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储能系统技术 储能系统 GaN器件 三电平 ★ 4.0

用于抑制GaN器件串扰并降低反向导通损耗的三级门极驱动

Three-Level Gate Drive for Crosstalk Suppression of GaN Devices With Low Reverse Conduction Loss

Yishun Yan · Lurenhang Wang · Mingcheng Ma · Xuchong Cai 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年5月

基于氮化镓(GaN)的桥接结构中的串扰问题限制了GaN器件在高电压水平下的高开关速度和高频应用。本文提出了一种三电平栅极驱动方法,用于在开通和关断的两个死区时间内抑制串扰并降低反向导通损耗。电容 - NMOS电路提供了低阻抗的米勒电流路径,以降低正、负串扰电压幅值。通过一个延迟脉冲模块,精确施加负的栅 - 源电压以抑制正串扰电压峰值,并在死区时间内使GaN器件在栅 - 源零电压下关断,从而降低反向导通损耗。负栅 - 源电压的值取决于齐纳二极管,具有灵活可调性。所提出的方法易于控制且成本较低,无需...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项三电平栅极驱动技术针对GaN器件串扰抑制的创新方案具有重要的战略价值。当前,阳光电源在光伏逆变器和储能变流器领域正积极推进高频化、高功率密度的技术演进,而GaN功率器件凭借其优异的开关特性和高频能力,是实现这一目标的关键使能技术。 该技术的核心价值在于有效解决了GaN...

储能系统技术 储能系统 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

沟槽栅功率硅MOSFET体二极管优化反向恢复模型

An Optimized Reverse Recovery Model of Trench Gate Power Si MOSFET Body Diode

Shuaiqing Zhi · Mingcheng Ma · Yanchen Pan · Yishun Yan 等6人 · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2025年9月

沟槽栅功率硅MOSFET(U-MOSFET)在低压低频应用中因高电流密度、低导通电阻、成本效益和可靠性而相对宽禁带器件具有显著优势。然而在逆变器半桥中,U-MOSFET体二极管BD的反向恢复特性和结电容非线性影响反向恢复阶段RRS的漏源电流和电压轨迹,导致高di/dt变化和损耗。RRS中电流和电压轨迹的准确性对评估U-MOSFET开通瞬态至关重要。SPICE模型描述的RRS电流和电压轨迹因对结电容非线性特性关注不足而与实际结果偏离。为解决该问题,提出使用结电容Coss的电容-电压C-V特性描述R...

解读: 该U-MOSFET反向恢复模型研究对阳光电源功率器件选型和建模有重要参考价值。虽然阳光电源主推SiC/GaN宽禁带器件,但在低压大电流应用(如12V/48V储能系统、车载DC-DC变换器)中硅MOSFET仍有成本优势。优化模型通过结电容C-V特性精确描述反向恢复过程,di/dt误差和损耗误差相比SP...

储能系统技术 储能系统 GaN器件 多物理场耦合 ★ 4.0

基于磁耦合闭环控制的GaN HEMT有源栅极驱动器以抑制关断时漏源电压过冲及电磁干扰

A GaN HEMT Active Gate Driver to Combat Turn-Off Drain-Source Voltage Overshoot and EMI Based on Magnetic Coupling Closed-Loop Control

Lurenhang Wang · Yishun Yan · Mingcheng Ma · Xizhi Sun 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年5月

与传统的硅金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(Si MOSFET)相比,氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)具有更快的开关速度。在GaN HEMT的关断过程中,电流的快速下降会导致严重的漏源电压过冲和电磁干扰,这限制了其可靠性和应用场景。为解决这些问题,本文提出了一种基于磁耦合闭环控制(MCCLC)的GaN HEMT有源栅极驱动器。在MCCLC中,布置在功率回路附近的线圈能够在完全电气隔离的条件下,准确地提供功率侧的电流变化率(di/dt)反馈,这比传统方法更可靠。所提出的方法不需...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项基于磁耦合闭环控制的GaN HEMT有源栅极驱动技术具有重要的战略价值。在光伏逆变器和储能变流器等核心产品中,GaN功率器件的应用是实现高功率密度、高效率的关键路径,但关断过程中的电压过冲和EMI问题一直制约着其在大功率场景的可靠应用。 该技术通过磁耦合方式实现di/...