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功率循环测试中SiC功率电子器件磨损失效的实时声发射监测
Real-Time Acoustic Emission Monitoring of Wear-Out Failure in SiC Power Electronic Devices During Power Cycling Tests
| 作者 | Chanyang Choe · Chuantong Chen · Shijo Nagao · Katsuaki Suganuma |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2021年4月 |
| 技术分类 | 可靠性与测试 |
| 技术标签 | SiC器件 功率模块 可靠性分析 故障诊断 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | 声发射 SiC 肖特基势垒二极管 功率循环 老化失效 铝键合线 可靠性监测 芯片粘接 |
语言:
中文摘要
本文首次利用声发射（AE）技术监测了采用银烧结工艺的SiC肖特基二极管在功率循环测试中的磨损失效过程。通过噪声过滤技术消除背景干扰后，成功实现了对铝键合线失效过程的实时监测，为功率器件的寿命评估提供了新方法。
English Abstract
In the article, acoustic emission (AE) was applied to monitor the wear-out failure in discrete SiC Schottky barrier diodes devices with a Ag sinter die attach to successfully monitor the real-time progress of failure of Al ribbons for the first time. After eliminating background AE noise including the power on-off switch and the ambient noise via a noise filtering process, AE signals were successf...
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SunView 深度解读
该研究对阳光电源的核心产品线具有重要价值。随着公司在组串式逆变器及PowerTitan等储能系统中大规模应用SiC功率模块，提升功率密度与效率的同时，器件的可靠性评估至关重要。声发射监测技术可作为一种先进的在线监测手段，集成于iSolarCloud智能运维平台，用于评估关键功率模块的健康状态（SOH）。建议研发团队在功率循环测试中引入该技术，以优化SiC器件的封装设计与寿命预测模型，从而提升产品在极端工况下的长期运行可靠性。