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1.2-kV MOS-双极型器件的关断dV/dt可控性
Turn-OFF dV/dt Controllability in 1.2-kV MOS-Bipolar Devices
| 作者 | Peng Luo · Sankara Narayanan Ekkanath Madathil · Shin-Ichi Nishizawa · Wataru Saito |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2021年3月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | IGBT 功率模块 可靠性分析 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | IGBT 关断dV/dt 动态雪崩 功率损耗 安全工作区 MOS-双极型器件 |
语言:
中文摘要
关断dV/dt可控性是IGBT在电力电子应用中实现灵活设计的关键特性。本文探讨了关断瞬态过程中动态雪崩（DA）现象对IGBT关断损耗、dV/dt可控性及安全工作区（SOA）的影响，旨在明确DA效应的物理机制，为优化高压功率器件性能提供理论支撑。
English Abstract
Turn-off dV/dt controllability is an essential feature in insulated gate bipolar transistors (IGBTs) for flexible design in power switching applications. However, the occurrence of dynamic avalanche (DA) during the turn-off transients plays a key role on the turn-off power loss, dV/dt controllability and safe operating area of IGBTs. This article aims to clarify the impact of DA on the turn-off ch...
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SunView 深度解读
该研究直接关联阳光电源核心产品线（光伏逆变器、储能PCS及风电变流器）中功率模块的选型与驱动设计。1.2kV IGBT是公司组串式逆变器和PowerTitan储能系统的核心器件。通过深入理解动态雪崩（DA）对dV/dt的影响，研发团队可优化驱动电路设计，在保证电磁兼容性（EMC）的同时，平衡开关损耗与电压尖峰，从而提升逆变器效率并延长系统寿命。建议在下一代高功率密度产品开发中，利用该理论优化驱动策略，进一步提升系统在极端工况下的可靠性。