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半桥电路中增强型氮化镓器件的不稳定性分析与振荡抑制
Instability Analysis and Oscillation Suppression of Enhancement-Mode GaN Devices in Half-Bridge Circuits
| 作者 | Kangping Wang · Xu Yang · Laili Wang · Praveen Jain |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2018年2月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | GaN器件 宽禁带半导体 可靠性分析 功率模块 |
| 相关度评分 | ★★★★ 4.0 / 5.0 |
| 关键词 | 增强型GaN 半桥电路 振荡抑制 寄生参数 死区时间 过电压 EMI 器件可靠性 |
语言:
中文摘要
本文分析了基于增强型氮化镓(GaN)晶体管的半桥电路中的不稳定性问题。这种不稳定性可能导致持续振荡,进而引发过电压、严重的电磁干扰(EMI),甚至导致器件击穿。研究指出,GaN器件在死区时间反向导通时处于饱和区,受寄生参数影响较大。
English Abstract
This paper analyzes the problem of instability in enhancement-mode gallium nitride (GaN) transistors based half-bridge circuits. The instability may cause sustained oscillation, resulting in overvoltage, excessive electromagnetic interference (EMI), and even device breakdown. GaN devices operate in the saturation region when they conduct reversely during the dead time. Under the influence of paras...
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SunView 深度解读
随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化充电桩产品中对高功率密度和高效率的追求,GaN器件的应用日益广泛。本文研究的半桥电路振荡问题是提升系统可靠性的关键。建议研发团队在设计高频功率模块时,重点优化PCB布局以降低寄生参数,并针对GaN器件在死区时间的特性优化驱动电路设计,以抑制振荡并降低EMI,从而提升户用逆变器及充电桩产品的长期运行稳定性。