← 返回
基于自适应变步长代谢灰色模型的直流固态功率控制器SiC MOSFET在线短期老化状态预测
Online Short-Term Aging Status Prediction of SiC MOSFETs for DC Solid-State Power Controller Using Adaptive Variable Time-Steps Metabolic Gray Model
| 作者 | Bin Yu · Li Wang |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2024年10月 |
| 技术分类 | 可靠性与测试 |
| 技术标签 | SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 故障诊断 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | SiC MOSFET dc-SSPC 老化预测 可靠性 代谢灰色模型 在线监测 电力电子 |
语言:
中文摘要
SiC MOSFET是直流固态功率控制器（dc-SSPC）的核心器件。为提升dc-SSPC的可靠性，本文提出一种基于自适应变步长代谢灰色模型的在线老化预测方法。该方法无需大量训练数据或精确物理参数，有效降低了计算资源消耗，为功率器件的寿命预测提供了高效解决方案。
English Abstract
SiC mosfets are the key ideal device for the dc solid-state power controller (dc-SSPC). The reliability of dc-SSPCs can be improved by online predicting of SiC mosfets aging degree. Among current prediction methods, numerous training data or precise physical parameters are required to establish prediction models, which will consume lots of computing resources or implement abundant aging experiment...
S
SunView 深度解读
该技术对阳光电源的核心业务具有极高价值。随着公司组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统全面转向SiC功率器件以提升功率密度和效率，器件的在线健康管理（PHM）成为提升系统可靠性的关键。该研究提出的轻量化预测算法，可集成至iSolarCloud智能运维平台或嵌入式控制板中，实现对SiC模块老化状态的实时监测，从而在故障发生前进行预警或功率降额控制，显著降低运维成本，提升产品全生命周期可靠性。