找到 4 条结果 · 功率器件技术

排序:
功率器件技术 GaN器件 ★ 5.0

材料创新与界面工程协同优化以缓解高功率氮化镓基蓝光激光二极管中的COD

Synergistic optimization of material innovation and interface engineering for COD mitigation in high-power GaN-based blue laser diodes

Qiangqiang Guo · Shuiqing Li · Heqing Deng · Zhibai Zhong 等7人 · Applied Physics Letters · 2025年8月 · Vol.127

针对高功率GaN基蓝光激光二极管中常见的灾变性光学损伤(COD)问题,本文提出了一种材料创新与界面工程协同优化的策略。通过改进电子阻挡层设计并引入高Al组分渐变层,有效抑制了电子泄漏并提升了空穴注入效率;同时优化p型欧姆接触界面,显著降低了接触电阻与界面缺陷密度。实验结果表明,该协同优化方法大幅提高了器件的COD阈值与可靠性,为高性能激光二极管的开发提供了关键技术路径。

解读: 该研究在GaN器件COD可靠性提升方面的创新对阳光电源的高频化产品布局具有重要参考价值。通过材料与界面优化提升的GaN器件可靠性,可直接应用于新一代SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器的高频DC/DC模块,以及车载OBC等对功率密度要求较高的产品。特别是其提出的界面工程优化方法,有助于提升阳光电源...

功率器件技术 宽禁带半导体 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

宽禁带半导体器件开关振荡综述

A Review of Switching Oscillations of Wide Bandgap Semiconductor Devices

Jian Chen · Xiong Du · Quanming Luo · Xinyue Zhang 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2020年12月

宽禁带(WBG)器件凭借高频、高效及高功率密度优势,成为电力电子转换器的核心。然而,其极低的寄生电容与极快的开关速度导致开关振荡问题突出,易引发电压电流过冲、直通故障及电磁干扰,影响系统稳定性与可靠性。

解读: 随着阳光电源组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统向高功率密度与高频化演进,SiC等宽禁带器件的应用已成必然。开关振荡不仅影响电磁兼容性(EMC),还可能导致功率模块失效,降低系统可靠性。建议研发团队在设计阶段利用该文献的理论基础,优化PCB布局以降低寄生参数,并结合有源门...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 4.0

基于高纯度4H-SiC光导半导体开关的低导通电阻与高峰值电压传输效率研究

Low ON-Resistance and High Peak Voltage Transmission Efficiency Based on High-Purity 4H-SiC Photoconductive Semiconductor Switch

Xun Sun · Longfei Xiao · Chongbiao Luan · Zhuoyun Feng 等11人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年2月

碳化硅(SiC)作为宽禁带半导体,在高性能高压器件领域具有显著优势。本文制备了沟道长度为0.5mm的平面结构4H-SiC光导半导体开关(PCSS),通过线性工作模式验证了其在微波产生及高压功率传输中的可行性与卓越性能,为下一代高功率电子器件提供了技术参考。

解读: 该研究聚焦于4H-SiC材料在高压开关领域的应用,对阳光电源的核心业务具有重要参考价值。随着光伏逆变器和储能PCS向更高电压等级(如1500V及以上)和更高功率密度演进,SiC器件已成为提升系统效率的关键。PCSS技术虽目前多用于脉冲功率领域,但其对SiC材料特性的深度挖掘,有助于阳光电源在下一代高...

功率器件技术 GaN器件 功率模块 可靠性分析 ★ 4.0

半桥电路中GaN器件抑制误触发振荡的RC缓冲电路分析与设计

Analysis and Design of an RC Snubber Circuit to Suppress False Triggering Oscillation for GaN Devices in Half-Bridge Circuits

Jian Chen · Quanming Luo · Jian Huang · Qingqing He 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2020年3月

氮化镓(GaN)器件凭借低导通电阻和寄生参数优势被广泛应用,但易引发误触发振荡,导致过冲及电磁干扰。本文针对半桥电路中的GaN器件,分析了误触发振荡机理,并提出了一种RC缓冲电路设计方案,旨在提升系统运行的稳定性与可靠性。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能产品中对功率密度要求的不断提升,GaN等宽禁带半导体器件的应用成为技术演进的关键。该文献提出的RC缓冲电路设计方法,能有效解决GaN器件在高频开关过程中的寄生振荡问题,直接提升逆变器和DC-DC变换器的电磁兼容性(EMC)与开关可靠性。建议研发团队在下一代高频...