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一种用于EMI分析的多芯片功率模块寄生电容高效提取方法
An Efficient Capacitance Extraction Method for Multichip Power Modules for EMI Analysis
| 作者 | Jaewon Rhee · Sanguk Lee · Seungmin Ha · Changmin Lee · Seongho Woo · Yujun Shin · Hongseok Kim · Jiseong Kim · Seungyoung Ahn |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2026年3月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | 功率模块 可靠性分析 有限元仿真 |
| 相关度评分 | ★★★★ 4.0 / 5.0 |
| 关键词 | 多芯片功率模块 寄生电容 EMI分析 电力电子 开关系统 车载逆变器 参数提取 |
语言:
中文摘要
本文针对多芯片功率模块（MCPMs）提出了一种高效的寄生电容提取方法。在汽车逆变器等高频开关应用中，准确提取寄生参数对电磁干扰（EMI）分析至关重要。该方法特别适用于集成了多个半桥单元的多桥MCPM结构，旨在解决复杂模块内部寄生参数表征的难题，从而提升电力电子系统的可靠性与EMI设计水平。
English Abstract
Extracting parasitic capacitances in multichip power modules (MCPMs) is essential for reliable electromagnetic interference (EMI) analysis, especially in switching systems such as automotive inverters or converters. Such applications increasingly employ multibridge MCPMs—where multiple half-bridge cells are integrated and each bridge drives a different motor or load— making the characterization of...
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SunView 深度解读
该研究对阳光电源的功率器件选型与模块化设计具有重要参考价值。在阳光电源的组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能变流器（PCS）中，高功率密度设计往往伴随着复杂的电磁兼容挑战。通过该方法精确提取多芯片功率模块的寄生电容，可优化PCB布局与驱动电路设计，有效抑制高频开关过程中的EMI噪声，提升产品电磁兼容性能。同时，该技术有助于在研发阶段通过仿真手段预测EMI表现，缩短产品开发周期，提升系统在高压、高频工况下的可靠性。