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一种基于温度梯度的IGBT模块潜在缺陷识别方法
A Temperature Gradient-Based Potential Defects Identification Method for IGBT Module
| 作者 | Bing Gao · Fan Yang · Minyou Chen · Li Ran · Irfan Ullah · Shengyou Xu · Philip Mawby |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2017年3月 |
| 技术分类 | 可靠性与测试 |
| 技术标签 | IGBT 功率模块 可靠性分析 故障诊断 热仿真 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | IGBT 模块 温度梯度 热阻 功率损耗 缺陷识别 器件状态评估 可靠性 |
语言:
中文摘要
本文提出了一种基于温度梯度的设备状态评估方法，并以IGBT模块为例进行了研究。研究表明，IGBT模块热阻的增加和功率损耗的增大，会导致温度梯度发生变化，从而可用于识别潜在的性能退化与缺陷。
English Abstract
The paper presents a temperature gradient-based method for device state evaluation, taking the insulated-gated bipolar transistor (IGBT) modules as an example investigation. First, theoretical basis of this method is presented and the results from example calculation on temperature gradient indicate that the increased thermal resistance and power loss of IGBT modules would increase the temperature...
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SunView 深度解读
IGBT是阳光电源光伏逆变器、储能变流器（PCS）及风电变流器的核心功率器件。该方法通过监测温度梯度实现IGBT潜在缺陷的早期识别，对于提升PowerTitan、PowerStack等储能系统及组串式逆变器在严苛环境下的运行可靠性具有重要意义。建议研发团队将其集成至iSolarCloud智能运维平台，通过在线监测热特性参数，实现从“事后维修”向“预测性维护”的转型，有效降低设备故障率，延长产品全生命周期寿命。