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一种基于SenseHEMT的GaN功率HEMT集成过流保护电路
An Integrated GaN Overcurrent Protection Circuit for Power HEMTs Using SenseHEMT
| 作者 | Wan Lin Jiang · Samantha Kadee Murray · Mohammad Shawkat Zaman · Herbert De Vleeschouwer · Peter Moens · Jaume Roig · Olivier Trescases |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2022年8月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 可靠性分析 |
| 相关度评分 | ★★★★ 4.0 / 5.0 |
| 关键词 | GaN功率HEMT 过流保护 传感HEMT(SenseHEMT) 单片集成 快速开关 电力电子 可靠性 |
语言:
中文摘要
GaN功率高电子迁移率晶体管(HEMT)具有极快的开关速度,但过流耐受能力较弱,要求过流保护(OCP)电路响应时间小于0.5微秒。得益于高压GaN集成平台的发展,将数字和模拟电路与GaN功率器件单片集成成为可能。本文提出了一种基于SenseHEMT的集成化过流保护方案,旨在提升GaN器件在高速开关应用中的可靠性。
English Abstract
GaN power high-electron-mobility transistors (HEMTs), with their fast switching transients and poor overcurrent tolerance, require overcurrent protection (OCP) circuits that can respond in under $\text{0.5}\, \mu \text{s}$. Monolithically integrating digital and analog circuits with GaN power devices is enabled by recent advancements in high-voltage GaN integrationplatforms. Thus, integrated OCP d...
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SunView 深度解读
该技术对阳光电源的户用光伏逆变器及小型化储能产品线具有重要参考价值。随着GaN器件在高效、高频化逆变器中的应用普及,其脆弱的短路耐受能力是制约可靠性的核心瓶颈。本文提出的集成化OCP方案能够实现亚微秒级快速响应,有助于提升阳光电源下一代高功率密度逆变器及微型逆变器的系统安全性。建议研发团队关注GaN单片集成技术,探索将其应用于高频功率模块设计,以在减小体积的同时提升器件的鲁棒性。