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一种基于65nm CMOS工艺的34dB动态范围0.7mW紧凑型开关电容功率检测器
A 34-dB Dynamic Range 0.7-mW Compact Switched-Capacitor Power Detector in 65-nm CMOS
| 作者 | Chenyang Li · Xiang Yi · Chirn Chye Boon · Kaituo Yang |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2019年10月 |
| 技术分类 | 拓扑与电路 |
| 技术标签 | 功率模块 宽禁带半导体 |
| 相关度评分 | ★★ 2.0 / 5.0 |
| 关键词 | 动态范围 功率检测器 CMOS 开关电容 PN结二极管 线性度 功耗 |
语言:
中文摘要
本文介绍了一种采用65nm CMOS工艺设计的宽动态范围、低功耗、紧凑型功率检测器。针对传统功率检测器受MOSFET非线性限制的问题，本文利用PN结二极管作为开关，有效提升了输入输出的线性度。
English Abstract
This letter presents a wide dynamic range low power consumption power detector with a compact area in a 65-nm complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) process. The maximum detectable power of traditional power detector is limited due to the non-linearity of MOSFETs. This problem is solved by using P-type and N-type doped material (PN) junction diodes as switches that have a linear input-outp...
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SunView 深度解读
该研究聚焦于集成电路层面的功率检测技术，主要应用于射频或微小信号处理领域。对于阳光电源而言，该技术与目前主流的光伏逆变器、储能变流器（PCS）及充电桩的大功率电力电子变换电路关联度较低。但在iSolarCloud智能运维平台涉及的传感器信号采集前端，或未来针对高精度功率监测的微型化芯片设计中，该低功耗、高线性度的检测方案可作为技术储备，用于提升系统内部关键信号的监测精度，降低辅助电源功耗。