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一种不受键合线老化影响的IGBT结温估计新方法
A Novel Junction Temperature Estimation Method Independent of Bond Wire Degradation for IGBT
Yanyong Yang · Xiaofeng Ding · Pinjia Zhang · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年8月
IGBT结温对电力电子设备的可靠性评估与健康管理至关重要。现有结温监测方法易受键合线老化影响，导致精度下降。本文提出了一种新型IGBT结温估计方法，该方法通过消除键合线退化带来的干扰，实现了更准确的结温监测，提升了功率模块在全生命周期内的运行可靠性。
解读: 结温是影响阳光电源光伏逆变器（如SG系列组串式逆变器）和储能系统（如PowerTitan系列PCS）核心功率模块寿命的关键因素。目前行业普遍面临功率器件在长期运行中因热循环导致的键合线失效问题。该研究提出的抗老化干扰结温估计方法，可直接集成于iSolarCloud智能运维平台或嵌入式控制算法中，实现...
离散封装IGBT键合线老化监测的拐点Vce评估方法
Evaluation of Vce at Inflection Point for Monitoring Bond Wire Degradation in Discrete Packaged IGBTs
Arun Singh · Anup Anurag · Sandeep Anand · IEEE Transactions on Power Electronics · 2017年4月
本文提出了一种在线监测IGBT封装内键合线老化状况的新方案。该方法通过检测导通状态下集电极-发射极电压（Vce）在拐点处的变化来识别键合线退化。相比以往依赖精确老化先验知识的方法，该方案在提升监测准确性与实用性方面具有显著优势，为功率器件的寿命预测提供了新思路。
解读: IGBT是阳光电源组串式逆变器、集中式逆变器及储能PCS的核心功率器件。键合线失效是功率模块最常见的故障模式之一。该研究提出的基于Vce拐点监测的方法，无需复杂的额外传感器，极易集成于iSolarCloud智能运维平台中。建议研发团队将其应用于PowerTitan等大型储能系统及高功率密度逆变器的在...
一种基于开通栅极电压过冲的IGBT模块键合线故障检测新方法
A Novel Bond Wire Fault Detection Method for IGBT Modules Based on Turn-on Gate Voltage Overshoot
Yanyong Yang · Pinjia Zhang · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年7月
键合线脱落是IGBT模块常见的失效模式。本文提出了一种基于IGBT开通栅极电压过冲的键合线故障检测新方法。研究发现，键合线脱落程度会改变栅极电荷回路的杂散电感，进而显著影响开通栅极电压的过冲特性，该方法可有效用于功率模块的健康状态监测。
解读: 该技术对阳光电源的核心产品线至关重要。作为光伏逆变器和PowerTitan/PowerStack储能系统的核心功率器件，IGBT的可靠性直接决定了设备的寿命与运维成本。通过监测栅极电压过冲实现键合线故障的早期预警，可集成至iSolarCloud智能运维平台，实现从“事后维修”向“预测性维护”的转型。...
利用片上结温传感器早期检测IGBT模块键合线老化
Early Detection of Wire Bond Degradation in IGBT Modules Using On-Chip Junction Temperature Sensor
Joonas A. R. Leppänen · Atte L. J. Hoffrén · Tapio F. V. Leppänen · Eeli E. I. Kerttula 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2026年4月
本文提出了一种利用集成片上温度传感器早期检测功率半导体模块（PSM）键合线脱落故障的创新方法。针对键合线老化这一主要失效机制，传统监测方法往往因滞后而无法实现预防性维护。研究通过结合功率循环测试，验证了该方法在提升模块可靠性方面的有效性。
解读: 该技术对阳光电源的核心产品线（组串式/集中式逆变器、PowerTitan/PowerStack储能系统）具有极高的应用价值。IGBT是上述产品的核心功率器件，键合线老化是导致逆变器和PCS现场故障的主要原因之一。通过集成片上温度传感器实现早期故障预警，可显著提升iSolarCloud智能运维平台的预...