← 返回
谐振双脉冲测试装置
Resonant Double Pulse Test Setup
| 作者 | Jiasheng Huang · Celia Hermoso Díaz · Drazen Dujic |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2026年4月 |
| 技术分类 | 可靠性与测试 |
| 技术标签 | LLC谐振 功率模块 可靠性分析 宽禁带半导体 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | 谐振双脉冲测试 功率半导体器件 LLC变换器 开关特性 功率损耗 寄生电容 |
语言:
中文摘要
本文提出了一种新型谐振双脉冲测试方法，用于在真实的谐振变换器工作条件下评估功率半导体器件。该测试装置能够精确评估功率损耗和开关行为，特别适用于LLC谐振变换器，并充分考虑了器件寄生电容及谐振参数的影响。
English Abstract
This letter proposes a novel resonant double-pulse test method for evaluating power semiconductor devices under realistic resonant converter operating conditions. The test setup enables precise evaluation of power losses and switching behavior as observed in practical resonant converters, specifically LLC converters, accounting for the influence of device-intrinsic parasitic capacitances, resonant...
S
SunView 深度解读
该研究对阳光电源的组串式逆变器及储能变流器（PCS）产品线具有重要价值。阳光电源的PowerTitan和PowerStack系列储能系统及高效光伏逆变器广泛采用LLC等谐振拓扑以提升功率密度和效率。传统的双脉冲测试难以完全模拟谐振变换器中复杂的软开关环境，本研究提出的测试方法能更精准地评估SiC/GaN等宽禁带半导体在实际谐振工况下的损耗与应力。建议研发团队引入该测试方案，以优化高频功率模块的选型与驱动电路设计，进一步提升产品在极端工况下的可靠性与转换效率。