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多芯片功率模块封装中中点电感对开关瞬态影响的分析与实验评估

Analysis and Experimental Evaluation of Middle-Point Inductance's Effect on Switching Transients for Multiple-Chip Power Module Package

作者 Fei Yang · Zhiqiang Wang · Zheyu Zhang · Steven L Campbell · Fei Wang
期刊 IEEE Transactions on Power Electronics
出版日期 2019年7月
技术分类 功率器件技术
技术标签 功率模块 IGBT 可靠性分析 宽禁带半导体
相关度评分 ★★★★ 4.0 / 5.0
关键词 中点电感 多芯片功率模块 开关瞬态 频域分析 功率模块封装 寄生电感
语言:

中文摘要

本文分析了多芯片功率模块封装中中点电感对开关瞬态的影响。通过频域分析方法,揭示了中点电感在开关过程中的作用机理,并设计制造了可变电感的专用多芯片功率模块进行实验验证,为优化功率模块封装设计提供了理论依据。

English Abstract

Middle-point inductance ${{\boldsymbol L}_{{\boldsymbol {\text{middle}}}}}$ can be introduced in multiple-chip power module package designs. In this paper, the effect of middle-point inductance on switching transients is analyzed first using a frequency-domain analysis. Then a dedicated multiple-chip power module is fabricated with the capability of varying ${{\boldsymbol L}_{{\boldsymbol {\text{m...
S

SunView 深度解读

该研究聚焦于功率模块内部寄生参数(中点电感)对开关瞬态的影响,对阳光电源的核心产品线具有重要参考价值。在组串式逆变器和PowerTitan/PowerStack储能变流器(PCS)中,随着功率密度的不断提升,多芯片并联封装已成为主流。优化中点电感设计能有效降低开关过程中的电压尖峰和振荡,从而提升IGBT/SiC模块的可靠性,并降低EMI滤波器的设计难度。建议研发团队在下一代高功率密度模块选型及定制化封装设计中,引入该频域分析方法,以优化功率回路布局,提升产品在极端工况下的鲁棒性。