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用于评估GaN开关热应力和关断电压应力的动态导通电阻

RON)表征技术

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中文摘要

GaN功率开关凭借高功率密度、低寄生参数和优异的热处理能力,在高效紧凑型DC/DC变换器中应用广泛。尽管GaN HEMT器件具有出色的沟道导电性,但其动态导通电阻(RON)在工作过程中会发生退化。本文提出了一种动态RON表征技术,旨在评估GaN器件在热应力和关断电压应力下的性能表现,为提升电力电子系统的可靠性提供理论支撑。

English Abstract

GaN power switches provide remarkable performance in terms of power-density, reduced parasitics, and high-thermal handling capability that enable the realization of very efficient and compact dc/dc converters. Despite exhibiting state-of-the-art channel conductivity, GaN high electron mobility transistor (HEMT) devices are affected by the degradation of the dynamic ON-Resistance (RON) at increasin...
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SunView 深度解读

GaN作为宽禁带半导体,是实现阳光电源产品高功率密度化的关键。该技术对于优化户用光伏逆变器及小型化充电桩中的DC/DC变换级设计具有重要参考价值。动态RON的精确表征能有效指导高频开关下的热管理设计,提升PowerStack等储能系统及充电桩功率模块的长期可靠性。建议研发团队关注该表征方法,将其引入功率模块的选型测试流程,以应对高压、高频工况下的性能衰减挑战,进一步提升产品在极端环境下的稳定性。