性分析 |
| 相关度评分 | ★★★★ 4.0 / 5.0 |
| 关键词 | 宽禁带(WBG) 功率器件 dv/dt 共模抑制比(CMRR) 测量系统 高频 隔离 开关速度 |
语言:
中文摘要
随着宽禁带（WBG）功率器件向更高阻断电压和更快开关速度发展，超高dv/dt对测量系统提出了严苛要求。本文深入探讨了在WBG器件高速开关过程中，测量系统面临的共模干扰及抗扰性挑战，并提出了一种高带宽、高共模抑制比的隔离测量方案，以实现对下一代电力电子系统精确的动态性能评估。
English Abstract
Advancements in the next-generation wide-bandgap (WBG) power devices, distinguished by higher blocking voltage and faster switching speed, give rise to the advent of ultrahigh dv/dt. These three factors collectively impose demanding performance requirements on future high-performance measurement systems. This article conducts an in-depth exploration of the challenges encountered during the low- an...
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SunView 深度解读
随着阳光电源在组串式逆变器和PowerTitan储能系统中大规模应用SiC等宽禁带器件，开关频率的提升带来了极高的dv/dt，这对研发阶段的功率模块测试与驱动电路验证提出了巨大挑战。该文章提出的高CMRR测量技术，能够有效解决SiC/GaN器件在高速开关下的波形畸变与干扰问题，有助于提升研发团队对功率变换器动态特性的精准把控。建议在研发测试平台中引入此类高带宽隔离探头技术，以优化下一代高功率密度逆变器及PCS产品的驱动保护电路设计，降低电磁干扰风险，提升系统运行可靠性。